Способ сортового анализа металлов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 857804
Авторы: Весновский, Орел
Текст
Союз Советскии Социалистическик РеслубликОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 25.10. 79 (21) 2832530/18-25с присоединением заявки Нов(51)М К 3 6 01 М 21/64 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(54) СПОСОБ СОРТОВОГО АНАЛИЗА МЕТАЛЛ Изобретение относится к технической физике и предназначено для исследования и сортировки металлов по их физико-химическим свойствам.Известен способ спектрального анализа металлов по их спектрам испускания. В этом случае исследуемый образец помещают в источник высокой температуры и, когда образец перей-дет в парообразное состояние, при помощи спектрального прибора изучают спектр его излучения. На основании чего судят о составе и качестве материала образца )11.Однако известный способ спектрального анализа металлов трудоемок и дорогостоящий, так как при этом используется термостойкое оборудование, кроме того он отбирает много времени на исследование и не всегда приемлем из-за разрушения испытуемого образца.Наиболее близким к предлагаемому техническим решением является способ, включающий облучения поверхности исследуемого образца ультрафиолетовыми лучами и регистрацию интенсивности люминесценции.Этот способ люминесцентной дефектоскопии поверхности металлов, заключающийся в предварительном покрытии поверхности исследуемого образца металла люминесцентным раство,ом,после чего его освещают ультрафиолетовыми лучами и наблюдают флуоресценцию дефектов поверхности в микроскопе 21,Недостатком является низкая точность и ограниченность примененияспособа, так как на результаты конечных измерений существенно влияют различные примеси люминесцентного раствора, что не позволяет определитьФизико-химические свойства металлов1 и отбирает достаточно много временина исследование.Цель изобретения - повышение точности и универсальности способа..Поставленная цель достигается спо 20 собом сортового анализа металлов,включающим облучение поверхности исследуемого образца ультрафиолетовымилучами и регистрацию интенсивностилюминесценции, образец предварительно нагревают до +30 оС, облучают вдиапазоне 237-1717 им дозой 50-90 Вт/скпосле чего исследуемый образец помещают в светонепроницаемую камеру,температура среды в которой составляет30 (-20,0) - (40,0) + 0,1 С и регистри857804 руют люминесценцию методом счетаквантов в спектральном диапазоне200-800 нм и в интервале 1-30 с после облучения.Отличие предлагаемого способа отиспользуемого в настоящее время заключается в том, что облучение линей 5чатым спектром образца проводят при+300 С, в результате чего возникаетвозбужденное состояние электронныхуровней,Затем образец помещают в более ниэ кую температуру (-20,0) - (-40) +0,1 С,что способствует восстановлению первоначальных конфигураций электронныхорбит и сопровождается собственнойлюминесценцией металлов, которая и 15характеризует их физико-химическиесвойства. Другое отличие предлагаемого способа в том, что регистрацию максимума амплитудного спектра Материал Атомный вес Люминесценция, Материал Люминесценимп/10 с имп/10 с Сг 51,9 Сц 63,5 80 СтальСт.З 3110 12 ХНЗА 198 100 2 п 65,3 480 Р 18Золото А 9 107,8 5 п 118, б 685 6688 948 375 о 195,0 15218 21649 26084 2111 583 о Ац 196,9 РЬ 207, 2 4632 985 21649 минесценцию регистрировали тенсивйости люминесценции, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности и универсальностиспособа, образец предварительно нагревают до температуры + 30 С, облучают в диапазоне 237-1717 нм дозой50-90 Вт/см , после чего исследуемыйобразец помещают в светонепроницае мую камеру, температура среды в которой составляет (-20) - (-40)10,1 Си регистрируют люминесценцию методомсчета квантов в спектральном диапазоне 200-800 нм и в интервале 1-30 спосле облучения.55 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Гарсон Д. Практическая спектроскопия. М., "Иностранная литература",1950, с.183-186.д) 2, Люминесцентный анализ. Подред, М.А. Константиновой-Шлезингер.М., 1961, с.241-250 (прототип). Подписное 0 Тираж 907 г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Площадь образца 3 мм;Образец облучали 20 с, лючерез 10 с.Как видно иэ таблицы, использование предлагаемого способа сортового анализа металлов обеспечивает по сравнению с существующими способами точно и экспрессно определять марку металлов в соответствии с его атомным весом в периодической системе элементов, пробу драгоценных метал- лов, в частности золота, состав сплавов при сравнении с эталонным образцом, в частности сталей, и т,п.Предлагаемый способ состоит иэ простых технологических операций и дешев по сравнению с известными, Он унивдрсален и может быть применен во многих областях народного хозяйства.формула изобретения .Способ сортового анализа металлов, включающий облучение поверхности исследуемого образца ультра" фиолетовыми лучами и регистрацию инВНИИПИ. Зака 7230/7тюфилиал ППП "Патент",электрического сигнала светоприемника проводят при уровне дискриминатора 0,1-0,3 мВ, с разрешением парных импульсов 0,1 мс, что позволяет отсечь широкий спектр частот шума и улучшить отношение сигнал/шум. П р и м е р , Проводят сортовой анализ металлов. Для этого образец площадью 25 ммоблучают 15 с в диапазоне 237-1717 нм дозой 65 Вт/см и 80 Вт/см при +30 С, затем его помещают в светонепроницаемую камеру, в которой температура (-.20) + 0,1 С и через 15 с после окончания облучения регистрируют собственную люминесценцию в спектральном диапазоне 200-800 нм металла в течение 10 с с разрешением парных импульсов 0,1 мс при уровне окна дискриминатора 0,1 мВ. Данные сведены в таблицу.
СмотретьЗаявка
2832530, 25.10.1979
Заявитель
ОРЕЛ ВАЛЕРИЙ ЭММАНУИЛОВИЧ, ВЕСНОВСКИЙ ЛЕОНИД КОНСТАНТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/64
Метки: анализа, металлов, сортового
Опубликовано: 23.08.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-857804-sposob-sortovogo-analiza-metallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ сортового анализа металлов</a>
Предыдущий патент: Способ количественного определения 6пара-(орто карбоксибензамидо)-бензолсульфамидо -3-метоксипиридазина
Следующий патент: Способ количественного определения гидрохлорида алкалоида 1 тетрагидропальмитина
Случайный патент: Заглушка для емкостей