Патенты с меткой «плотностной»

Номер патента: 1771275

Опубликовано: 20.01.1995

Авторы: Вишняков, Осипов

МПК: G01N 9/24

Метки: дефектоскопии, плотностной, твердых

СПОСОБ ПЛОТНОСТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ, включающий измерение интенсивности излучения с энергией в диапазоне 1,0-2,0 МэВ, прошедшего через образец при его размещении на пути коллимированного пучка гамма-квантов, а также при отсутствии образца в этом пучке, отличающийся тем, что, с целью повышения точности локализации плотностных дефектов в образцах твердых материалов неправильной геометрической формы, конфигурация поверхности которых не позволяет определить толщину образца в месте просвечивания путем ее непосредственных измерений, образец перед измерениями размещают в кювету и производят дополнительное измерение интенсивности излучения после заполнения кюветы с размещенным в ней образцом жидкостью или сыпучим мелкодисперсным...