Способ выявления надмолекулярных структур
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е 32456ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Саюэ Советских СоциалистическихЗависимое от авт. свидетельства69 ( 1370562/23-5 Кл, С 01 п 21/6 6 От 1,28 аявлено присоединением заявкиоритет Комитет по деламобретений и открытийри Сввете Министров публиковано 23.Х 1.1971. Бюллетень2 за 1972 ия описания 24.П.1972УДК 620.183(088,8 Дятя опуол икова и Авторыизобретени ардин, А. М, Огрсль и Н. Н. Кирвхин Заявители олгоградскии политехническии институ ПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НАДМОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР 5 пфи ка ция 20 тся путем эластомср мпературс пос тс 1 чоры осадиразруше- олекулярнадмолекулярныхластомере на ос Изобретение относится к способам выявления структуры эластомеров.Для исследования надмолекулярной структуры эластомеров обычно применяется электронномикроскопический метод, позволяющийизучать структуру поверхности образца в процессе разрыва или хрупкого излома, Однакотакой способ практически не обеспечиваетпрямого исследования структуры полимера,так как вследствие разрушения полимерной 1пленки под воздействием облучения в электронном микроскопе приходится наблюдать нссами структуры, а отпечатки с поверхностиразрыва образца.В связи. с этим электронная микроскопия ие 1дает возможности исследовать кшетпку процесса деформации надмолекулярных образований, особенно при больших степенях растяжения,По предлагаемому способу идентнадмолекуляриых структур достигаскратковременного воздействия паизбираемым растворителем при тевысокоэластического состояния сщей фиксацией выявленной структутелем. Это позволяет,предотвратитьние аморфной части образца и надмных структур.П р и м е р, Выявлениеструктур в полиуретановом э иовс олигодиэтилснгликольадипипатя с вели чшой молекулярного веса 1200.Образец помещают в диоксап при диметплформамид при температуре 20 - 25 С и выдерживают в этой среде в течение 3 - 5 лпн. Растворитсли вызывают сильное набухание нсупо рядоченной части эластомера и незначительное набухание самих структур.После этоо образец переносят в воду и иыдсрживают и ней в течение 5 лин, а зятем извлекают и сушат ири температуре 20 - 25 С. В результате обработки осадителсм происходит фиксация структуры, а в оптическом микроскопе появляется четкая картина надаогскуляриой структуры эластохсра, полностьк идснти шая картине, получаемой до обработки осядитсгсх 1,Зафиксированная иадмолекулярняя струкпура эластомера сохраняется без изменения и течение нескольких месяцев, что делает возможным исследовать сс поведение при воздействии на образец механического и другого ио. .сй как при крятковрсх 1 енн ых, так и при;л ительиых испытаниях.Применимость метода подтверждается ия каучуках: натуральном, бутадиеистирольном, марки СКН-ЗО, дивиниловом СКД, бутадиеннитрильных СКН, СКН, СКН. Растьорителем для них может служить тетрахлорэтан, осадителем - этиловый спирт,.324561 Предмет изобретения Составитель О. Рокачевская Текрсд Т. УсковаКорректор Т. Миронова Рсдакто Н. Корченко Заказ 332/18 Изд, М 5 Тираж 448 ПодписноеЦИИИПИ Когаитста по дсааги изооретевий и открытии при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 45 Типография, пр. Сапунова, 2 Способ выявления надмолекулярных структур пространственносшитых эластомеров, отличаюи 4 ийся тем, что, с целью предотвращения разрушения аморфной части образца и надмолекулярных структур, образец подвергается кратковременному действию растворителя при температуре, соответствующей его высокоэластичному состоянию с последующей 5 фиксацией структуры путем обработки осадителем,
СмотретьЗаявка
1370562
А. П. Хардин, А. Огрель, Н. Н. Кирюхин Волгоградский политехнический институт
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28, G01N 21/01, G01N 33/44
Метки: выявления, надмолекулярных, структур
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-324561-sposob-vyyavleniya-nadmolekulyarnykh-struktur.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выявления надмолекулярных структур</a>
Предыдущий патент: Рефрактометр
Следующий патент: Способ регистрации разрушения образца хрупкого материала
Случайный патент: 153440