Патенты с меткой «дефектоскопии»
Способ дефектоскопии металлических изделий при их поверхностной обработке
Номер патента: 1803841
Опубликовано: 23.03.1993
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектоскопии, металлических, обработке, поверхностной
...Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 обработку без упрочнения и вскрытия подповерхностных дефектов.П р и м е р. Контролировали качество наплавки шеек коленчатого вала двигателя ЗМЗпроволокой НпЗОХГСА при одновременном термоупрочнении поверхностей шеек. Перед лазерным термоупрочнением (после шлифования) визуальный контроль позволил установить ряд дефектов на поверхностях первых трех коренных шеек. В соответствии с требованиями на приемку вала из ремонта, качество поверхности удовлетворительное, и вал может быть направлен на сборку двигателя в таком состоянии,После лазерной термообработки...
Устройство для электромагнитной дефектоскопии
Номер патента: 1803849
Опубликовано: 23.03.1993
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскопии, электромагнитной
...катушки 6 - 10 перемещаются приводом параллельно плоскому рабочему участку токопровода 1, При этом магнитная связь между токопроводом 1 и перемещаемой вдоль него измерительной катушкой изменяется незначительно за счет радиальных биений вала электродвигателя 11 и эксцентриситета между траекторией перемещения катушек и сектора 2. Для подавления неинформативной составляющей напряжения, вносимого в измерительные катушки б - 10, они выполняются в виде вложенных друг в друга дифференциально включенных секций, число витков в которых выбирается из условия балансировки измерительных катушек 6 - 10 в равномерном магнитном поле. Это позволяет одновременно подавлять и влияние магнитных полей, линейно изменяющихся в объеме катушек...
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1809377
Опубликовано: 15.04.1993
Авторы: Грецкий, Кононенко, Синица, Шарова
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
...соединения с неп 0,5 мм, величиной 10 го металла, Толщина с 18 мм, материал - сталВырезают две пла мерами 350 х 180 х 18 мм, поверхность широ из граней узкой пласти обходимо изготовить нахлесточного сварроваром раскрытием от толщины основновариваемых пластин ь 3, катет шва 18 мм. стины из стали 3 раэмм и 175 х 180 х 18 кой пластины и одна ны шлифуются, затемиз сварного шва, специально сваренного нахлесточного соединения, вырезается прямая трехгранная призма с катетом 18 мм, длиной 180 мм, просвечивают призму рентгеновскими лучами на предмет выявления в ней внутренних дефектов. Если результаты просвечивания позволяют сделать заключение об отсутствии дефектов, то грани призмы шлифуют и со стороны прямого двухгранного угла перпендикулярно...
Стандартный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1810805
Опубликовано: 23.04.1993
Авторы: Газизова, Косовский, Шелихов
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопии, магнитной, образец, стандартный
...количество вставок должно соответствовать количеству отверстий. Верхняя часть каждой вставки длиной 7 мм, содержащая прорези, выполняется диаметром, равным 10,15 мм, остальная часть вставки 2 имеет диаметр меньше диаметра отверстий основы. В верхней части вставки диаметром 10, 15 мм электроэрозионным способом выполняются две взаимно перпендикулярные прорези одинаковой ширины 0,2 мм и глубиной 10 мм. Вставки запрессовываются заподлицо в круглые отверстия оси и дисков. При этом прорези должны быть ориентированы по направлению ожидаемых характерных дефектов на данном участке образца или при необходимости выявления дефектов различной ориентации щели должны быть расположены перпендикулярно предполагаемым направлениям намагничивания...
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 1633803
Опубликовано: 23.04.1993
Авторы: Бедрик, Малкес, Месаутова, Минакова, Скрипкина, Суров
МПК: C09K 11/06
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
...контролируют осмотром поверхности деталей в Уф-лучах (поверхность ие должна лююиесщгровать) . Летали протирают салфетками из бяэи.или сушат сухим сжатым воздухом, а затеи пульверизаггией йггггосят проявитель П 1 ф(ТУ 6" 09-1092-84). Через 20-30 мии детали осматривают в Уф-лучах, обиаруживая места дефектов по их яркому зеленова. то-желтому свечегпгю иа теином Фоне коитролируемой поверхности.В качестве этвлоиоя примеияли метвллическгге пластинки с классом обра ботхи Ч 5 и иормироваиньвя дефектами.П р и и е р 8 (по прототил).Пенетраггт содержит, мас.й:2-Кетил 4"дистирилбеизол (или 2,5-диме- . 30тил"1,4-дистирилбеиэол) 0,61,8-Нвфтоилен,2 бенэггмидаэол 0,6Смачиватель (полиэтилеигликолевые эФиры моно- .этвгголамидов сиитети"ческих змриых...
