Прибор для измерения микротвердости

Республик АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ависимое от авт. свидетельства1.1967 ( 1 В)7288/25-28 1 п 3/5 явле м заявкисоедин оритет Комитет по делам изобретений и открцтий при Совете Министров СССРОпубликовано 02.Х 1.1971. Бюллетень33 Дата опубликования описания 29.Х 11.1971620.178.152.25,0 (088.8) Авторыизобретения М. Г. Лозинский, Г. Е. Вишневский, М. Н. Свистунов, Г, С. МельникеВ. С. Табаков, Г. П. Кончук, В. Л. Корсюков, Б. Д. Строганови В, С. Истомин аявител РИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИ РОТВЕРДОСТ Известны приборы для измерений микро.твердости, содержащие герметизированную рабочую камеру с установленными в ней захватами для исследуемого плоского образца синдентором, механизм нагружения образца,нагревательное устройство, приборы для регистрации температуры образца, механизмопускания индентора и оптико-механическуюсистему.Предлагаемый прибор отличается тем, чтона крышке вакуумной камеры расположен механизм координатного перемещения оптикомеханической системы измерения твердости,содержащий осветительную систему, микроскоп, сблокированный с индентором, и механизм опускания (поднятия) индентора. Оптико-механическая система измерения твердости смонтирована на поворотном валике, проходящем через герметизированное подвижнымуплотнением (например, сильфоном) отверстие в крышке рабочей камеры, причем одинконец валика с закрепленном на нем объективом микроскопа расположен внутри камеры, Это расширяет, возможность исследованияобр азцов.25На чертеже схематически изображен предлагаемый прибор,Исследуемый плоский образец 1 помещен взахватах 2 и 3, расположенных внутри гер.метизированной рабочей камеры 4. С помощью тяги б через подвижное уплотнение б осуществляется нагружение образца растягивающим усилием. Нагрев образца производится или пропусканием непосредственно через образец переменного тока низкого напряжения, подводимого через токоподводы 7 и д, или с помощью нагревателя, расположенного под образцом, присоединяемого с помощью термопары 9, соединенной с гальванометром 10. Объектив микроскопа 11 установлен на кронштейне 12, укрепленном на валике И, На крышке камеры 14 смонтирован механизм 1 б координатного перемещения с жестко укрепленным на нем стаканом 1 б. По оси стакана расположен поворотный валик, укрепленный в подшипнике 17, который жестко установлен во втулке кремальерного устройства 18, служащего для наводки микроскопа на резкость и смонтированного внутри стакана. Отверстие в крышке камеры 14, через которое проходит поворотный валик, герметизировано сальником 19 подвижным уплотнением 20 и патрубком 21, укрепленном на крышке камеры 14, Внутри камеры 4, на кронштейне 12, укрепленном на валике, смонтированы объектив микроскопа и индентор 22. Опускание, выдержка и подъем индентора осуществляются одной из известных систем, укрепленной на кронштейне 12, Вне камеры 4 на кронштейне 23, укрепленном на валике смонтированы осветительная система 24 и соосно с объективом опак-иллюминатор 2 б, тубус 2 б и окулярЗаказ 3631/19 Изд,1524 Тираж 473 Поди испоЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д, 45 ография, пр, Сапунова, 2 327, отделенные от объектива смотровым стеклом 28. Рычаг 29 служит для поворота валика с укрепленной на нем оптико-механической системой измерения твердости, Поворот рычага при установке объектива над наблюдаемой зоной, а затем установка на его место индентора производится от упора до упора. Патрубки ЗО и Л предназначены для откачки перемещения газа.Предлагаемый прибор позволяет производить координатное перемещение объектива микроскопа над образцом, выбор необходимого для исследования участка на образце и последующее измерение твердости в ней, что расширяет возможности исследования образца,Прибор для измерения микротвердости, содержащий герметизированную рабочую камеру с установленными в ней захватами для исследуемого плоского образца и индентором, механизм нагружения образца, нагревательное устройство, приборы для регистрации 5 температуры образца, механизм опускания(подъема) индентора, оптико-механическую систему измерения твердости, выполненную в виде сблокированного с индентором микроскопа, установленного с возможностью пово рота в плоскости, параллельной плоскости захватов, отличающийся тем, что, с целью расширения возможности исследования образцов в условиях, моделирующих эксплуатационные, он снабжен механизмом координатно го перемещения оптико-механической системыи проходящим через отверстие в крышке камеры поворотным валиком, один конец которого с укрепленным на нем объективом микроскопа расположен внутри камеры.20