Патенты с меткой «дефектоскопии»

Номер патента: 1247648

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Бахтин, Зускович, Корнеев, Королев-Коротков, Кудрин, Полухин, Ренне

МПК: G01B 9/025

Метки: голографической, дефектоскопии, слоистых

...частоты вращения объекта, производит малые смещения поверхности в местах отсутствия соединения (0,05 мкм и вьппе), а эти смещения мо" гут быть определены по всему полю исследуемого объекта с помощью голо" графической интерферометрии. Другие методы измерения малых смещений или не позволяют определить смещения по всему полю поверхности объекта или сложны в использовании. Кроме того, в большинстве своем эти методы требуют непосредственного контакта с поверхностью объекта, что может мешать обнаружению аномальных смещений.Голографическая интерферометрия наиболее удобна для измерения малых смещений по всему полю объекта, а в совокупности с изменением частоты вращения объекта вокруг оси параллельной плоскости регистрации голограммы...

Номер патента: 1257481

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Власкина, Чернышев

МПК: G01N 21/91

Метки: дефектоскопии, люминесцентной, раствор

...способом, на поверхность деталинаносят проявитель, например мел,тальк, окись магния, окись алюминия, способствующий извлечению, проникающей жидкости из полостей дефектов и образованию индикаторного рисунка, После. проведения контроля пенетрант полностью удаляют промывкойв воде. 1При содержании лактат 2-этокси,9диаминоакридина ниже 0,1 г/л све- .тимость дефектов недостаточна и выявление дефектов неустойчиво, 5 При увеличении количества индикатора выявление дефектов улучшается, однако повышение его концентрации в проникающей жидкости более 10 0,5 г/л не приводит к заметномуувеличению светимости дефектов, приэтом световой контраст ухудшаетсяиз-эа увеличения фоновой светимости.Для получения пенетранта готовили 15 7 смесей.Составы смесей...

Номер патента: 1260780

Опубликовано: 30.09.1986

Автор: Томилин

МПК: G01N 21/91

Метки: дефектоскопии, оптических, поверхностей

...цветовой контраст визображении областей локальной деформации жидкого кристалла, а при увеличении слоя ЖК интерференция простонереализуется,Размеры деформированных областейЖК за счет его вязко-упругих свойств 40значительно больше размеров самихдефектов, что также повышает вероятвОсть их обнаружения.Слой ЖК снимается с контролируемойповерхности с помощью растворителей 45(ацетона, гептана и др.), которые ненарушают состояния самой поверхности.Поэтому предлагаемый способ относитсяк методам неразрушающего-контроля.Размеры выявляемых дефектов находятсяв зависимости от толщины нанесенногослоя ЖК, Чем тоньше слой ЖК, темменьше размеров дефектов, которыеудается визуализировать. Чем толще слой ЖК, тем больше возникают искажения и тем больше...

Номер патента: 1260835

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Асташонок, Михайлова, Пепеляев, Редько, Суменкова, Хандецкий

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковой, дефектоскопии, слабопроводящих

...соединенных ключа 39, подключенного к выходу триггера 29 и коммутатора 40, и регистратор 41. Устройство работает следующим образом, 55 Устройство рля вихретоковой дефектоскопии слабопроводящих материалов, содержащее рабочий и измерительный каналы, каждый из которых содержит соединенные последовательно кварцованный генератор, двухконтурную ре 1 ри сканиронании поверхности образца (не показан) изменяются комплексные сопротивления двухконтурных резонансных систем 5 и 6, изме няя тем самым амплитуды гармонических напряжений на входах амплитудных детекторов 7 и 8. Сигналы детектируются, усиливаются усилителями 9и 10 тока и поступают на инвертирую О щие входы дифференциальных усилителей 11 и 12, на неинвертирующие входы которых...