Устройство для дефектоскопии
Номер патента: 1812484
Опубликовано: 30.04.1993
Авторы: Жежеря, Коршаковский, Красненьков, Матусевич, Соловьев
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскопии
...лопаток турбин и компрессоров.Целью изобретения является повышение точности контроля лопаток турбин в процессе эксплуатации.На чертеже представлена схема устройства для дефектоскопии.Устройство содержит постоянный магнит 1,.создающий магнитное поле с силовыми линиями 2. Магнит ориентирован полюсом к корпусу турбины 9, Турбина содержит вращающийся рогор 4 с лопатками .5. В вал 6 ротора помещен, дополнительный стержнеобразный постоянный магнит 7 с конусообразными полюсами, ориентированными внутрь вала соосно с ним.Магнит 7 имеет угол наклона образующей полюса его относительно плоскости1812484 ставитель В, Соловьхред М. Моргентал дактор орректор Л, Филь Заказ 1573 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и...
Способ ультразвуковой дефектоскопии
Номер патента: 1818581
Опубликовано: 30.05.1993
Авторы: Агузумцян, Карапетьян, Крюков
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопии, ультразвуковой
...принятых ультразвуковых в значения контролируемого информативного параметра - отношения значений амплитуды и времени распространения - в соответствии с установленной для эталонных образцов контролируемого материала постоянной толщины зависимости между значениями контролируемого параметра и скорости ультразвуковых колебаний. Пересчитанное значение контролируемого информативного параметра поступает на первый вход анализирующего блока 10. Со второго выхода усилителя 6 усиленный сигнал поступает в блок 9 измерения контролируемого информативного параметра ультразвуковых колебаний, с выхода которого измеренное значение контролируемого информативного параметра ультразвуковых колебаний поступает на второй вход анализирующего блока 10. После...
Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопии
Номер патента: 1820311
Опубликовано: 07.06.1993
Авторы: Ваулин, Рыбалко, Сурков
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопии, контрольного, образца
...деформации при непрерывном фиксировании. длины растущей. трещины на боковой поверхности образца с45 помощью стереомикроскопа МБСс точ. ностью 0,05 мм для получения набора контрольных образцов с длиной трещин от 3до 8 мм.При этом необходимо отметить, что об 50 разование усталостной трещины осуществлялось при амплитудном значениикоэффициента интенсивности напряжений23-25 МПа Л 7(это значение лежит в пределах линейного участка кинетической диаг 55 раммы усталостного разрушения стали. данной марки Х) и коэффициента асимметрии цикла 0,1, т.е, режимы нагружениясоответствуют предлагаемому способу, Кроме того. оценивалась идентичность искусственных трещин и эксплуатационных1820311 Таблица 1 Глубина трещины, прямое измеение, мм Глубина...
Комплект индикаторных материалов для капиллярной дефектоскопии
Номер патента: 1824557
Опубликовано: 30.06.1993
Авторы: Бакова, Наумов, Хаврошкина
МПК: G01N 21/91, G01N 3/20
Метки: дефектоскопии, индикаторных, капиллярной, комплект
...по комплекту(см, табл,1),Приготовление составов осуществляли следующим образом,Пенетрант - соответствующие рецепту навески пергидроля, ацетона и синтанола растворяли в воде.Проявитель - навеску растворимого крахмала помещали в 1/5 обьема воды, полученную смесь добавляли при перемешивании в кипящую воду; коллоидный раствор крахмала охлаждали, добавляли в него соответствующие рецепту навески йодистого калия, глицерина, кукурузного крахмала, двуокиси титана и тщательно перемешивали до получения однородной суспенэии,Контроль поверхностной несплошности осуществляли на контрольных образцах, приготовленных иэ алюминиевого сплава и100 нержавеющей стали с аэотированным слоем, имеющих поверхностные дефекты в виде трещин, пор и непроваров...
