Оптическое устройство для формирования и передачи изображения

Номер патента: 921865

Опубликовано: 23.04.1982

Авторы: Бочаров, Довгялло, Коляго

МПК: B29C 1/04

Метки: поверхностей, пресс-форм, формующих

...в качестве очищающего агента используют полиуретан, который запрессовывают в прессформу, полностью заполняя формующие полости, а выдержку пресс-формы осуществляют при температуре 160-200 С и давлении 11,9-19,6 МПа, после чего ее охлаждают до температуры 20-120 С,В используемых полиуретановых материалах или их отходах имеются термически неустойчивые химические связи (мочевинные, биуретовые, аллофа 5 о 15 го Д 5 зо 35 40 45 натные и др.), которые при температуре выше 160 С подвергаются обратимой термической диссоциации с образованием химических групп, обладающих высокой полярностью и реакционной способностью. Благодаря распаду связей полиуретан при повышенной температуре и давлении приобретает те" кучесть и плотно прилегает к...

Номер патента: 1065683

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Казак, Чебакова

МПК: G01B 11/25, G02B 27/60

Метки: отклонения, поверхности, сложной, формы

...контроля отклоне 30 ний формы целесообразно использовать в качестве стадии технологического процесса формообразованияасферической поверхности без съемадетали со шпинделя станка. Если же35 при вращении детали 18 луч 20 описывает в обратном ходе окружностивокруг самого себя в прямом ходе,то при помощи юстировочных подвижексистемы 2 можно совместить в прост 40 ранстве оба хода луча 20, напримерпри визуа.льном наблюдении этого совмещения на полупрозрачной поверхности 13. Далее вводится в ход луча,20оптическая система 2, и ось этойсистемы 2 устанавливается сооснооси симметрии детали 18, причем положение соосности контролируетсятакже на указанной полупрозрачнойповерхности 13 по постоянству к:ртины совмещения луча 20 в прямоми обратном ходе,...

Номер патента: 1610248

Опубликовано: 30.11.1990

Авторы: Горшков, Лазарева, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, поверхности, сферических, формы

...линзовой системы в сторону контролируемой детали 13 обращают ту из эталонных поверхностей,радиус кривизны которой ближе по значению к радиусу кривизны контролируемой поверхности. В процессе работы интерферометра на эталонную и контролируемую поверхности должно обеспечиваться нормальное падение лучей, Афокальный компенсатор и линзовая система сообща преобразуют гомоцентрический пучок, выходящий из обьектива 7, в гомоцентрический пучок, вершина которого совмещена с точками С и Ск, где располагаются центры кривизны эталонной и контролируемой поверхностей 12 и 13 соответственно. Рабочая интерференционная картина образуется в результате взаимодействия волновых фронтов, отраженных от поверхностей 13 и 12, причем поверхность 12 выполняет...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...

Номер патента: 1562687

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Клева

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/52

Метки: объекта, поверхности, формы

...схема, реализующая способ определения формы поверхности. Схема содержит кювету 1 с плоской стеклянной стенкой 2, помещенные в кювету 1 исследуемый объект 3 и контрольный объект 4, светоделитель 5, формирующий из коллимированного пучка 6 копучки, зеркалои фотоаппарат 9ерферограммы.об осуществляется следующимметодом двух экспозиций, заполняя кювету перед первой и второй экспозициями жидкостями с различным коэффициентом преломления. 511 осле фотохимической обработки фотопластинку 8 с записанным голографическим изображением устанавливают на прежнее место в оптической схеме, убирают светоделитель 5 и Фотоаппара том 9 регистрируют интерферограмму одовременно для поверхностей исследуеМого 3 и контрольного 4 объектов. ПоЛучают фотографию...