Способ определения состояния поверхностных слоев материалов пар трения

Номер патента: 1797045

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Беженов, Ройтман, Хуповка

МПК: G01N 29/14

Метки: акустоэмиссионный, изделия, поверхностного, слоя, состояния

...что изделие нагружают изгибом до предела текучести и регистрируют напряжения и сигналы акустической эмиссии, по которой судят о состоянии поверхностного слоя изделия, нагружение изгибом осуществляют где Мдэ- знэмиссии;а - текущее значение напряадэ - значение напряжения,ствующее началу изменения акустисионной активности материала;ат - предел текучестиА,С,К - коэффициенты, постоянданного материала,Полученная интегральная акустисионная зависимость имеет два(см.фиг.1). Пологий участок (О сгсоответствует области упругости ачение суммарной акустической ступенчато, регистрацию акустической эмиссии осуществляют между ступенями нагружения, а в качестве параметра акустической эмиссии используютсуммарнуюакусти ческую эмиссию,. регистрируют...

Номер патента: 172528

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Барбалат, Костецкий, Плт

МПК: G01M 13/04, G01N 3/56

Метки: непрерывного, пар, проводящей, работы, разделенных, слоем, токсмазки, трения, электрический

...поверхности испытуемого подшипника, соприкасающегося с рабочей средой, уСтанавливается спрсдсленный электрический потенциал, который совместно с,потенциалом электрода 5 дает определснную разность потенциалов, регСтрнруехуо измерительным ,прибором 5. В момент начала раооты пары трения иприложения нагрузки происходит разрушение исходных тончайших окисных слоев, всегда нрнсутСтвующнх на металлической поверхно сти, что привозит к измененшо электричвокогоготенцнала на поверхности пары трения, которое регистрируется измерительным прибором в виде начального скачка потенциала,В дальнейшем, нри нормальной эксплуата цнии подвижного соединения, наряду с разрушением наружных окисных слоев происходит образование новых окисных пленок. Таким образом,...

Номер патента: 864060

Опубликовано: 15.09.1981

Автор: Гудзь

МПК: G01N 11/14

Метки: вязкости, мономолекулярных, поверхностной, слоев

...всех дальнейших измерениях остаются неизменными, приступают к измере нию вязкости мономолекулярных слоев веществ . Для этого чувствительный элемент (диск 1) перемещают вместе с устройством вдоль вертикали и приводят его в контакт с чистой подложкой, находящейся в кювете. Затем выверяют "нуль" устройства по горизонтально расположенной миллиметровой шкале 13 амплитуд, т.е. поворотом юстировочной головки 10 в горизонтальной плоскости приводят в движение механическую подвижную систему через токопроводящие упругие элемен.ты 7 так, чтобы световой поток, направленный в горизонтальной плоскости от осветителя, попадал при помощи эерк.-ла 5 на нулевое деление горизонтально расположенной миллиметровой шкалы амплитуд (А=О, Км= + 00) . Затем путем...

Номер патента: 894500

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Александров, Афанасьев, Болдырев, Имамов, Ковальчук, Лобанович, Фалеев

МПК: G01N 23/207

Метки: исследования, монокристалла, поверхностного, слоя, совершенства, структурного

...с энергией25 кэВ при дозах 3,110 см- и6,210"ф см . Измерения производились на трехкристальном спектрометре при использовании СцК,- излучения и симметричного отражения типа (Ш),На Фиг.б показана серия спектровкремния облученного ионами бора сдозой 3,1 10" см-, а на фиг.7представлены хвосты двухкристальной кривой отражения от этого кристалла, причем пунктиром показанакривая отражения до облучения. Изфиг,7 видно, что при углах, меньшихбрегговского, появляется дополнительная область днфракции, тогда какс другой стороны кривая отраженияпрактически совпадает с кривой от"ражения ненарушенного кристалла.Этот факт находит четкое выражениев трехкрнстальных кривых, полученных предлагаемым способом, При по"вороте кристалла в сторону большихуглов...

Номер патента: 1310619

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Бабарин, Горбаш, Делендик, Зацепин, Кащенко, Коренной

МПК: G01B 7/06

Метки: обработанных, поверхностно, слоев, толщины, ферромагнитных, электропроводящих

...Это максимальное различие определяют по максимуму выходного сигнала вихретокового преобразователя, в зону контроля которого помещают обработанное изделие, причем частоту тока возбуждения выбирают так, чтобы минимальная глубина проникновения магнитного поля в материал изделия была больше максимальной из измеряемых толщин обработанного слоя, но меньше минимальной толщины контролируемого изделия. Способ измерения толщины поверхностно обработанных слоев ферромагнитных электропроводящих изделий осуществляют следующим образом.Контролируемое изделие 8 с поверхностно обработанным слоем 9 размещают в зазоре магнитопровода 4 электромагнита, обмотка 5 которого питается от сети через стабилизированный выпрямитель 7 с регулятором 6 напряжения,...