Устройство для дефектоскопии трубопроводов большого диаметра
Номер патента: 1128782
Опубликовано: 07.07.1993
МПК: G01N 9/26
Метки: большого, дефектоскопии, диаметра, трубопроводов
...преобразова"Г( .1 Я,ВКОЕ ЯЫгОЛНЕНИЕ УстРОйСтаа ВЕДЕТ0С(ИНган 1 КВЧЕС, ГВВ КОНТРОЛЯ В ЗатЕСПенныхр;диальОм 1 ацргзв 53 ени 1мес (х 11 сл 3(е 1 лю наде 1ост устрой(Г:"1 В сг)ю . з збрете ИЯ Является повьше ОВГНОС 11 КГ)1 ГРг)Я(; С: .г1 Вг) ДГ 1 Я 1 ф; К ( (.СКОГ 1 И ГРп 1)г,пп зппов Гзь 0)ч Яи)мг тра сг)рнаце разь м )ую кгльцевую наг;равляю;) ( 1(,1 РН,1 ЫЕ; г) 11 Й ро)1 КГ)13 уЮ Ка" рот к; с г ".: "; р,)зов 3-;11 де(ьектоск- Ц, Рг .14 КН ГОР; Ь:.:.,МОД;.",Ст Ут (.3(10 а влявейл чеха 11 изм ВГ)емценикаре к,л и кагбе 5 ь, снгг)е 0 уста 40 в Е)1 Ы На ОДНОМ КОНЦЕ КВРЕГКИ КРОНШ . (Мо(л и шзрн(ирдо закрепленными нанем г)од(3)у)(1(лнеными относительно на а В;353"Цвй ВЗ)ИМОДВ 1 СТВУЮЦИМИ С К " 1 елм скобами 3) - образ,ьм лов" телемьп каГ...
Устройство для вихретоковой дефектоскопии вращающихся объектов
Номер патента: 1832192
Опубликовано: 07.08.1993
Авторы: Жежеря, Жулев, Лебедев, Роменский, Румянцев, Суслов
МПК: G01N 27/90
Метки: вихретоковой, вращающихся, дефектоскопии, объектов
...впрессованного в тело турбины) и представляют собой периодическую последовательность двухполярных импульсов (фиг.2,г), амплитуда которых пропорциональна частоте вращения обьекта. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 С датчиков 2 и 12 сигналы по кабелям с двойным экранированием поступают на предварительные усилители 3 и 13, которые обеспечивают их необходимое усиление по напряжению,Для повышения помехоустойчивости необходимо выбрать усилители 3 и 13 с как можно более высоким коэффициентом ослабления синфазного сигнала. Кроме того, в рабочий канал 1 введен полосовой фильтр 4, позволяющий подавить как низкочастотные, так и импульсные помехи, Полосовой фильтр выполнен в виде последовательного соединения фильтров высокой и низкой частот,Усиленные...
Намагничивающее устройство для дефектоскопии труб
Номер патента: 1833815
Опубликовано: 15.08.1993
Авторы: Бологов, Пермитин, Похвальной, Темрюх
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, намагничивающее, труб
...на перекладину 17, которая перемещается и сближает концы 16 рычажных звеньев 11, при этом рычажные звенья 11 поворачиваются в шарнирах 12, а концы 14 удаляются от магнитопровода 1 и отводят в противоположные стороны зажимающие элементы 15 в отверстиях 26. При воздействии перекладины 17 на рычажные звенья 11 и при повороте звеньев 11, расположенная между ними пружина 23 сжимается, палец 24 перемещается во втулке 25. Зажимающие элементы 15 перемещаются и выходят из соприкосновения с электродами 7, в результате чего снижается усилие, фиксирующее электроды 7 в отверстии 8, а пластины электродов занимают в отверстии 8 свободные положения, при этом одновременно с электромагнитами 22 срабатывают накимнве узлы 27. Рабочие концы 31 пружины...