Номер патента: 1262354

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Балбашов, Демин, Покровский, Хвостов

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопии, ферромагнитных, электропроводящих

...(це показан). Сигнал преобразователя регистрируется с помощью блока 3 обработки сигнала и индикации. Магнитооптический преобразователь 5, В который входит магнитная пленка с уцрзвлясмой доменной структурой, размещен Вблизи поверхности обьекта контроля. Гомена 5 структура этой пленки определяется мзп:.итной проницаемостью материала объекта контроля. В зависимости от дефектов и мзпггной проницаемости материала мсняегся яркость. Информация о яркости может псрсдавз Гься с помощью световода к фотознзлиззтору, который измеряет яркостьВ 51:вГмО с зсличиной магнитной прониизехсси. С помоць 0 блока 7 Годмз ичиВзция со;зют пслс смец 1 сния доменВ В ма "0011 Ивеком преобразователе и рсхси;,;От срог чстеитс.ЬГости прео)разо 5 зтс.51, з также...

Номер патента: 1265585

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Касимов, Шкатов

МПК: G01N 27/90

Метки: включениями, дефектоскопии, объектов, ферромагнитными, электромагнитной

...используя катушку 11 подмагничивания, питаемую от источника 10постоянного тока. Фиксируют новоезначение сигнала на индикаторе 9 иполучают разность напряжений сигналоввихретокового преобразователя 2 придвух различных значениях подмагничивающего поля, в данном случае приотсутствии подмагничивающего поляи его воздействии, При отсутствииэтой разности фиксируют дефектсплошности, так как электромагнитноевзаимодействие вихретокового преобразователя 2 с выявленной аномалиейне изменилось при изменении подмагничивающего поля. Если при подмагничивании показания индикатора 9 изменились, то вихретоковый преобразо 5 10 15 20 25 30 35 40 ватель 2 взаимодействует с Ферромагнитным включением, однако вероятно,что при этом в зоне контроля имеютсяи...

Номер патента: 1265596

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Воронков, Воронкова, Ермолов, Медвинский

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, ультразвуковой

...и крупногабаритных изделийтолщиной более 1 м из перлитныхмарок сталей, где вследствие большогорассеяния ультразвука амплитуды эхо- ЗО сигналов от дефектов становятсясравнимы с амплитудами эхо-сигналов от структурных неоднородностей. Способ ультразвуковой дефектосконии изделий, заключающийся в том,что в изделие излучают зондирующий 40 импульс ультразвуковых колебанийдлительностью ь принимают эхосигнал и измеряют его амплитуду, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью расширения области применения ,1 путем обеспечения возможности контроля изделий с большим рассеяниемультразвука, дополнительно излучаютзондирующий импульс той же амплитудыдлительностью 7, определяемой из со- сО отношения отсюда Т2,5 т,Способ осуществляется следующим...

Номер патента: 1265601

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Дробот, Лупанос, Мещеряков, Сорокин

МПК: G01N 29/04

Метки: акустического, варианты, дефектоскопии, его, качества, контакта, пьезопреобразователя

...следующим образом.25 Блок 2, например генератор сигналов Г 3-110, возбуждает пьезоэлемент 1, например пластину из ЦТС,на частоте антирезонанса 900 кГц.Сигнал реакции пьезоэлемента 1 при 30 нимают блоком 3, например милливольтметром В 3-38, и измеряют уровеньпринятого сигнала, Затем устанавливают пьезопреобразователь с пьезоэлементом 1 на контролируемое изделие 8 и вновь измеряют уровень принятого сигнала. При хорошем акустическом контакте амплитуда принятогосигнала падает и по изменению уровняпринятого сигнала определяют качест 40 во контакта, На преобразователь спьезоэлементом 1 поступают также отиэделия сигналы АЭ, в основном в полосе от 10 до 500-800 кГц. С пьезоэлемента 1 сигналы АЭ поступают че 45 рез фильтр 4 в блок 5,...

