Способ лазерного контроля качества поверхности материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(57) Изобрете щему контрол использовано хностной мат повышение то что качество ределяется в временно по и контролируем ча и по величи ние от) ю мат для ко ериало ч ности поверх дистил нтенс ой пов не его осится к неразр ериалов и може нтроля качества в. Цель изобрет . Цель достигает настей материал лированной воде вности отраженн ерхности лазерн светового пятна шаюбыть веря тем, ов оп- одноого от ого лу 1 ил,ОСУДАР СТВЕ ННЫ Й КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ И(54) СПОСОБ ЛАЗЕРНОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛОВ Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для контроля качества поверхностей материалов.Известен оптический метод обнаружения поверхностных дефектов 11,Способ заключается в том, что на контролируемую поверхность от лазерного источника излучения под определенным углом направляется расходящийся плоский пучок, который под действием дефектов поверхности рассеивается и, отражаясь, падает на фотоприемную линейку, состоящую иэ 2048 элементов, выходной сигнал которой зависит от состояния поверхности,Наиболее близким к заявляемому является способ контроля качества поверхностей материалов, реализуемый с помощью лазерного устройства (2), заключающийся в сравнении интенсивности света, генерируемого лазером и отраженного от контролируемой поверхности, с интенсивностью света, отраженного от эталонной поверхности, по которому и судят о наличии поверхностных дефектов. Недостатками этих способов является сложность создания идентичных условий в воздушной среде при измерении интенсивности лазерного луча, отраженного от контролируемой и эталонной поверхностей, а также невозможность измерения величины светового пятна от отраженного лазерного луча, по которой определяется характер дефектов поверхности в способе,Целью изобретения является повышение точности контроля качества поверхностей материалов.Указанная цель достигается тем, что качество поверхностей материалов определяют в дистиллированной воде, обладающей более стабильными характеристиками по сравнению с воздушной средой, одновременно по интенсивности отраженного от контролируемой поверхности лазерного луча и по величине его светового пятна,На чертеже представлено устройство, реализующее способ.Устройство состоит из емкости 1, заполненной дистиллированной водой 2, в которую помещен кронштейн 3 с закрепленным на нем образцом поверхности 4, лазера 5(мощностью 10-100 Вт), жестко закрепленного на кронштейне преобразователя 6, источника 7 энергии мерной линейки 8,установленной на прозрачной стенке емкости, лйнзы 9 и фотокамеры 10. 5Работа устройства осуществляется следующим образом,На кронштейн 3 помещается контролируемый образец поверхности 4, Емкость 1заполняется дистиллированной водой. На 10контролируемую поверхность направляется под углом 45 генерируемым лазером 5луч. Отраженный от поверхности лазерныйлуч фокусируется линзой 9 и регистрируетсяфотокамерой 10, а величина светового пятна от отраженного лазерного луча замеряется на мерной линейке 8,По интенсивности отраженного лазерного луча и величине светового пятна опре 20 деляют качество контролируемых поверхностей мате риалов. Формула изобретения Способ лазерного контроля качества поверхности материалов, заключающийся в том. что на контролируемую поверхность под определенным углом направляют лазерный луч, измеряют интенсивность и величину светового пятна, отраженного от поверхности луча, и по ним определяют качество поверхности, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности путем обеспечения возможности одновременного измерения интенсивности и величины светового пятна отраженного лазерного луча, контролируемую поверхность помещают в дистиллированную воду.
СмотретьЗаявка
4798074, 16.01.1990
А. К. Бровцын, Л. Г. Здесенко и А. Г. Акимов
БРОВЦЫН АНАТОЛИЙ КУЗЬМИЧ, ЗДЕСЕНКО ЛЕВ ГРИГОРЬЕВИЧ, АКИМОВ АЛЕКСАНДР ГЕОРГИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/00
Метки: качества, лазерного, поверхности
Опубликовано: 07.09.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1760441-sposob-lazernogo-kontrolya-kachestva-poverkhnosti-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ лазерного контроля качества поверхности материалов</a>
Способ регистрации места падения электронного луча на поверхности полупроводника в вакууме
Номер патента: 1669327
Опубликовано: 10.11.1995
Авторы: Асалханов, Домбровский, Иванов
МПК: H01J 29/51
Метки: вакууме, луча, места, падения, поверхности, полупроводника, регистрации, электронного
СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ МЕСТА ПАДЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ЛУЧА НА ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКА В ВАКУУМЕ, включающий очистку поверхности полупроводника и облучение ее электронным лучом, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона регистрации низкоэнергетического электронного луча при упрощении способа, одновременно с облучением поверхности полупроводника электронным лучом дополнительно осуществляют сканирование поверхности сфокусированным световым лучом, при этом регистрацию места падения электронного луча проводят по изменению величины тока электронного луча в момент совпадения места падения электронного и светового лучей.