Способ дефектоскопии
Номер патента: 1837221
Опубликовано: 30.08.1993
Авторы: Жежеря, Коршаковский, Красненьков, Матусевич, Соловьев
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскопии
...для дефектоскопии лопаток турбин. Эта дефектоскопия осуществляется по сигналам магнитных головок - записывающей и воспроизводящей на магнитный носитель информации, расположенный на вале турбины, На записывающую головку сигнал поступает с индукционного датчика, взаимодействующего с лопатками турбин. 1 ил. Дефектоскоп содержит постоянный магнит 1, охватывающую его сигнальную обмотку 2, стирающую 3, записывающую 4 и воспроизводящую 5 магнитные головки, а взаимодействующие с магнитным носите лем 6 информации, расположенным на валу 7 турбины с лопатками 8, схему 9 сравнения сигналов и регистрирующий прибор 10,. Сущность способа заключается в следующем,1 ЯПри вращении лопаток 8 в поле магнита 1 сигналы с обмотки 2 соответствуют вихре-...
Индикатор магнитных полей для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 2002250
Опубликовано: 30.10.1993
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, индикатор, магнитной, магнитных, полей
...предварительной ее механической обработки магнигопорошковые метод контроля с использованием монолитных частицпорошка неэффективен. так как скоплениечастиц порошка затруднено. Если изделиенаходится под слоем жидкости, особенно втом случае, когда жидкость имеет малуюпрозрачность, то это препятствует наблюдению скоплений порошка в местах дефектов сплошности,Решение поставленной задачи позволит расширить область использования индикаторов магнитных полей за счет появления возможности контроля изделий с грубой поверхностью, а также изделий, находящихся под слоем жидкости.Сущность изобретения состоит в том, что в индикаторе магнитных полей для магнитной дефектоскопии, представляющем собой частицы магнитного порошка, в нем...
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 2002251
Опубликовано: 30.10.1993
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
...3 с переменнимости изготовленичества мак изтогожеПри необход няющимся попроверк "ач - бой заготовкУ"(фазца с изм й выи едстав олируем контрляющий соое изделие ОЛЬНОГО О Рм фиг . 3 последнииР что и контрия, имитибине дефекто ( бины от Ь 1 дпг,материала,и,ают отвер глу ин м,нной глу ин вцсотаором просверли10 полнен перем го металла,которующие дефе ного образцекты а в тОМ 1 Ина ОснОВНОГказа ннных ь, - толщНедос 1 аток у Онтроля свар силения шв, Н бходимо иза.готовитья кон не пригод " ствует Усилени П р и м е Р ния из стале У1,и З.стак как отсутс " шое влия. варного соединен, имею.соединений.,т в ющее большобРаэец н и металлаго шва, оказцва т оля.иной основн - 10 от толщинсварно льность контрущ 1 толщ л биноииринойние на чувствителим...
Устройство для контроля дефектов на внутренних поверхностях полых изделий с переменным диаметром при цветной дефектоскопии
Номер патента: 1336674
Опубликовано: 15.11.1993
Авторы: Голованов, Фатеев, Шишанов
МПК: G01J 1/04
Метки: внутренних, дефектов, дефектоскопии, диаметром, переменным, поверхностях, полых, цветной
...5 пиноли, соосно с ней, Оси 18 и 19 смещены относительно оси 21 пиноли. Оправа 22 зеркала 20 снабжена зубчатым венцом 23, кинематически связанным с зубчатым колесом 17 через блок-шестерни 24 с передаточным отношением, в два раза большим, чем передаточное отношение конической зубчатой передачи 8 и 9 привода поворота рычага 7, На рычаге 7 установлен рабочий инструмент 6, который может быть краскораспылителем, зачисгным устройством, светильником, электровоздухонагревателем,обрабатывающими иэделие 25. Шарнирнаяопора 1 установлена в корпусе защитной5 кабины 26, а рабочие части 4 и 5 пинолиснабжены приводом 27 относительно их перемещения.Устройство работает следующим образом.10 Устройство вводят при помощи кабины26 в изделие 25 типа...
