Способ получения растворов солей висмута

Номер патента: 1318286

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Брускина, Исправникова, Кудрявцев, Лисичкин, Симонова

МПК: B01J 20/10, B01J 20/22

Метки: извлечения, ионов, растворов, ртути, сорбент

...представлены в табл, 1.П р и м е р .6. Кинетику сорбцииизучают на примере ионов ртути (11).Для этого раствор, содержащий 5 мкгртути (11), встряхивают с 0,05 г сорбента в течение 30 с. 1,2,5 и 30 мин.Степень извлечения ртути (11) нриэтом 90, 97, 98, 98 и 98% соответственно. Равновесное значение рН 1,5.П р и м е р 7. Элюирование ионовртути (11) изучают в динамическомрежиме. Для этого в хроматографическую колонку помещают 0,2 г сорбента,пропускают раствор Ня (11) (5 мкгионов ртути), подкисленный до рН в2, Степень извлечения ртути при этом100 , Затем через колонку пропускают5 мл раствора элюента и определяютколинество десорбированной ртути (П)методом беспламенной атомной абсорбцииоВ табл, 2 приведены данные о степени...

Номер патента: 1773475

Опубликовано: 07.11.1992

Авторы: Желиба, Зайцева, Пилипенко, Рябушко

МПК: B01J 20/10

Метки: бериллия, извлечения, ионов, растворов, ртути, сорбент

...содержащий 20 мкг бериллия, и раствор азотной кислоты до рН 0,7; 3,4; 3,8; 4,1; 4,7; 6,4. Объем раствора доводили до 25 мл водой, Содержимое колб перемешивали 1 ч, Осадки отделяли фильтрованием. Определяли содержание бериллия в растворе спектрофотометрически по реакции с хромазуролом 8 в присутствии неионного ПАВ ОП, Содержание бериллия на сорбенте определяли по разности между количеством введенного бериллия и его концентрацией после сорбции. На основании измерений рассчитывали коэффициент распределения О. Результаты расчета приведены в табл.1. Аналогичные измерения проводили для прототипа, полученного по методике. Результаты приведены в1 П р и м е р 4, Аналогично примеру 3 прибавляли 25 мл раствора нитрата ртути с концентрацией 1 10...

Номер патента: 1435158

Опубликовано: 30.10.1988

Авторы: Мертен, Райнхольд

МПК: C07H 21/00

Метки: дезоксирибонуклеиновую, кислот, кислоту, нуклеиновых, раствора, рибонуклеотидов, смеси, содержащего

...100%-цое превращение РНК, Для выделения 5 -рибоцуклеотидов разрушенный раствор нуклеиновых кислот пропуска- ют через колонку, заполненную слабо- основной иоцообмеццой смолой РБО 1,11 Е Л 7 в ацетатцой форме. Для очистки и выделения ДНК элюат с колонны концентрируют с помощью КОМ 1 СОИ-патронов с полым волокном (полисульфоновое волокно, граница выделения 100000) и подвергают диализу по отношению к доде,. це содержащей солей. Через мембрану могут проходить молекулы с молекулярным весом менее 50000. ДНК осаждают, доводя рН раствора до 2,0 и после высушивания получают, в виде белого порошка. Отделение смеси 5 - рибонуклеотидов осуществляют путем селективной десорбции ацетатными ра" створами повышающейся концентрации: СЫР: 0,1 и. уксусная...

Номер патента: 1075331

Опубликовано: 23.02.1984

Автор: Коляда

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, ионно-ионной, компонент, коэффициентов, образца, полупроводникового, эмиссии

...измерения коэффициентов ВИИЭ компонент образца из полу. проводникового материала.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения коэффициентов вторичной ионно-ионной эмиссии компонент образца из полупроводникового материала, в котором производят ионную и температурную очистку поверхности образца в условиях высокого вакуума, напускают активный по отношению к поверхности образца газ и измеряют токи первичных и вторичных ионов, проводимость поверхности образца поддерживают заданной путем изменения температуры в диапазоне, в пределах которого происходит адсорбция активного газа.Активность поверхности полупроводников по отношению к газовой среде тесным образом связана с электронной структурой его поверхности и с ее...

Номер патента: 1078502

Опубликовано: 07.03.1984

Авторы: Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, значения, ионно-ионной, компонент-поверхности, коэффициентов, относительного, твердых, тел, эмиссии

...при постоянном значении тока ионов первичного пучка ионное легирование производят тем же пучком первичных ионов с энергией, превышающей энергию ионов первичного пучка при распылении, при этом длительность масс-анализа устанавливают больше времени прекращения спада тока вторичных ионов с массой, соответствующей массе ионов первичного пучка.На фиг. 1 - 4 представлены варианты масс-спектров и временные зависимости токов (в.и.и.э.).При проведении масс-анализа происходит распыление ионнолегированного слоя, поэтому в спектре в.и.и.э., снятом в момент времени 0 ТсТ, наблюдаются вторичные токи компонент А (пики А, А, Аз, А 4) и вторичный ток 1-, который складывается из двух составляющих - вторичного тока 1 от ионов первичного пучка, легирующих...