Спектральный прибор

Номер патента: 705986

Опубликовано: 30.03.1982

Авторы: Волков, Лысогоров, Мизеров, Портной, Смирницкий

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционной, монокристалла, поверхности, решетки

...шагом и различными углами блеска. Решение этой проблемы позволяет существенно расширить спектральный интервал таких приборов, что ведет к расширению круга задач, решаемых,ими. Кроме того, при создании целого ряда интегрально-оптических и оптоэлектронных приборов возможность получать решетки с различными углами блеска позволяет направленно изменять их основные характеристики.Предлагаемый технологический процесс изготовления решетки заключается в следующем.Изготавливают монокристалл (подложка будущей решетки) с исходной кристаллографической плоскостью, наиболее устойчивой к какому-либо химическому травителю (аналогично устойчивой к фотохимическому травителю или устойчивой при ионно-плазменном распылении).705986 Рабочую поверхность...

Номер патента: 1835966

Опубликовано: 20.06.1999

Авторы: Дикаев, Миргородская

МПК: H01L 21/312

Метки: дифракционной, монокристалла, поверхности, решетки

Способ изготовления дифракционной решетки на поверхности монокристалла, включающий формирование на поверхности монокристалла фоторезистивной решетчатой маски с равной шириной полосы и промежутка голографическим методом, анизотропное вытравливание через маску канавок трапециевидного или треугольного профиля и удаление маски, отличающийся тем, что, с целью получения дифракционной решетки с удвоенной пространственной частотой, перед удалением фотомаски на структуру напыляют металлическую маскирующую пленку толщиной не более полуширины полосы фоторезистивной решетчатой маски, после удаления маски проводят повторное анизотропное вытравливание канавок аналогичного профиля в открытых от...

Номер патента: 1781

Опубликовано: 30.10.1926

Авторы: Голощапов, Черкез

МПК: B44F 1/10, G09F 19/02

Метки: изображений, проекционного, сменных, фонаря

...мейду а, р, Р, л, Имея в виду, что л величина постоянная, равная измерению просвета решетки, устанавливают: а тем меньше, чем меньше р и чем больше Р, т.-е. величина передвижения штанг (11 вправо и влево, 12 вверх и вниз) тем меньше, чем ближе укреплены штанги к оси рычагов 7 и 8, чем далыне осьплоскости решетки. Ролики 3 и 4 приводятся в движение, когда движутся штанги 11 и 12, прикрепленные к рычагам 7 и 8 в точках между их осями и центрами роликов 3 и 4 и имеющие на пересекающихся концах одинаковой ширины прямоугольники 13 и 14, Эти прямоугольники, находясь один над другим, образуют совместно квадратный вырез 15, Под этим вырезом помещен плоский диск 17, приводимый посредством передач (червяка и обыкновенных) в движение,...

Номер патента: 556274

Опубликовано: 30.04.1977

Авторы: Имамутдинов, Назаренко

МПК: F23C 3/02

Метки: кускового, потоке, пульсирующем, сжигания, твердого, топлива

...Знаменит им, В. И. Ульянова-Ленин5511274 Формула изобретения 30 40 50 В. БогородскийПозняковская Корректор Л. Денискина Заказ 992/5 Изд.388 Тираж 722 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и бткрытпй 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 интенсификация процесса горения кускового топлива при слоевом его сжигании.Это достигается тем, что внутри шахты над верхней решеткой установлена открытая с обоих концов труба, сечение которой меньше сечения шахты, но не более, чем в 4 раза. Труба является резонатором возникающих в шахте при горении топлива акустических колебаний.На чертеже схематично изображено предлагаемое устройство в разрезе.В вертикальной шахте 1...

Номер патента: 1103125

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Конников, Уманский

МПК: G01N 23/20

Метки: гетероструктуры, постоянной, решетки

...О дуемый образец, скалывая гетероструктуру по плоскости, перпендикулярной гетерогранице,облучают нолученную плоскость скола и по виду дифракционных линий судят о характере распределения постоянной решетки по толщине гетероструктуры, при этом изменение величины постоянной решетки по толщине гетероструктуры определяют по формуле где а(1) - постоянная решетки слоевгетероструктуры, А; 25а - постоянная решетки подоложки,М - разность длин волн дублетаК, иК,3,;М Ю.Ъ - средняя длина волны дублета,Ьг - расстояние между дифракционными линиями дублетаК и К на рентгенограмме, мкм;35Ьг(й) - зависимость расстояниямежду дифракционными линиями слоев гетероструктуры и подложки по толщине слоев, мкм, 40Размеры источника 1-2 мкм, что не.обходимо .для...