Электроискровой дефектоскоп

Номер патента: 504145

Авторы: Виценко, Демков, Ефременко, Михайлусь

ZIP архив

Текст

ОЛ;И НИЕ ИЗОБРЕТЕН Ия Союз Советскин Социалистических Респубиик(1 1)504145 К АВТОРСКОМУ СВЯДИТВЛЬСТВУ Дополнительное к авт ву М 4261(22) Заявлено 12.09.74 (21) 2059031/25 ЦМ, Кл.О 01 Й 27/62 6 01 В 7/06 рисоединением заявкиГосударственный квинт Совата Мнннстроа ССС оо,аолам нзаорвтвннй в открытнй(45) Дата опубликования описания 05,04.7 Е. С. Демков, Н. Г,Махийлусь, В. И. Виценк и И. П, Ефременко2) Авторы изобрет 1) Заявител ЭЛЕКТРОИСКРОВОЙ ДЕфЕКТОСКОП ис ил екто- роль сИзобретение относится к средствам де- Он содержит источник 1 питания, бесконфектоскопии и размерометрии и может быть, тактный пороговый ключ 2, кС-двухполюспольЗовано для контроля качества и тол- ник 3, обмотку 4 низкого напряжении, титцины диэлектрических покрытий на электро- ристор 5, обмотку 6 высокого напряжения,проводящих основах. высокочастотный дроссель 7, подвижныйИзвестный электроискровой дефектоскоп шуп 8, соприкасающийся с контролируемылто авт, св. Ы 426181 содержит высоко- слоем 9 на металлической основе 10, индивольтный трансформатор, шуп, подключенный катор 11 постоянного тока, диод 12 и шунк обмотке высокого напряжения, бесконтакт-, тируюший конденсатор 13.ный пороговый ключ, включенный в цепь об При стационарном режиме (дефекты вмотки низкого напряжения, и индикатор пос- , слое 9 отсутствуют) величина реактивноготоянного тока, включенный в цепь заземлен-тока определяется толщиной диэлектрическоного вывода обмотки высокого напряженияго слоя и по индикатору 1 1 регистрируюттрансформатора. по падению напряжения на дросселе 7 укаОднако известный дефектоскоп не обеспезанную толщину; при нестационарном реж кчивает контроля толщины диэлектрических (наличие дефекта в слое 9) на дросселе 7слоев на электропроводяших основах одновре- возникают импульсные сигналы, амплитудаменно с дефектоскопией.которых заметно превышает. амплитуду наЦелью изобретения является также и конт- пряжения при стационарном: режиме наэто;,роль толщины диэлектрических слоев на элек дросселе, что фиксируют по отклонению1тропроводящих основах, для чего дефекто-стрелки индикатора 1 1,скоп снабжен дросселем, включенным парал- Таким образом предлагаемый дефлельно индикатору постоянного тока. скоп .осуществляет комплексный контНа чертеже дана схема предложенного качества диэлектрических слоев: дефдефектоскопа. 2 б пию и толшинометрию,

Смотреть

Заявка

2059031, 12.09.1974

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6273

ДЕМКОВ ЕВМЕЙ САФРОНОВИЧ, МИХАЙЛУСЬ НИКОЛАЙ ГРИГОРЬЕВИЧ, ВИЦЕНКО ВАЛЕНТИН ИВАНОВИЧ, ЕФРЕМЕНКО ИВАН ПАВЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/62

Метки: дефектоскоп, электроискровой

Опубликовано: 25.02.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-504145-ehlektroiskrovojj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электроискровой дефектоскоп</a>

Похожие патенты