Номер патента: 542405

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Вдовенко, Гурьянова, Стулова

МПК: G01N 21/25

Метки: дефектоскопии, состав, цветной

...состав для цветной дефектоскопии, включающий краситель (кра" ситель жирорастворимый темнокрасный "Ж" формулы СН Б 40) и органический растворитель (смесь скипидара, бензина и нориола-А).Однако известный состав нельзя использовать для контроля качества поверхности медьсодержащих сплавов,Цель изобретения - устранение указанного недостатка - достигается тем, что в качестве красителя берут смесь красителя Формулы С Н И О и красителя Формулы С Н, ИдО, а в качестве органического растворителя - смесь скипидара, керосина и ксилола при следующем соотношении между компонентами, мас.Е:Краситель формулыО, 516-1, 978Краситель формулы0,324-0,840Керосин , 24,6-74,2Ксилол 0,9-8,5Скипидар До 100Предлагаемый состав может быть использован в...

Номер патента: 1272208

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Ильиных, Песельник, Путилов, Фещенко, Чукин

МПК: G01N 27/85

Метки: дефектоскопии, магнитографической, однотипных

...периодической записи на магнитную ленту эталонного сигнала, размещенный напротив петлерегулятора 4, выполненный в ниде контрольного образца 13 с дефектом 14 и блоком 15 намагничивания образца до заданной величины. Блок 12 намагничивания устанавливается на изделие 16,Устройство работает следующим образом. ФКольцо магнитной ленты 3 непрерывно протягивается с помощью привода 1. Усилие элемента Ь петлерегулятора 4 выбрано таким, что под воздействием со стороны изделия лентаспрямляется на участке, образованном роликами 2 -2 , в результате че 1го соприкосновение ее с контрольнымобразцом 13 отсутствует, на участкеже 2 -2 она огибает контрольную пса ъверхность. Полученная при намагничивании изделия блоком 12 магнитограмма дефектов...

Номер патента: 1272220

Опубликовано: 23.11.1986

Автор: Дежкунов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, излучатель, капиллярной, ультразвуковой

...кавитации в дефектоскопической жидкости. При этом возникает ультразвуковой капиллярный эффект, под действием которого жидкость поднимается по пакету 4 капилляров и подается в зазор 7 между контролируемым изделием 12 иизлучающей поверхностью концентратора-звукопровода 3,Соотношение входного и выходного сечений концентратора-звукопровода 3 выбрано таким образом, что амплитуды колебаний при распространении их в концентраторе-звукопроводе увеличиваются в 1-3,5 раза,Поэтому, если на входе звукопровода-концентратора 3 обеспечивается режим ультразвукового капиллярного эффекта, он заведомо обеспечивается также на выходе волновода и на егоизлучающей поверхности, За счет ультразвукового капиллярного эффекта рабочая жидкость ( пенетрант или...

Номер патента: 1275277

Опубликовано: 07.12.1986

Авторы: Валуев, Ефанов, Лютцау, Парамонов, Сарпов, Хакимьянов

МПК: G01N 23/18

Метки: дефектоскопии

...прводит к ухудшению четкости изображения дефектов, что затрудняет их выявление и в конечномитоге снижает чувствительность контроля.Цель изобретения - повышение производительности контроля.Указанная цель достигается тем, что в устройстве для дефектоскопии иэделий, содержащем рентгеновскую25 трубку, детектор в виде сцинтиллятора с фотоэлектронным умножителем (ФЭУ) и регистрирующей аппаратурой,механизм сканирования изделия с приводом для возвратно-поступательного движения, ФЭУ жестко зафиксирован относительно рентгеновской трубки, анод которой выполнен протяженным, рентгеновская трубка снабжена системой отклонения электронного пучка по аноду, сцинтиллятор жестко связан с механизмом сканирования изделия, привод которого...

