Кончук

Номер патента: 676911

Опубликовано: 30.07.1979

Авторы: Грач, Качурин, Кончук, Мельникер, Строганов

МПК: G01N 21/00

Метки: вакуумной, высокотемпературных, испытаний, проведения, среде

...с источником высоковольтного напряжения.На чертеже показана принципиальная схема предлагаемого устройства для проведения высокотемпературных испытаний в вакуумной среде.Устройство содержит металлографический микроскоп 1, вакуумную камеру 2 со смотровым стеклом 8, В вакумной камере 2 размещены исследуемый образец 4, защитная шторка 5 и защитное кварцевое стекло б, Защитное кварцевое стекло б с двух сторон зажато держателями 7, выполненными в виде токопроводящих зажимов, подключенных к источнику высокого напряжения. Между поверхностью защитного кварцевого стекла 6 и держателями 7 поме: щены токопроводящие прокладки 8, выполненные, например, из аллюминиевой фольги,Часть токопрсьодящих прокладок 8 выступает на поверхность защитного...

Номер патента: 319874

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Вишневский, Истомин, Кончук, Корсюков, Лозинский, Мельникер, Свистунов, Строганов, Табаков

МПК: G01N 3/54

Метки: микротвердости, прибор

...присоединяемого с помощью термопары 9, соединенной с гальванометром 10. Объектив микроскопа 11 установлен на кронштейне 12, укрепленном на валике И, На крышке камеры 14 смонтирован механизм 1 б координатного перемещения с жестко укрепленным на нем стаканом 1 б. По оси стакана расположен поворотный валик, укрепленный в подшипнике 17, который жестко установлен во втулке кремальерного устройства 18, служащего для наводки микроскопа на резкость и смонтированного внутри стакана. Отверстие в крышке камеры 14, через которое проходит поворотный валик, герметизировано сальником 19 подвижным уплотнением 20 и патрубком 21, укрепленном на крышке камеры 14, Внутри камеры 4, на кронштейне 12, укрепленном на валике, смонтированы объектив...