Камера образца электронного микроскопа
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51) М. Кл. Н 011 37/26 с присоединением заявкиГосударствеииый комитет Совета Мииистров СССР по делам иаобретеиийи открытий(23) ПриоритетОпубликовано 30.11.75, Бюллетень44 Дата опубликования описания 24.02,76(54) КАМЕРА ОБРАЗЦА ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА Изобретение относится к устройствам для электроннографических исследований материалов.Известны устройства для создания того или иного воздействия на объект, изучаемый в электронном микроскопе. Однако эти устройства не позволяют исследовать ,структурные изменения в образцах, образовавшиеся в процессе трения,Целью изобретения является создание устройства для исследования структурных изменений в облученных образцах в процессе трения.Достижение поставленной цели осуществляется тем, что камера образца электронного микроскопа снабжена нагрузочным устройством с контртелом, закрепленным на защитном стакане с возможностью перемещения контр- тела в направлении, перпендикулярном к поверхности образца, укрепленного на поворотном столе, ось вращения которого связана с внешним приводом.На. чертеже изображена предлагаемая камера,Камера содержит поворотный стол 1, размещенный внутри защитного стакана 2, в который встроен источник облучения 3, и нагрузочное устройство с контртелом 4. Внутри защитного стакана, коаксиально с ним, установлен азотный экран 5, закрепленный на фланце 6 с герметизирующей прокладкой 7. Камера работает следующим образом, На поворотном столе 1, ось вращения которого связана с внешним приводом, закрепляется предварительно промытый в спирте 5 исследуемый образец и устанавливается защитный стакан 2 с источником облучения 3 и нагрузочным устройством с контртелом 4, позволяющим изменять, например, нормальные и тангенциальные усилия. Для пре дотвращения попадания паров масла на образец с диаметрально противоположной стороны коаксиально по отношению к защитному стакану устанавливается азотный экран 5. Колонна микроскопа откачивается до вакуума 15 порядка 10 - " тор, и снимается дифракционнаякартина с исследуемого образца. Затем образцу придается вращательное движение, поверхность образца с помощью нагрузочного устройства с контртелом подвергается меха ническим воздействиям и непосредственно впроцессе этих воздействий фиксируется изменение дифракционной картины. 25 Предмет изобретения Камера образца электронного микроскопа,содержащая поворотный стол, о т л и ч а ющ а я с я тем, что, с целью исследования 30 структурных изменений в образцах в процессетрения, она снабжена нагрузочным устройст493837 вом с контртелом, установленным с возможностью перемещения контртела в направлении, перпендикулярном к поверхности образСоставитель Б. Калиекред М, Семенов Корректор М. Лейзерм ауло дакт Тираж 833комитета Совета Миниретений и открытий35, Раушская наб д. 4 каз 177/13ЦНИИ ПодписноеСР ов ипография, пр. Сапунов Изд,2043 Государственног по делам из 3035, Москва, Жца, укрепленного на поворотном столе, ось вращения которого связана с внешним приводом.
СмотретьЗаявка
1925467, 01.06.1973
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8584
АПАРИН ВИКТОР ИВАНОВИЧ, ДУХОВСКОЙ ЕВГЕНИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, ЗАХАРОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ, НАСОНКИН ВИКТОР ИВАНОВИЧ, СИЛИН АСКОЛЬД АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01J 37/26
Метки: камера, микроскопа, образца, электронного
Опубликовано: 30.11.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-493837-kamera-obrazca-ehlektronnogo-mikroskopa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Камера образца электронного микроскопа</a>
Предыдущий патент: Способ изготовления окисносвинцовых слоев
Следующий патент: Способ эксплуатации низкотемпературной водордно-кислородной топливной батареи
Случайный патент: Смазка для горнорудного оборудования