Номер патента: 1280515

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Жаворонков, Мирковский, Рябочко

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопии, круглого, механизм, многозвенный, проката, следящий

...образом.Перед началом работы поворотное коромысло 5 с преобразователем 6 находится в исходной позиции в отведенном положении (на фиг.З показано пунктирной линией). Педаль 8 находится в вертикальном положении, частично перекрывая сквозное отверстие 2 планшайбы 1, а поворотное коромысло 5 удерживается в отведенном положении управляющим рычагом 14, В исходную позицию педаль 8 и управляющий рычаг 14 устанавливаются под действием пружины 10 кручения, при этом вспомогательный рычаг 16 с ограничительным роликом 17 поджаты пружиной 7 к полке 8 управляющего рычага 14.В процессе контроля планшайба 1 вращается. При поступательном перемещении контролируемый прокат 3 воздействует на опорные ролики 9 и отклоняет педаль 8 до момента выхода роликов 9...

Номер патента: 1285363

Опубликовано: 23.01.1987

Автор: Слепак

МПК: G01N 27/90

Метки: движущихся, дефектоскопии

...выходу статического дефектоскопа 4 через конденсатор 6, выполняющий роль аналогового запоминающего устройства. Параллельно регистрирующему устройству 5 включен ключ 7, управляемый импульсами с импульсного датчика 4 перемещений.Способ дефектоскопии движущихся электропроводяших изделий осуществляется 25 следующим образом.При движении контролируемого объекта 1 относительно зонда 3 статического дефектоскопа 4 импульсы Ч 4 с выхода импульсного датчика 1 перемещений периодически включают ключ 7. При этом конденсатор 6 заряжается до значения амплитуды напряжений 13 з на выходе статического дефектоскопа 4 (фиг. 1). В момент паузы между импульсами 134 ключ 7 размыкается и на регистрирующее35 устройство 5 поступает сигнал 0 ь, равный разности...

Номер патента: 1288591

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Волков, Гордиенко, Гулика, Коваль

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, значений, импульсов, максимальных, ультразвуковой

...к Я-выходу полусумматора 8 и-го канала, а выходом - к второму входу второго элемента ИЛИ 13. Выходы Э триггеров б всех каналов подключены к входам, приоритетного кодера 2. Устройство работает следующим образом.На вход устройства поступает амплитуда входного сигнала, при которой на выхрде части аналоговых компараторов 4 меняется состояние с логического нуля на логическую единицу, В результате в части каналов на входах Э, С и выходе Я Э-триггера 6, а,так-. же на А- В-входах и Р-выходе полусум1288591 матора 8 образуется логическая единица, а на Б-выходе полусумматора 8 образуется логический нуль. Такое состояние канала высшего разряда соответствует максимуму амплитуды вход 5 ного сигнала. С уменьшением амплитуды входного сигнала на выходе...

Номер патента: 1291822

Опубликовано: 23.02.1987

Авторы: Никкель, Пальм, Тетке, Шульц

МПК: G01B 7/04

Метки: «и—или», дефектоскопии, поверхностных, полосовой, стали, толщины, трещин, ширины

...том случае, если расстояние 40 между центрирующим устройством 4 исигнализатором 7 прокатываемого материала соответствует кинематическимусловиям процесса управления. Приразмещении сигналиэатора 7 прокатываемого материала перед центрирующимустройством 4 управление механизмовдля открывания и закрывания зависитот скорости прокатки. Размещениесигнализатора 7 прокатываемого материала зависит от кинематических условий и от управления всего прокатного стана. Расстояние между прокатным станом и устройством для измерения толщины и ширины полосовой 55 стали является постоянной величиной,а расстояние между устройством 2для измерения толщины и ширины полосовой стали и центрирующим устройством может изменяться. Расстоя1291822 10 20 ние между...

Номер патента: 1293620

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Домашевский, Колыхалов, Шкатов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, объектов, ферромагнитных, электромагнитной

...1 переменного тока, поддерживая неизменным величину магнитного потока Фк. Изменения Ф к определяют по показаниям индикатора 11В процессе изменения часто ты Г регистрируют максимальное воз 1293620действие Б магнитных потоков рассеяния на.измерительный преобразователь 4 и по частотомеру 12 определяют соответствующую максимальному воздействию Цдчастоту Г . Затем 5 (при тех же условиях контроля) изменяют частоту Г,в 1 раз и измеряют новое воздействие Б, Полученная величина Г, позволяет определить возможные сочетания глубины залега ния и глубины трещины, а вычисленное отношение У/Удополнительно определяют из этого множества единственное значение глубины залегания и глубины трещины, 15Достигаемый результат можно .объяснить следующим...