Устройство для радиационной дефектоскопии
Номер патента: 993719
Опубликовано: 15.12.1993
Авторы: Бессуднов, Голованов, Гускина, Перекладова, Фатеев
МПК: G01N 23/18
Метки: дефектоскопии, радиационной
...не показаны), находящимися в зацеплении с рейками, нарезанными на штоках пневмоцилиндров (начертежах не показано). На боковых внутренних стенках кассетодержателя на осях посажены вертушки 21 и установлены 15направляющие 22 и 23. Между магазиномдля хранения кассет и кассетодержателемустановлена верхняя поворотная защитнаязаслонка 24, на одном из валиков которойжестко укреплена шестерня 25, зацепляющаяся с рейкой, нарезанной на штоке 26пневмоцилиндра 27. Между кассетодержателем и магазином для хранения экспонированных кассет установлена такжеповоротная защитная заслонка 28, по конструкции аналогичная верхней.Штатив имеет две подвижные штанги29 с винтовой нарезкой, две гайки-шестерни 30, зубчатый редуктор 31 с электродвигателем 32 и...
Способ радиационной дефектоскопии
Номер патента: 650427
Опубликовано: 15.02.1994
МПК: G01N 23/04
Метки: дефектоскопии, радиационной
СПОСОБ РАДИАЦИОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ, по которому контролируемую деталь облучают источником излучения и регистрируют ее теневое изображение на экране преобразователя, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности, между источником излучения и экраном преобразователя помещают маску с прорезями, соответствующими по размерам ожидаемым дефектам, причем толщину маски выбирают из условия, чтобы контраст ее теневого изображения был не выше порога контрастной чувствительности преобразователя, а контраст суммарного теневого изображения маски и ожидаемого дефекта был выше порога контрастной чквствительности преобразователя.
Проявитель для капиллярной дефектоскопии
Номер патента: 1623423
Опубликовано: 15.03.1994
Авторы: Власенко, Горбачев, Шевчук
МПК: G01N 31/22
Метки: дефектоскопии, капиллярной, проявитель
...выявляют дефекты, Минимальные размеры определяемых трещин с раскрытием до 1 мкм. Предложенный проявитель пожаробезопасен.П р и м е р 2, На исследуемый образец наносят пенетрант, состоящий иэ диантипирил (4-диметиламинофенил)карбонита азотнокислого (1,7 ф), натрия аэотнокислого (0,5) вещества вспомогательного ОПили ОП(0,1) и воды дистиллированной - остальное. Выдерживают 10 мин, после чего избыток удаляют очистителем, Затем наносят проявитель, содержащий адсорбент состава, мас.оь; цеолит 1 ЧаХ 30; цеолит МаА 2; каолин 68. и носитель состава, об,; перфтордекалин 20; фреон 113 80 при соотношении адсорбент носитель 200 г:1000 см носителя, т.е. 20 вес.; адсорбента.Далее выявляют дефекты. Минималь 5 ные размеры определяемых трещин...
Способ плотностной дефектоскопии твердых материалов
Номер патента: 1771275
Опубликовано: 20.01.1995
МПК: G01N 9/24
Метки: дефектоскопии, плотностной, твердых
СПОСОБ ПЛОТНОСТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ, включающий измерение интенсивности излучения с энергией в диапазоне 1,0-2,0 МэВ, прошедшего через образец при его размещении на пути коллимированного пучка гамма-квантов, а также при отсутствии образца в этом пучке, отличающийся тем, что, с целью повышения точности локализации плотностных дефектов в образцах твердых материалов неправильной геометрической формы, конфигурация поверхности которых не позволяет определить толщину образца в месте просвечивания путем ее непосредственных измерений, образец перед измерениями размещают в кювету и производят дополнительное измерение интенсивности излучения после заполнения кюветы с размещенным в ней образцом жидкостью или сыпучим мелкодисперсным...