Способ определения качества обработки стеклянной шлифованной поверхности
Номер патента: 102321
Опубликовано: 01.01.1956
Автор: Городинский
МПК: G01B 11/30, G01D 5/26
Метки: качества, поверхности, стеклянной, шлифованной
...в Фокусе объектива (2), и прямоугольной призмы (3), наклоненной под углом 3 к горизонтальной плоскости для обеспечения заданного угла иддеция лучей света в 84. Перед объективом (2) рдсположгна црисоВл диафрагма ( ) дл цзгцсиц Величины иат;нищ 5 ца исследуемую поверхность эигрггти еского потока цзлучгцил. ПРок сВстд, Выходпццй цз коллимдтора, падает на цлиФовацную (исследуемую) поверхность, а отраженные от исо лучи попадают на прямоугольную призму (о), также наклоненную под углом 3 к горизонтальной плоскости, и собираются в Фокусе объектива (6) иа диаФрагме (7), за которой расположены двояковопутая линза (8) и сернисто-серебряный Фотоэлемент (9), сосдинсцнтдй со стрелочным гальвдцомстром (10). Для исключения рассеянного света между...
Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей
Номер патента: 200227
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Клочкова, Контиевский
МПК: G01B 11/30, G01B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей
...4 и б. Интерференцпонная картина, представляющая собой полосы равной толщины, наблюдается визуально за диафрагмой 8, находящейся в фокальной плоскости объектива 3. Лучи направляются в наблюдательную систему с помощью светоделительной пластины 9.Между объективом 3 и пробным стеклом 5 введен блок, состоящий из нескольких призм Дове 10. Отражающие грани и главные сечения призм параллельны выходящему из объектива пучку лучей, причем отражаюгцие грани всех призм Дове лежат в одной плоскости, что достигастся установкой призм на плоско- параллельную стеклянную пластину 11.Если в наблюдаемой интерференционной картине полосы равной толщины направлены параллельно плоскости, в котороп лежат отражающие грани призм Дове, а изображения полосы,...
Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей
Номер патента: 269527
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Контиевский
МПК: G01B 11/30, G01B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей
...8 и 9, расположенных в фокальных плоскостях объективов 10 и 11, имеющих одипаковые фокусныс расстояния, свстоделительной пластины 12, зеркал 18 - 15, блока 1 б призм Дове, ромб 11 чсских призм 17 и 18,Световой поток от источника 1 монтического излучения через конденсор щает диафрагму 8. Параллельный п чей, выйдя из объектива 4 и отразив светоделительной пластины 5, падает н но на эталонную поверхность пробног б. Отраженные от поверхности стекла поверхности контролируемой детали интерферируя друг с другом, образую 10 ференционную картину, локализовавоздушном промежутке между поверх стекла б и детали 7. Интерференционная картина, представляю щая полосы равной толщины, наблюдаетсядвумя глазами через диафрагмы 8 и 9, Лучи направляются в...
Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей
Номер патента: 339772
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Дтег, Клочкова, Контиевский, Холопова
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических, плоских, поверхностей
...интерференционную картину, чем в известныхинтерферометрах,На чертеже показана схема предлагаемогоинтерферометра.Интерферометр включает осветительную си 15 стему 1 и наблюдательную систему 2, В осветительную систему входят источник 3 излучения, конденсор 4, диафрагма 5, объектив б,светоделитель 7 и зеркало 8, Наблюдательнаясистема включает зеркало 9 светоделитель 10,20 объектив 11 и диафрагму 12.Оптическая ось осветительной системы иоптическая, наблюдательность системы составляет различные углы с контролируемой плоскостью 13.25 Предлагаемый интерферометр работает следующим об р а вом.На контролируемую поверхность падаютдва пучка лучей, Углы падения этих пучковравны т 1 и 4. Интерференционная картина30 изучается наблюдателем, находящимся...
Предыдущий патент: Способ определения упругих характеристик твердых тел
Следующий патент: Электромагнитно-акустический преобразователь для токопроводящих материалов
Случайный патент: Способ лечения глаукомы