Номер патента: 1293622

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Алексеев, Бодров

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопии, магнитопорошковой

...входключей 19 и 20 блоков 17 и 18 управления. При поступлении с первоговыхода низкочастотного задающего генератора 16 напряжения низкого уровня ключ 20 блока 17 управления закрыти блок 22 формирования импульсов 5 10 15 20 25 управления может быть выполнен в виде релаксационного блокинг-генератора на транзисторе, в цепи эмиттера которого включен управляющий ключ 19(20), выполненный на базе полевого транзистора с п-каналом, например КПМ, работающего в режиме отсечки.Низкочастотный задающий генератор 16 может быть выполнен в виде генератора прямоугольных импульсов (например, симметричный мультивибратор), работающего в режиме автоколебаний, с двумя выходами - прямым и инверсным. С целью подбора частоты его колебаний и длительности выходных...

Номер патента: 1293635

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Борисова, Егоров

МПК: G01N 29/04

Метки: антикоррозионная, дефектоскопии, жидкость, контактная, ультразвуковой

...ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Заказ 380/49 Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул Проектная, 4 1 129363Изобретение относится к областинеразрушающего контроля и можетбыть использовано для создания акустического контакта при ультраэвуховой дефектоскопии. 5Цель изобретения - упрощение состава за счет сокращения количествакомпонентов.Антикоррозионная контактная жидкость для ультразвуковой дефектоскопии содержит нитрат аммония в качестве поверхностно-активного вещества и ингибитора коррозии, глицерин, карбоксилметилцеллюлозу и воду при следующем соотношении компонентов, мас,%:Нитрат аммония 2-6Глицерин 4-9Карбоксилметилцеллюлоэа 3-5Вода...

Номер патента: 1295315

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Домашевский, Колыхалов, Шкатов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, ферромагнитных, электромагнитной

...способ измерения.Затемсогласно предлагаемому способу, регистрируют сигналы Б, и Б 2измерительного преобразователя 5 на,соответствующих частотах, получаютотношение К = П, /Б и по нему, а так 15 2же по градуировочной кривой, определяют глубину Ь трещины. Градуировочную кривую получают с помощью контрольных образцов с трещинами различной глубины.Отношение П Р/УР однозначносвязано с глубиной Ь трещины и практически не зависит от длины, шириныи ориентации трещины, а также от ееположения относительно измерительного преобразователя 5, размещенногок зоне захвата магнитных потоков рассеяния. Действительно, сигнал измерительного преобразователя 5 можетбыть представлен в видеП,:= Р; Р (М(к),где Уд - магнитный поток через поверхность дефекта при...

Номер патента: 1295316

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Бобков, Двоеглазов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, намагничивающее, формы, цилиндрической

...свода для размещения в ниУполюсных наконечников 4 и 5. На чертеже изображено контролируемоеизделие 21,Регистрирующий узел 8 в данном50устройстве размещен между полюсныминаконечниками 4 и 5 и предназначендля Фиксации (регистрации) магнитного состояния контролируемого изделия21, т.е. представляет собой магнитный55зонд, считывающий поля рассеяния дефектных зон,Устройство работает следующим образом. 2Намагничиваюшее устройство устанавливается ня поверхности контролируемого изделия 21 опорными роликами 6 и 7, позволяющими с определенным зазором совершать поступательноедвижение вдоль контролируемого изделия 21, намагничивая его, Регистрирующий учел 8 сканирует по поверхности намагниченного изделия 21 и считывает магнитные поля...