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 689408
Опубликовано: 10.01.1997
Авторы: Денель, Кондратенко, Красовицкий, Малкес, Месаутова, Переяслова, Скрипкина, Сукиасова, Ягупольский
МПК: G01N 21/63
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, включающий смесь органического растворителя, смачивателя и люминофора, отличающийся тем, что, с целью повышения интенсивности люминесценции в тонком слое, он содержит в качестве люминофора 1,5-дифенил-3- (п-дифторметилсульфонилфенил)-пиразолин- 2, в качестве органического растворителя смесь дикумилметана, керосина, диметилфталата и в качестве смачивателя смесь содержит полиоксиэтилированный моноэтаноламид синтетических жирных кислот фракции С10 С16 при следующем соотношении компонентов, мас.1,5-Дифенил-3-(п-дифторметилсульфонил)-пиразолин-
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 1034394
Опубликовано: 20.01.1997
Авторы: Белялов, Голодаева, Денель, Корсунов, Малкес, Месаутова, Мордсон, Сукиасова
МПК: C09K 11/06, G01N 21/91
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, включающий люминофор и керосин, отличающийся тем, что, с целью повышения интенсивности люминесценции и выявляющей способности, а также обеспечения более полного удаления пенетранта с контролируемой поверхности, он в качестве люминофора содержит фенилимид 4-аминонафталевой кислоты и 4-метил-7-диэтиламинокумарин и дополнительно содержит смачиватель смесь полиэтиленгликолевых эфиров моно- и диалкилфенилов, N метилпирролидон и дибутилфталат при следующем соотношении компонентов, мас.Фенилимид 4-аминонафталевой кислоты 0,6 0,74-Метил-7-диэтиламинокумарин 0,2 0,4Указанный смачиватель 4,4 5,0N-метилпирролидон 46 50Керосин 7,0 8,0Дибутилфталат Остальноет
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии металлических изделий
Номер патента: 1221891
Опубликовано: 20.01.1997
Авторы: Бочаров, Дистанов, Малкес, Месаутова, Сукиасова, Фролов, Шевченко
МПК: C09K 11/06
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, металлических, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии металлических изделий, включающий 4-метил-7-диэтиламинокумарин, N-метил-пирролидон, керосин, дибутилфталат, люминофор-акцептор и смачиватель, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности метода и надежности выявления дефектов, он содержит в качестве люминофора-акцептора N-метоксипропилимид 4-метоксипропиламинонафталевой кислоты, а в качестве смачивателя смесь моноалкилфениловых эфиров полиэтиленгликоля С8 С10, при следующем соотношении ингредиентов, мас.N-Метоксипропилимид 4-метоксипропиламинонафталевой кислоты 1,5 2,04-Метил-7-диэтиламинокумарин 0,3 0,8Смесь моноалкилфениловых эфиров полиэтиленгликоля С8 -...
Магнитно-люминесцентный порошок для дефектоскопии
Номер патента: 772198
Опубликовано: 20.01.1997
Авторы: Иванова, Король, Лисицын, Малкес, Сердечная, Сукиасова, Шеховцова
МПК: C09K 11/06, G01N 21/88
Метки: дефектоскопии, магнитно-люминесцентный, порошок
Магнитно-люминесцентный порошок для дефектоскопии, включающий люминофор1,8-нафтоилен-11, 21-бензимидазол, связующее - полиметилметакрилат и магнитный порошок, отличающийся тем, что, с целью повышения интенсивности люминесценции и выявляющей способности, в качестве магнитного порошка он содержит никель-цинковый феррит при следующем соотношении ингредиентов, мас.1,8-Нафтоилен-11,21-бензимидазол 8 10Никель-цинковый феррит 88,5 91,0Полиметилметакрилат Остальное
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 1124576
Опубликовано: 20.01.1997
Авторы: Голодаева, Денель, Малкес, Николайчук, Сукиасова
МПК: C09K 11/06
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, включающий люминофоры N-фенилимид 4-аминонафталевой кислоты и 4-метил-7-диэтиламинокумарин, смачиватель-моноалкилфениловый эфир полиэтиленгликоля и растворитель N-метилпирролидон, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и надежности выявления дефектов с раскрытием 1 мкм на контролируемых металлических изделиях, снижения пожароопасности пенетранта и повышения степени его водосмываемости с контролируемой поверхности, он дополнительно содержит моноалкиловый эфир полиэтилен гликоля и трибутиловый эфир фосфорной кислоты при следующем соотношении ингредиентов, мас.N-Фенилимид 4-аминонафталевой кислоты 0,8 0,94-Метил-7-диэтиламинокумарин 0,2 0,3Моноалкилфениловый эфир...
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 1248263
Опубликовано: 27.08.1997
Авторы: Бабаев, Белялов, Денель, Малкес, Мамедов, Мордсон, Сукиасова
МПК: C09K 11/06
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, включающий 1,8-нафтоилен-1', 2'-бензимидазол, смачиватель и органический растворитель, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и надежности выявления дефектов с раскрытием менее 1 мкм на контролируемых металлических изделиях, в качестве смачивателя он содержит полиэтиленгликолевые эфиры первичных жирных спиртов фракции С10 С18, в качестве растворителя бензилбензоат и дополнительно содержит жидкий парафин - смесь алканов фракции С9-Н22 при следующем соотношении компонентов, мас.1,8-Нафтоилен-1',2'-бензимидазол 1,1 1,8Полиэтиленгликолевые эфиры первичных жирных спиртов фракции С10...
