Способ контроля размеров детали

Номер патента: 1610225

Автор: Хайкин

ZIP архив

Текст

(51) 5 ельство СССР5/02, 1977,6) Авторское свид676856, кл. С 01 РАЗМЕРОВ ДЕТАЛЕ змери- спользо сится кет быть ГООУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГННТ СССР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(57) Изобретение отнтельной технике и мож вано при контроле деталей в трехкоординатной системе. Цель изобретения -повыщение точности измерения. Это достигается тем, что контролируемую деталь 1 базируют относительно системыортогональных координат ОХУЕ, контрольразмеров осуществляют по линии 2 измерения, а систему координат поворачивают вокруг оси 3, равноудаленной отосей координат и проходящей через ихначало, таким образом, что каждая иэкоординатных плоскостей перпендикулярна линии измерения. 3 ил .1 б 10225 Формула и э о б р е т е н и я иг. Л оставитель В, Жнляевехред М.Дидык Корректор Т. Мале Реда А. Огар Заказ 3726 Тираж 492 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытия 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ГКНТ СССР роиэводственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул . Гагарина, 10 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле деталей в трехкоординатной системе, 5Цель изобретения - повьппение точности измерения.. На фиг. 1 представлена схема измерения детали при расположении координатной плоскости ХОУ перпендику лярно линии измерения; на фиг. 2- то же, относительно плоскости ХОЕ; на фиг, 3 - то же, относительно плоскости УОЕ,На фиг, 1-,3 обозначены, контроли ,руемая деталь 1 в системе координат ОХУЕ, линия 2 измерения, ось 3 равно- удаленная от осей координат и проходящая через их начало 0; А-А; Б-Б, В-В, Г-Г - линии измерения, перпенди кулярные координатной плоскости ХОУ, Д-Д , Е-Е - линии измерения, перпендикулярные плоскости УОЕ, И-Ж, 3-3, И-И, К-К - линии измерения, перпендикулярные плоскости ХОЕ, 25Способ осуществляют следующим образом.Деталь 1 базируют относительно системы ортогональных координат ОХОТЕ. Поворотом системы координат вокругоси 3 устанавливают одну из координатных плоскостей, например ХОУ перпендикулярно линии 2 измерения и осуществляют контроль детали по выбраннойпрограмме. Затем поворотом системыкоординат вокруг оси 3 устанавливаютперпендикулярно линии 2 измерения вторую координаТную плоскость и т,д,до осуществления всей программы контроля. Способ контроля размеров детали, по которому деталь базируют относительно системы. ортогональных координат, последовательно обеспечивают перпендикулярность каждой координатной плоскости к линии измерения н осуществляют контроль, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью повьппения точности измерения, обеспечение перпендикулярности осуществляют путем поворота системы координат вокруг оси, равноудаленной от осей координат и проходящей через их начало.

Смотреть

Заявка

4452953, 29.06.1988

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-7555

ХАЙКИН ЯКОВ ШЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 5/02

Метки: детали, размеров

Опубликовано: 30.11.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1610225-sposob-kontrolya-razmerov-detali.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля размеров детали</a>

Похожие патенты