Номер патента: 1298624

Опубликовано: 23.03.1987

Автор: Шкатов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, имитации, магнитных, потоков, рассеяния, электромагнитной

...канал уложены токовая катушка 6 и измерительная катушка 7, последовательно соединенные источник 8 тока и амплитудно-фазовый регулятор 9, подсоединенный к катушке 6 и вольтметр 1 О, подключенный к катушке 7.Устройство для имитации магнитных потоков рассеяния при электромагнитной дефектоскопии работает следующим образом.ферромагнитный образец 1 намагничивают с помощью системы намагничивания (не показана), питаемой от источника 8 переменного тока через усилитель мощности не показан),При этом система намагничивания созцает магнитный поток, сцепленный своей частью с катушками 6 и 7, охватывающими имитируемую трещину. Под действием трещины намагничивающий магнитный поток должен перераспределяться, Это перераСпределение происходит от того,...

Номер патента: 1298633

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Денисов, Лазарев, Михайков, Шатерников

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопии, электромагнитной

...с помощью измерительного блока 8, выполненного так, что при появлении в зоне контроля вихретокового преобразователя 7 края объекта контроля или дефекта, выходной сигнал с блока 8 увеличивает или уменьшает свое значение относительно среднего уровня. Это позволяет с помощью блока 9 выделения сигналов от дефектов Чу и края объекта контроля Ч , представляющего собой, например, два амплитудных детектора с начальным смещением, разделить указанные сигналы и подать их на управляемый коммутатор 5.Способ осуществляют следующим образом.В программируемом постоянном запоминающем блоке 10 в цифровом виде записаны функции, по которым должны меняться сигналы Ч , Ч , подаваемыехна вертикальную и горизонтальную отклоняющие системы осциллографа для...

Номер патента: 1298652

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Богатырев, Горбунова

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, жидкость, контактная, ультразвуковой

...оксиэтильных групп, при следующем содержании компонентов, мас.7:1 Последняя композиция может содержать дополнительно электролит до6 мас.7.В качестве электролита могутбыть использованы натрий сернокислый, натрий хлористый или соли жесткости морской и пластовой воды, ав качестве неионного поверхностноактивного вещества могут быть использованы синтанол ДТ, синтанолДС, смачиватель ДБ, синтамид 5,синтамид 10.Выбор содержания компонентовобусловлен следующим,15Содержание композиции на основенатриевых солей алкан- и алкилароматических сульфокислот менее О, 1 мас.7не обеспечивает необходимой смачиваемости загрязненных поверхностей, апри содержании не более 1 мас.7. смачиваемость загрязненных поверхностейне улучшается.Контактная жидкость может...

Номер патента: 1300351

Опубликовано: 30.03.1987

Авторы: Дежкунов, Коновалов, Прохоренко

МПК: G01N 21/91

Метки: дефектоскопии, капиллярной

...А при этом поддерживают в диапа зоне ЗА, (А ( 10 А, где Ар амплитуда, соответствующая порогу кавитации в пенетранте, а в пенетрант вводят добавки, повышающие его кавитационную активность. При указанных амплитудах возникает ультразвуковой капиллярный эффект, который имеет кавитационную природу. Результирующий микропоток жидкости, направленный в капилляр (или капиллярную несплош- ЗО ность), формируется в ультразвуковом поле из отдельных микроструек, образующихся при захлопывании кавитационных пузырьков, Этими струйками содержимое протяженных трещин вытесняется, и трещины заполняются пенетрантом. В случае цилиндрических пор заполнение идет менее эффективно. В результате жидкость вытесняется из трещин в большей степени чем из пор, и они...

Номер патента: 1305590

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Ахмеджанов, Ващенко, Гусев, Исаков, Лукин

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопии, ферромагнитных

...21 и 22 эталонного напряжения, два компаратора 223 и 24, первые входы которых подключены к соответствующим источникам 21 и 22 эталонного напряжения, а вторые входы объединены и являются входом 5 ограничителя 10 цикла настройки, дваАормирователя 25 и 26 и триггер 27, входы которого через формирователи 25 и 26 подключены к компараторам 23 и 24, а выход является выходом огра ничителя 1 О цикла настройки и соединен с ячейкой 11 памяти.Устройство работает следующим образом.Генератор 2 возбуждает вихревойпреобразователь с частотой, определяемой источником 1 опорного напряжения. Информационный сигнал поступаетна детектор 4 и одновременно на газометр 8, где выделяются амплитудаи Аазовая характеристика сигналаСигнал с выхода Аазометра 8...