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 1091540
Опубликовано: 27.08.1997
Авторы: Белялов, Голодаева, Денель, Дюмаев, Красовицкий, Малкес, Месаутова, Слезко, Сукиасова
МПК: C09K 11/06
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, содержащий люминофор-1,8-нафтоилен-1', 2'-бензимидазол, растворитель керосин и смачиватель, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности пенетранта при выявлении на контролируемых металлических изделиях дефектов с раскрытием 0,5 мкм и снижения токсичности, в качестве смачивателя он содержит моноалкилфениловый эфир полиэтиленгликоля и дополнительно в качестве растворителя 2(3),5(6)-дибензилтолуол при следующем соотношении ингредиентов, мас.1,8-Нафтоилен-1',2'- бензимидазол 0,7 0,8Моноалкилфениловый эфир полиэтиленгликоля 4,5 5,52(3),5(6)-Дибензилтолуол 69 74Керосин Остальноео
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 1767867
Опубликовано: 27.08.1997
Авторы: Бедрик, Белялов, Малкес, Месаутова, Минакова
МПК: C09K 11/06
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, включающий люминесцирующее соединение, смачиватель полиэтиленгликолевые эфиры синтетических жирных спиртов фракции С10 С18, органические растворители жидкий парафин и бензилбензоат, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности состава к микродефектам раскрытием менее 1 мкм, он в качестве люминесцирующего соединения содержит люминофор-донор - 3-фенил-5,6-бензокумарин и люминофор-акцептор N-фенил-п-бутилимид-4-диметиламинонафталевой кислоты при следующем соотношении компонентов, мас.3-Фенил-5,6-бензокумарин 1,8 2,0N-Фенил-п-бутилимид 4-диметиламинонафталевой кислоты 1,0 1,2Полиэтиленгликолевые эфиры синтетических жирных спиртов фракции...
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 784320
Опубликовано: 27.08.1997
Авторы: Бороненко, Красовицкий, Малкес, Переяслова, Скрипкина, Сукиасова
МПК: C09K 11/06, G01N 21/91
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, включающий люминофор-акцептор, люминофор-донор 2-метил-1,4-дистирилбензол, смачиватель - синтамид и органические растворители дикумилметан, керосин и диметилфталат, отличающийся тем, что он в качестве люминофора-акцептора содержит 1,5-дифенил-3-(4-дифторметилсульфонилфенил)-пиразолин- 2 при следующем соотношении компонентов, мас.2-Метил-1,4-дистирилбензол 0,7 1,01,5-Дифенил-3-(4-дифторметилсульфонилфенил)-пиразолин- 2 0,6 0,9Синтамид 3,2 3,5Дикумилметан 33,4 36,1Керосин 14 20Диметилфталат До 100и
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии
Номер патента: 1241702
Опубликовано: 27.08.1997
Авторы: Ахметжанов, Белялов, Денель, Малкес, Месаутова, Старикова, Сукиасова
МПК: C09K 11/06, G01N 21/91
Метки: дефектоскопии, люминесцентной, пенетрант
Пенетрант для люминесцентной дефектоскопии, включающий люминофор-акцептор и люминофор-донор 4-метил-7-диэтиламинокумарин, гидрофильный смачиватель моноалкилфениловый эфир полиэтиленгликоля фракции С8 С10, липофильный смачиватель и растворитель, отличающийся тем, что, с целью повышения интенсивности, снижения токсичности и улучшения водосмываемости, пенетрант в качестве люминофора-акцептора содержит N-метоксипропилимид 4-метоксипропиламинофталевой кислоты, в качестве растворителя - дистиллированную воду и N-метилпирролидон при следующем соотношении компонентов, мас.N-Метоксипропилимид 4-метоксипропиламинонафталевой кислоты 1,5 2,04-Метил-7-диэтиламинокумарин 0,3 0,7Моноалкилфениловый эфир...