Способ исследования быстроразвивающихся микродефектов в твердых телах при низких температурах

тО и"н.,с,дй 1 и е ИЗОБРЕТЕНИЯ Сеез Советим Сфцмаанстнчееииа Ржпубпии(23) Приоритет -С 01 И 25/02 Государственный комитет СССР по делаю изобретений и открытийОпубликовано 2503,79, Бюллетень Я 11 Дата опубликования описания 250379,(72) Авторы ИЗОбрЕтЕНИЯ В. М. Финкель, А. М. Савельев, А. П. Королев и А. А, Слетков(71) ЗЭЯВИТЕЛЬ Тамбовский институт химического машиностроения(54 ) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ БЫСТРОРАЗВИВАЮЩИХСЯ МИКРОДЕФЕКТОВ В ТВЕРДЫХ ТЕЛАХ ПРИ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУРАХНаиболее близким по техническому решению к предлагаемому является способ исследования быстроразвивающихся . дефектов в твердых телах при низких температурах, заключающийся в помещении полированного образца в оптический дьюар (вакуумный сосуд со свето- прозрачными окнами), установке образца.в дьюаре перед объективом кинокамеры, охлаждении, освещении, нагружении его и последующей кинорегистрации 2). Изобретение относится к физике твердого тела и может быть использо-. вано для исследования физика-механических характеристик твердых тел в интервале низких температур.Известен способ исследования быстроразвивающихся дефектов (например, механических двойников или полос скольжения), заключающийся в установке полированного образца перед объективом скоростной кинокамеры, освещения и нагружения образца и последующей кинорегистрации процесса зарождения и роста дефекта в нем (1)Однако этот способ не позволяет регистрировать рост дефектов в области низких температур. Недостатком способа являются необходимость использования дорогостоящего и сложного вакуумного оборудования, техническая трудность, а в ряде случаев и невозможность проведенияэкспериментов при динамических видахнагружения (например, электрогидроудар, соударение тел и др.), невозможность проведения микроскопическихкиносъемок при больших увеличенияхвследствие наличия дополнительныхобъектов между образцом и объективомкинокамеры (двойное стекло дьюара,охлаждающая жидкость) .Целью изобретения является упрощение методики исследования,Для этого образец охлаждают протекающим слоем прозрачного хладагентав атмосфере окружающей среды, а исследуемую поверхность образца непосредственно перед киносъемкой обдуваютпотоком сжатого воздуха.Сущность способа поясняется чертежом.Образец 1 полированной поверхностью устанавливают перед объективомкинокамеры 2 и охлаждают с обеих сторон слоем 3 протекающей прозрачнойжидкости, (например, жидким азотом,охлажденным спиртом и др.) . За нес. Составител Техред З.Ф р Т, Иванов аз 1281/ 089о комитета СССРи открытийушская наб., д. 4/5 Тираж ударственно изобретений ва, Ж, Р Подписно ЦНИИПИ по дел113035, М Филиал ППП Патент, г, ужгород, ул. Проектн колько секунд до киносъемки регистрируемую поверхность обдувают потоком сжатого воздуха 4 и освещают импульсной лампой 5. Затем к образцу прикладывают нагружающее усилие 6 и запускают кинокамеру для регистрации процесса развития дефектов. Обдувание Б производят для улучшения качества киносъемки, которое достигается тец, что поток сжатого воздуха, во-первых, выравнивает и утоньшает слой жидкости до толщины пленки, а, во-вторых, 10 удаляет из кинорегистрируемой области пары хладагента, затрудняющие съемку.П р и м е р . Способ проверялся при исследовании зарождения и развития механических двойников в кремнистом железе в интервале от ООС до минус 196 фС, Образец растягивался импульсом электрогидравлического удара. Киносъемка осуществлялась кинокамерой СФРм со скоростью 250000 кадр/с. В качестве хладагента испольэовали жидкий азот и охлажденный спирт. Образец обдували направленным потоком воздуха от вентилятора непосредственно перед кинорегистрацией в течение 1,5-3 с. Использование способа позволило изучить некоторые закономерности возникновения и развития механических двойников при низких температурах.Использование предлагаемого способа исключает из эксперимента дорого 9 4стоящее и сложное вакуумное оборудование; упрощает методику проведенияисследований; позволяет регистрировать возникновение и развитие дефектов в области низких температур прилюбых импульсных видах нагружения ипроводить микросъемку прн большихувеличениях,Способ исследования быстроразвивающихся микродефектов в твердых телах при низких температурах, заключающийся в охлаждении образца, освещении и нагружении его с последующей кинорегистрацией процесса развития дефектов, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения методики исследования, образец охлаждают протекающим слоем прозрачного хладагента в атмосфере окружающей среды, а исследуемую поверхность образца непосредственно перед киносъемкой обдувают потоком сжатого воздуха. Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе 1, Финкель В. М. Физика разрушения,М;, фМеталлургияфф, 1970, с. 61.2. Физика твердого тела, 1969,