Способ записи информации в элемент памяти на -канальном моп-транзисторе (его варианты)
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
нт СССР. 9 664586,1 Ь 29/76, 1975. кл. ЬР ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ 3466359/24-2407.07.8230.01.87. Бюл. У 4А.С.Свердлов и Б.М.Соскин681.327.66 1088.8)1 ЕЕЕ "Эоцгпа 1 оГ 8 о 1 Ы .Втайне1 сз ЧЯС, В 5, 1972, рр.369(54) СПОСОБ ЗАПИСИ ИНФОРМАЦИИЗПЕМЕНТ ПАМЯТИ НА иАНАНОМОП-ТРАНЗИСТОРЕ ЕГО ВАРИАНТЬ(57) Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при построении полупроводниковых запоминающих устройств.Цель изобретения - повьппение надежности записи информации в элементпамяти на О-канальном МОП-транзисторе - достигается увеличением амплитуды импульса записи, равной потенциалу вторичного п-обоя стоковогоперехода МОП-транзистора, либо увели-.чением амплитуды напряжения на подложке до величины, при которой происходит вторичный пробой стокового перехода"МОП-транзистора, 1 з.п. ф-лы.Заказ 7724/56 Тираж 589 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул. Проектная, 4 128723Изобретение относится к вычислительной технике и может быть исполь зовано при построении полупроводниковых запоминающих устройств.Целью изобретения является повыше ние надежности записи информации.При возникновении вторичного пробоя р-п-перехода стока транзистора в области пространственного заряда (ОПЗ) вблизи стока усиливается гене рация электронно-дырЬчных пар. Ток дырок создает положительный потенциал подложки в области между истоком и стоком транзистора, смещает в прямом направлении истоковый р-и-переход, вызывая тем самым инжекцию электронов из объемной части истокового р-и перехода в объем подложки, В результате концентрация электронов в подложке транзистора возрастает.Эти электроны, попадая в ОПЗ, созданную затвором под каналом транзистора, увлекаются полем к поверхности, приобретая энергию, достаточную для преодоления барьера между крем,нием и окислом.Процесс инжекции из подложки происходит при меньших потенциалах ижектирующей области, чем инжекция иэ канала. Поэтому плавающий затвор при таком процессе получает больший заряд, что ведет к большему сдвигу порогового напряжения, т.е. более эффективной записи.Вторичный пробой стокового р-и пе рехода транзистора может быть вызван различными путями: увеличением стокового напряжения при записи; подачей на подложку напряжения смещения. 40Величина стокового напряжения, вызывающая вторичный пробой, зависит от множества электрофизических параметров транзистора, параметров подложки, концентрации и проФиля распре деления легирующей примеси в канале, параметров р-и перехода стока (глубина, резкость и др.) параметров затвОрного диэлектрика, потенциала затвора и т.д, и поэтому может быть определена только экспериментально для каждого конкретного случая с помощью обычных электрофизических измерений.Например, процесс вторичного пробоя легко обнаруживается и может быть изучен экспериментально по осциллограмме стокового тока или, что более удобно, по вольт-амперным характеристикам транзистора, показывающим связь тока стока с напряжением на стоке.Таким образом, за счет осуществления вторичного пробоя стокового перехода транзистора повышается надежность записи в него информации,1, Способ записи информации в элемент памяти на и-канальном МОП-транзисторе, заключающийся в подаче на сток МОП-транзистора импульса записи номинальной длительности, о т л и - ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения надежности записи, импульс записиподают с амплитудой равной потенциалу, или большей потенциала вторичного пробоя стокового перехода МОЧ-транзистора.2. Способ записи информации в элемент памяти на и-канальном МОП-транзисторе, заключающийся в подаче на сток МОП-транзистора импульса записи номинальной длительности о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения надежности записи напряжение записи по амплитуде, рав - ного потенциалу вторичного пробоя стокового перехода, подают на подложку МОП-транзистора,
СмотретьЗаявка
3466359, 07.07.1982
ОРГАНИЗАЦИЯ ПЯ Х-5263
СВЕРДЛОВ АЛЬФРЕД САМУИЛОВИЧ, СОСКИН БОРИС МОИСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G11C 11/40
Метки: варианты, его, записи, информации, канальном, моп-транзисторе, памяти, элемент
Опубликовано: 30.01.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1287231-sposob-zapisi-informacii-v-ehlement-pamyati-na-kanalnom-mop-tranzistore-ego-varianty.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ записи информации в элемент памяти на -канальном моп-транзисторе (его варианты)</a>
Предыдущий патент: Накопитель информации для запоминающего устройства на цилиндрических магнитных доменах
Следующий патент: Элемент памяти
Случайный патент: Устройство для моделирования трехфазного мостового вентильного преобразователя