Способ исследования процесса схватывания металлов при трении

Номер патента: 478875

Опубликовано: 30.07.1975

Авторы: Алексенко, Аншелес, Березовский, Гельперин, Ежов, Миронов, Травин, Чумаков, Явойский

МПК: C21C 7/10

Метки: активного, дегазации, жидкого, металла, процесса

...камеры устанавливают необходимый статический вес металла (150 - 250 мм).После этого в один из рукавов камеры дают 5 определенпьш расход аргоиа и измеряют динамический слой металла, а следовательно, и скорость циркуляции расплава. Динамический столб возникает цз-за того, что металл В подьемпом патрубке при этом начинает 1 О двигаться вверх. Дцпамцческпш вес металлаустанавливают также определенным, Варьируя расходом аргоца.Установив динамический вес, соответствующРш высоте металла 80 - 150 мм, ирово дят ВР 1 куумировапие до тех И 01), пока динамцческий вес пе сравняется со статическим,На кривой изменения веса в ццркуляцпоппой камере, записываемой с тецзодатчцкОВ па самописец, видны колебания веса камеры с 20 металлом, возникающие...

Номер патента: 526807

Опубликовано: 30.08.1976

Авторы: Бакатин, Баловнев, Дворковой, Ермилов, Хмара

МПК: G01N 19/02

Метки: воздействия, грунтов, исследования, сцепления, трение, ультразвука

...устройство, включающее подставку 15 для размещения грузов, рычаг 16,серьгу 17, тензозвено 18 и пяту 19. Рычаг 16соединен с кареткой шарнирно посредством2 о пРоУшины 20 и пальца 21. Хвостовики осей6 передних катков установлены по резьбе вторцах пальца 21, обеспечивая его фиксацию.Исследование воздействия ультразвука насцепление и трение грунтов проводится в слеЗО дующем порядке, Каретку 1 устанавливаю в крайнее левое положение. Рамка 3 опирается на сменную накладку 13, укрепленную на кассете 11, рычаг 16, поворачивая вокруг пальца 21, поднимают вверх, При этом серьга 17, тензозвено 18 и пята 19 перемещаются в приподнятое положение, открывая доступ к рамке сверху для размещения образц грунта. Поворачивая рычаг 16 вокруг пальца 21 в...

Номер патента: 559767

Опубликовано: 30.05.1977

Авторы: Кан, Лебедев

МПК: B22D 11/16

Метки: металлов, непрерывной, процессом, разливки

...и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская иаб., д. 4/5Типография, пр, Сапунова, 2 ния термопары, которос является определяющим для регулирования скорости вытягивания слитка и интенсивности режима вторичного охлаждения.Проведенные экспериментальные работы в ЦНИИЧМ показывают, что при затвердевании непрерывного слитка сечением 200 К 200 мма из стали У 13 содержание углерода (основного ликвирующего элемента) изменяется от 1,3% в периферийной зоне до 1,7% в осевой зоне, а при затвердевании непрерывного слитка сечением 200;(200 ммв из стали 10 содержание углерода изменяется от 0,1 % в периферийной зоне до 0,17% в осевой зоне. Следовательно, центральная часть слитка из стали У 13 затвердевает при 1380 С, а центральная часть слитка из стали...

Номер патента: 617166

Опубликовано: 30.07.1978

Авторы: Доброгаев, Калмыков, Кошлаков, Михайленко, Плискановский, Ратнер, Савенко, Фонотов, Шевченко, Шокул

МПК: B22D 39/00

Метки: металла, процесса, разливки, расплавленного

...процесса разливки расплавленного мео талла, схема установки силоизмерительногодачиа ча желобс разливочной машины; на фиг, 2 - то же, структурная схема регулирования.Устройство содержи". реконструированный 5 желоб 1, установленный с одной стороны наскользящую посадку 2 для того, чтобы исключить заедание в направляющем подшипнике 3 штанги 4, посредством которой передается усилие на силоизмерительный датчик 5, устанавливаемый на столе 6. С другой стороны приемная часть желоба устанавливается,на шарнирной опоре 7,С целью исключения динамического влияния струи чугунападающей из ковша, сливной желоб устанавливается таким образом 5относительно струи, чтобы она находилась вобласти осевой линии шарнирной опоры. Показания суммарного веса...

Номер патента: 1012667

Опубликовано: 15.01.1985

Автор: Суворов

МПК: G01N 23/225

Метки: автоионно-микроскопического, исследования, металлов

...направление падения бомбардирующих частиц на образец..На чертеже показан схематически ход лучей и взаимное расположение элементов, необходимых для реализации предлагаемого способа.Установка для реализации способа ,содержит расположенный напротив образца 1 флуоресцирующий экран 2, источник 3 бомбардирующих частиц, который может перемещаться в вакууме с помощью устройства движения 4 вдоль оси 7 и вдоль оси, при этом одновременно смещается жестко с ним соединенный дополнительный флуоресцирующнй экран-индикатор 5. Установив источник 3 в определенном положении (его можно оценить заранее, исходя из известной геометрии прибора и выбранного для анализа кристаллографического направления смещений атомов) и заполнив объем микроскопа...