Торцовый шлифовальный инструмент

Номер патента: 111347

Опубликовано: 01.01.1957

Авторы: Брысин, Бусыгин

МПК: G01B 5/24

Метки: крыла, малок, наклона, оперения, переменных, плазово-шаблонных, поверхностей, подобных, прибор, работах, самолета, тому, углов, фюзеляжа, элементов

...совмещенных сечений агрегата, поясняющая работу прибора; на фиг. 3 - сечение по ББ на фиг. 2.По прямолинейному пазу 1 основания 2 прибора можно переставлять каретку о, Последняя посредством шарниров 4 соединена с ножками 6 и б. Ножки 6 и 6 соединены, в свою очередь, друг с другом наподобие ножниц шарниром 7. Конец 8 короткого плеча ножкп, шарнирно связан со стрелкой 9, поворотной вокруг оси 10. Шарнирно-рычажный механизм 11 служит для обеспечения строго симметричного раскрывания ножек 6 и 6 относительно оси, проходящей через шарнир 7, парал. лельно оси паза 1.Буквой /г (см, фиг 2) обозначено расстояние меяд конг раин агрегата по нормали на плазе совмещенных сечений, буквой г 1 ( см. фиг. 3) - расстояние между основным и...

Номер патента: 1796896

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Копаев, Крылов, Михайлов

МПК: G01B 11/26

Метки: между, отражающими, углов, элементами

...угла между отражающими элементами, согласно изобретению установку автоколлиматора производят посредствам его перемещения по направляющим колонны, затем сканируют поверхность отражающего элемента, снимая отсчеты угломерных шкал поворотных столов под обьектом и автоколлиматаром,. а угловое положение отражающих элементов рассчитывают по результатам сканирования,На фиг.1 и 2 представлена схема, поясняющая способ измерения взаимного углового положения отражающих элементов.Способ осуществляется следующим образом,Обьект 1 с установленными на нем отражающими элементами 2 и 3 закрепляют на поворотном столе 4, устанавливают контрольный автоколлимационный прибор 5 на уровне отражающего элемента 2, перемещая прибор 5 с площадкой б по...

Номер патента: 779046

Опубликовано: 15.11.1980

Авторы: Баранов, Бурцев, Гаврилко, Дмитриев, Дюжиков, Кабанович, Лапидус, Лытнев, Рыжков

МПК: B24B 37/04

Метки: исправления, кристаллических, среза, угла, элементов

...элементы поджимаютсяк притиру поверхностью фаски нагружающего элемента.На чертеже схематично изображеноустройство;Кристаллические элементы 1, подлежащие исправлению угла среза, располагают в отверстиях кассеты 2 между притиром 3 и поверхностью фаскинагружающего элемента .4. Кассету инагружающий элемент центрируют на не"подвижной оси 5, расположенной эксцентрично относительно оси нритира.Эаготовка для получения кристаллйческих элементов выполняется в виде плоскопараллельнойпластины с припуском на обработку по толщине. Плоские поверхноств этой пластины должныРедактор Ш ужен Заказ 7911/18 Тираж 943 ВНИИПИ Государственного по делам йзобретений 113035, Москва, Ж, Ра Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, ПроектнПодгисн комитета ССС...

Номер патента: 1741032

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Бородин, Волков, Иванова, Рафельсон

МПК: G01N 21/88

Метки: поверхности, подложек, чистоты

...теневого и преломленного изображений капли жидкости, полученного на матовом экране после нанесения капли жидкости на исследуемую поверхность,При значениях краевого угла смачивания О5 измерение диаметров становится затруднительным, поскольку разница диаметров теневого и преломленного изображений становится трудно различимой,Цель изобретения - упрощение контроля чистоты поверхности подложек и повышение точности измерений степени чистоты поверхности подложек при значео ниях краевого угла смачивания5 .Поставленная цель достигается тем, что в устройстве контроля чистоты поверхности подложек, содержащем источник света, дозатор капель рабочей жидкости и регистрирующее устройство, последнее выполнено в виде фотодиода, подключенного к пиковому...

Номер патента: 111923

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Дручак, Квачева

МПК: G01B 11/30, G01B 15/04, G01D 5/39

Метки: поверхности, чистоты, шероховатости

...изображения реального профиля поверхности образца; на фиг. 2 - изображение реального профиля части образца; на фиг. 3 и 4 - электронограммы профиля поверхности шара после полировки и доводки; на фиг, 5, б и 7 - электронограммы профиля участка поверхности шарика после длительной эксплуатации.В предлагаемом способе исследования микрогеометрии поверхности образца любой конфигурации разработана схема применения приборас отраженным пучком электронов при включении только одной (второй) электромагнитной линзы.Схема применения прибора состоит из источника электронов 1, первой электромагнитной линзы 2, второй электромагнитной линзы Г, образца 4, пучка электронов б, экрана или фотопластинки б, На фиг. 2 представлено теневое...