Номер патента: 1307320

Опубликовано: 30.04.1987

Автор: Калинин

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, контрольного, образца

...зоны.Способ изготовления контрольного 20образца для дефектоскопии осуществляют следующим образом.Подготавливают заготовку 3 образца с бездефектной поверхностью 4,например, в виде диска. Материал и ,чистота обработки заготовки 3 соответствуют материалу и чистоте обработки изделия, которое предполагаетсяподвергнуть контролю. На укаэаннойбеэдефектной поверхности 4 эаготовки 3 выполняют глухое отверстие5. Форма отверстия 5 в поперечномсечении может быть круглой, квадратной, эллипсоидной и др. Размерсечения отверстия 5 соответствует 35размеру требуемого дефекта. Глубинаотверстия 5 должна превьппать в 1,52 раза глубину газонасьпценного слоя6, которая определяется заранее.1Дно отверстия 5 выполняют плоским и 40параллельным...

Номер патента: 1307326

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Голубев, Паврос, Полунин, Тарасов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, листового, проката, ультразвуковой

...преобразователями 10, подвижную раму 11 с роликами 8, установленную параллельно неподвижной раме 7, клеть 12 для размещения в ней контролируе-. мого листа, установленную между неподвижной рамой 7 и подвижной рамой 11 с возможностью ее опускания и подъема, и механизм перемещения подвижной рамы 11 в виде пневмоцилинд ров 13 со штоками 14 и тяг 5 с кулачками 16, закрепленными на подвижной .раме 11. Неподвижная рама 7 жестко прикреплена к иммерсионной ваннев вертикальном положении, а подвиж ная рама 11 установлена с возможностью ее перемещения по нормали к плоскости рамы 7.Кроме того, устройстводля ультразвуковой дефектоскопиилистового про ката содержит вал 17 и подпятники 18 клети 2.Устройство для ультразвуковой дефектоскопии листового...

Номер патента: 1308885

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Гречка, Комарова, Пепеляев, Суменкова, Хандецкий

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковой, дефектоскопии

...входе реверсивного счетчика 6 присутствует логическая "1", то этот код передается на1308885 5 выход. Для Фиксации импульсных хараккаждом такте тактовых импульсов иФормирует кодпоследовательного приближения. При этом триггер 12 режиманаходится в единичном состоянии. ЛоГическая 1 поступающая на установочный Б-вход триггера 21, устанавливает его в единичное состояние, приэтом на инверсном выходе триггера21 - логический "0". После окончанияформирования кода последовательногоприближения на управляющем выходеФормирователя 13 кода Формируется импульс, который поступает на третийвход схемы 15 формирования сигналовзапрета, т.е. на вход дизъюнктора22. Длительность этого импульса равна периоду тактовых импульсов, поэтому соответствующий...

Номер патента: 1308887

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Пепеляев, Редько, Суменкова, Флоров, Хандецкий

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковой, дефектоскопии, неоднородных

...которого является выходом блока 17 выделения максимума.30Устройство работает следующим образом.13088 87 35 3формация с выхода схемы 8 - в регистр 13.В процессе перемещения зонда дефектоскопа по поверхности контроли- руемого материала из-за его сложной5 волокнистой текстуры происходят неконтролируемые перемещения зонда в вертикальном направлении в соответствии со всеми неровностями поверхности, огибая которые, перемещается 10 зонд, Это приводит к появлению случайной погрешности, связанной с изменением зазора, накладывающейся на сигнал в резонансной системе 3, причем скорости изменения выходного на пряжения схемы 4 амплитудного преобразования сигнала, соответствующие этой погрешности и влиянию неглубоких трещин, в ряде случаев соизмеримы,...