Способ определения просвета бумаги и тому подобных изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Лд 125076 Класс 421, 52 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ЗАВИСИМОМУ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУи Р, Г. ТаксерманОСВЕТА БУМАГИ и т, п. ИЗДЕЛИЙ П. К ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИ ам изобретений3 аявле тений24 за 1959 г.1958 г. на имя того же лги Опубликовано влетене изоор Основное авт. св.119002 от 13 июня В авторском свидетельстве119002 описан способ опр лачности бумаги и т. п. изделий и приоор для осуществлен соба. Способ состоит в том, что производят одновременно светопроницаемости отдельных участков проверяемой бумаг светопроницаемостью всего листа такой же бумаги, служащВ предлагаемом способе просвет участка образца бума по сравнению с общей средней светопроницаемостью того бумаги, что упрощает определение просвета бумаги и т. п. как не требуется определять среднюю светопроницаемость такой же бумаги.При определении просвета бумаги по этому способу прибор, описанный в авторском свидетельстве г 119002. использвот редмет изоб ия просвета бумаги119002, о т л и ч аия, просвет участкаредней светопрониц 1 т. п. изделий с ющийся тем, образца бумаги аемостью того применением то, с целью 1 змсряют по се ооразца определеавт. св.определес общей Спасо прибора п упрощения сравнению бумаги. января 1959 г. за67770 к 29 в Комитет по л открытий при Совете Министров СССР еделсния оо. я этого спос срав 1 ение и со средней его эталоном.ги измеряютже образца изделий таквсего листа
СмотретьЗаявка
617770, 28.01.1959
Крозер С. П, Таксерман Р. Г
МПК / Метки
МПК: G01N 21/59
Метки: бумаги, подобных, просвета, тому
Опубликовано: 01.01.1959
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-125076-sposob-opredeleniya-prosveta-bumagi-i-tomu-podobnykh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения просвета бумаги и тому подобных изделий</a>
Предыдущий патент: Магнитный дефектоскоп с импульсным намагничиванием
Следующий патент: Аппарат для поточной промывки геологических проб и образцов нерастворимых сыпучих тел
Случайный патент: Профилометр для исследования микрогеометрии поверхностей