Способ изготовления шпона

Номер патента: 433570

Опубликовано: 25.06.1974

Авторы: Митрофанов, Смирнов, Чеховской

МПК: H01L 21/304

Метки: выступающих, дефектов, поверхности, слоев, удаления, эпитаксиальных

...удаляя выступающие дефекты, могутповредить эпптаксиальный слой.Цель изоорстения - создание способа, позволяющего повысить качество поверхностиэпитаксиальных слоев, т. е. удалить острые10 выступающие дефекты без влияния на остальную поверхность эпитаксиального слоя,Это достигается тем, что предварительновсю поверхность эпитаксиального слоя окисляют, а шлифование осуществляют с по 15 мощью плоского полировальника с канавкаНа чертеже схематически представлена полупроводниковая пластина с эпитаксиальнымслоем на операции обработки с помощью20 плоского полировальника,По предлагаемому способу после эпитаксиального выращивания слоя 1 на полупроводниковой пластине 2 всю поверхность эпитаксиального слоя 1 окисляют. Окисел выполня 25 ет функцию...

Номер патента: 1562703

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Добродеев, Капранов, Таценко

МПК: G01B 21/00

Метки: качества, поверхности, процессе, световодов, торцов

...из фотодетекторов 12, закрепленных в,вершинах конических углублений элемента 9 вывода и сумматора 13, входы которого соединены, соответственно, с выходами фотодетекторов 12, а выход является выходом второго Фотоприемника 10.Устройство, реализующее способ, работает следующим образом.Световод 14 вставляется необрабатываемым торцом в элемент 5 ввода ,таким образом (фиг.2), чтобы сердечник 15 световода 14 вошел в его узкую часть, а сам световод 14 (вместе с оболочкой 16) - в его широкую часть,Световод 14 помещается также в отверстие элемента 9 вывода. При этом помещаемая в элемент 9 вывода часть поверхности оболочки 16 предварительно протравливается или подвергается механической обработке с тем, чтобы придать ей яекоторую шероховатость....

Номер патента: 1272191

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Дорофеев, Дорофеева, Евдокимов, Крестов

МПК: G01N 19/08

Метки: заполнителем, качества, панелей, перфорированным, слоев, сотовым, сцепления, трехслойных

...поверхность наружных слоев трехслойной панели с перфорированным сотовым заполнителем наносят оптически чувствительное покрытие в видетермоусаживающейся полиэтиленовойпленки, которая обладает эффектомдвулучепреломления, Края пленки соединяют пайкой для герметизации панели, после чего осуществляют термообработку панели путем обдува воздухомпри 80 - 90 С. При этом пленка термоусаживается, плотно облегает панельи приобретает свойства оптически изотропного материала, При температуретермообработки ниже 80 Спленка остается упругой и не облегает панель, При температуре термообработки выше 90 С пленка теряет свойства восстанавливаемостии упругости. После термообработки панели в полости заполнителя подают газпод давлением, под действием...

Номер патента: 1749704

Опубликовано: 23.07.1992

Авторы: Абульханов, Данилов, Копытин, Скуратов, Трусов, Федоров

МПК: G01B 11/30

Метки: детали, качества, отверстий, поверхности

...в положение прикотором он перекрывает образующую внутренней поверхности исследуемого кольца30 29, а путем перемещения траверсы 31, посредством вращения вертикального ходового винта 34, между исследуемойповерхностью кольца 29 и волоконно-оптическим датчиком 39 устанавливается зазор35 равный 12 мм.При этом калибровка устройства осуществляется по одному из двух эталонных колец-кольцу, на поверхности которогоприжоги отсутствуют, или кольцу, поверх 40 ность которого сплошь покрыта прижогами(100 ), и с помощью управляемого источника питания 2 на схеме индикации 14 устанавливается удобный для отсчета "условныйкоэффициент отражения" К 1 для данного45 кольца. "Условные коэффициенты отражения" других эталонных колец (имеющих раз.личные...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...