Патенты с меткой «автоионно-микроскопического»

Способ автоионно-микроскопического исследования металлов

Загрузка...

Номер патента: 1012667

Опубликовано: 15.01.1985

Автор: Суворов

МПК: G01N 23/225

Метки: автоионно-микроскопического, исследования, металлов

...направление падения бомбардирующих частиц на образец..На чертеже показан схематически ход лучей и взаимное расположение элементов, необходимых для реализации предлагаемого способа.Установка для реализации способа ,содержит расположенный напротив образца 1 флуоресцирующий экран 2, источник 3 бомбардирующих частиц, который может перемещаться в вакууме с помощью устройства движения 4 вдоль оси 7 и вдоль оси, при этом одновременно смещается жестко с ним соединенный дополнительный флуоресцирующнй экран-индикатор 5. Установив источник 3 в определенном положении (его можно оценить заранее, исходя из известной геометрии прибора и выбранного для анализа кристаллографического направления смещений атомов) и заполнив объем микроскопа...