Устройство свч

Номер патента: 1328766

Опубликовано: 07.08.1987

Авторы: Головков, Кузнецов, Недвецкая, Осипов, Павлов

МПК: G01R 27/26

Метки: входа, отражения, параметров, свч-элементов, сигнала

...6 обработки и программного управления поочередно подключает датчики 11 к входу АЦП 5, с выхода которого информация о величине напряженности поля в отрезке микрополосковой линии ных составляющих светового луча (необыкновенный луч) приобретает Фазо- .вьй сдвиг, онределяемый выражением 2, 2 2= 1 с 11 .з 1 п - й + 1 с 11 з 1 п1 Ъ1 Таким образом, в режиме калибровки устанавливается длина удлинителя 13 аптического пути, равная 11=(И + - ). В этом случае вышедший8из подложки отрезка микрополосковой линии 2 луч имеет сдвиг Фазы необыкновенного луча, пропорциональный квадрату амплитуды поля в данном сечении отрезка микрополосковой линии 2 и независящий от времени. Отградуировав предварительно устройство, изменяющее длину оптического пути...

Номер патента: 1526521

Опубликовано: 10.10.2005

Авторы: Барладян, Мякишев, Ожерельева

МПК: H01L 27/02

Метки: интегральная, свч, схема

Интегральная схема СВЧ, содержащая макрокристалл арсенида галлия с металлизированной нижней поверхностью, на верхней поверхности которого содержатся активные и пассивные элементы, элементы с субмикронными размерами, полевые транзисторы с электродами затвора и стока, соединенными с отрезками микрополосковых линий, и с электродами истока, соединенными с нижней поверхностью через сквозное отверстие, отличающаяся тем, что, с целью увеличения степени интеграции и уменьшения теплового сопротивления, элементы с субмикронными размерами выполнены по крайней мере на одном отдельном микрокристалле, при этом полевые транзисторы на микрокристалле имеют на всех электродах выступы, расположенные в...

Номер патента: 1688319

Опубликовано: 30.10.1991

Авторы: Ляшенко, Талалаевский, Хвастухин, Чевнюк, Яковлев

МПК: H01P 1/215, H01P 1/30, H01P 9/00

Метки: свч-элемент, структуре, ферритовой, эпитаксиальной

...2 при изгибе термобиметаллической пластины 3, что и обеспечивает достижение цели, 1 ил. пластина 3, температурный коэффициент расширения которой со стороны подложки 1 больше температурного коэффициента расширения другой стороны.СВЧ-элемент на эпитаксиальной ферритовой структуре работает следующим образом.При изменении температуры изменяется намагниченность насыщения пленки 2, ее константы магнитной анизотропии и упругие напряжения на границе подложка 1 - пленка 2, Это вызывает изменение магнитных полей в пленке 2; размагничивающего поля, эффективного поля кристаллографической магнитной анизотропии и поля одноосной анизотропии, вызванного упругими напряжениями, что должно было бы приводить к температурному смещению рабочей1688319...

Номер патента: 1737361

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Головков, Кузнецов, Осипов, Приходько

МПК: G01R 27/06

Метки: входа, отраженного, параметров, свч-элемента, сигнала

...отражения от исследуемого СВЧ-элемента 8 в секциях измерительной линии 6 устанавливается режим смещенных волн. Луч когерентного света, генерируе 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 мый лазером 1, в делителе света 2 делится на три луча равной интенсивности, которые поступают на оптические входы каждого датчика. После прохождения системы коллимирующих линз 18 и поляризатора 19 линейно поляризованный луч света поступает в фазовую ячейку 20, представляющую собой первую секцию измерительной линии 6, свет в которой распространяется в направлении, параллельном направлению распространения СВЧ-волны,Поскольку диэлектрические подложки секций 20 измерительной линии 6 выполнены из кристаллов, обладающих электрооптическим эффектом, то после их...

Номер патента: 1741034

Опубликовано: 15.06.1992

Авторы: Воронов, Головков, Осипов, Павлов, Приходько

МПК: G01N 22/00, G01R 27/26

Метки: входа, отражения, параметров, свч-элементов, сигнала

...для реализации интерференции двух световых лучей,прошедших через сечение измерительной линии 2. Фотоприемник 13 предназначен для преобразования интенсивности светового луча на выходе сумматора 12 света в электрический сигнал. Источник 3 смещения предназначен для установки требуемой рабочей точки на модуляционной характеристике интерферометра.Устройство работает в двух режимах; режиме калибровки и режиме измерения,В режиме калибровки к измерительной линии 2 вместо исследуемого элемента подключается эталонная короткозамкнутая линия. Сигнал СВЧ-генератора 1 поступает на вход измерительной линии 2 и далее на эталонную линию. В результате интерференции падающей и отраженной волн СВЧ-сигнала в измерительной линии устанавливается режим...