389448
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 389448
Автор: Вител
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз СоветскихСоцимистиче кихРеспублик ависимое от авт, свидетельствааявлено 12 Ч 1,1971 ( 1688657/26 Кл, 6 01 п 230 с присоединением ваявПриорлтет осударственныи к Совета Министров по делам изасрети открытий итетййр ий публиковано 05.Ч 11.1973, Бюллетень2Дата опубликования описания 20.Х 1.193 ДК 621.386(088.8) Авторизобретения М. Карташ аявитель дена Ленина государственныи союзныи Красногорск механический заводПОСОБ ЮСТИРОВКИ РЕНТГЕНОВСКОГО СПЕКТРОМЕТРА бу- нтИзобретение относится к способам рентгеновского микроанализа элементов.Известен способ юстировки рентгеновскогоспектрометра, при котором кристалл и счетчик перемещают и одновременно поворачивают. Поскольку меняется угол наклона кристалла и счетчика относительно источника рентгеновского излучения, а также изменяется расстояние между ними и источником, трудно направить прямую, по которой пере мещается центр кристалла точно в центр источника рентгеновского излучения. Этот же недостаток отмечается при юстировке спектрометров по световому зайчику и фотографиям на пленке. 1С целью повышения точности юстировки ееосуществляют при постоянном угле наклона кристалла относительно источника рентгеновского излучения и постоянном положении счетчика относительно кристалла, при этом 2 спектрометр предварительно настраивают на излучение выбранного эталонного элемента,Способ осуществляется следующим образом.Сначала устанавливают кристалл при определенном угле наклона, соответствующем какой-либо длине волны, на определенном расстоянии от источника рентгеновского излучения. В фокусе отраженных от кристалла лучсй располагают счетчик, расстояние до которого от кристалла должно б орасстоянию от кристалла до источгеновского излучения.В этом случае источник, кристалл и счетчик находятся на круге Роуланда, что соответствует максимальной интенсивности рентгеновского излучения строго определеннойлинии спектра. Затем кристалл и счетчик закрепляют так, чтобы их взаимное положениево время дальнейшей юстировки было постоянно.Кристалл и счетчик, расположенные нагайке ходового винта, перемещают относительно источника рентгеновского излучения,добиваясь при этом наличия излучения однойи той же линии спектра за счет разворотакристалла со счетчиком относительно гайкиходового винта,В крайнем, удаленном от источника положении закрепляют кристалл со счетчиком нагайке ходового винта и перемещают в первоначальное положение, добиваясь при этомналичия той же линии спектра за счет разворота ходового винта относительно источника рентгеновского излучения. Процессповторяется до тех пор, пока прямая, по которой перемещается центр кристалла, недет точно направлена в центр источника регеновского излучения. Это положение светствует максимальной интенсивно389448 Предмет изобретения Составитель И. ПетроваРедактор Т. Орловская Тсхред Т. Миронова 1(орректоры: Л. Царьковаи М Леизерман Заказ 3005(9 Изд.800 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, К, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр, Сапунова, 2 геновского излучения, строго определенной линии спектра на всей длине перемещения кристалла. Способ юстировки рентгеновского спектрометра с прямолинейным перемещением кристалла относительно источника рентгеновского излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности юстировки, совмещение прямой, по которой перемещают центр кристалла, с центром источника рентгеновского излучения производят при по стоянном угле наклона кристалла относительно источника рентгеновского излучения и постоянном положении счетчика относительно кристалла, при этом спектрометр предварительно настраивают на излучение выбран ного эталонного элемента.
СмотретьЗаявка
1688657
Ордена Ленина государственный союзный Красногорский механический завод
витель А. М. Карташов КАЯ ЬЛИО
МПК / Метки
МПК: G01N 23/00
Метки: 389448
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-389448-389448.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">389448</a>
Узкополосный газоразрядный детектор рентгеновского излучения
Номер патента: 576554
Опубликовано: 15.10.1977
Авторы: Голенецкий, Седельников
МПК: G01T 1/18
Метки: газоразрядный, детектор, излучения, рентгеновского, узкополосный
...газоразрядного сч нюю поверхность ну порядка пробег 5 гней его рабочего регистрируемой по зоразрядного счетч с малым атомным нитель содержит г 10 мером. На фиг, 1 приве предлагаемого дет ральная характери Детектор содерн 15 лучатель 2, газ-на тод 5.Первичное рентгеновское излучение фильтр 1,попадает внутрь детектора н вает из вторичного излучателя 2 фотоэл 20 ны, которые регистрируются в рабочем ме газа - наполнтттеля 3. Спектральная характеристика чу ности предлагаемого детектора а данной характеристике прототипа,25 Светосила предлагаемого детектора о ляется в основном выходом фотоэлекто А поверхности вторичного излучателя, по ку с равчой вероятностью регистрируют падающие на него кванты любых нап ний. Для,квантов с энергией в...
Фотометр для определения в произвольных единицах интенсивности излучения рентгеновской трубки
Номер патента: 14576
Опубликовано: 31.03.1930
Автор: Аристов
МПК: G01T 1/161
Метки: единицах, излучения, интенсивности, произвольных, рентгеновской, трубки, фотометр
...Левая сторона рамки пустая и матовое стекло в этой части ничем не закрашено и не закрыто.Применение описанного фотометра при роизводстве рентгенограмм требует предарительноге получения эталонных ррнтвинтом Е для того, чтобы все по щие снимки были произведены пр менной силе тока в лампах. Пр замечают силу тока й 2 в рентге трубке и подбирают обычным путе тока иЛ а,п, а,щ в,трубке, при к получаются наилучшие снимки во всех трех группах рентгеног деля а, авп, аи на а. получа эффициенты гарантии" для каж этих групп,Имея такие клюбого объектаводят при поФиг 1 иография 1.й артели Советский Печатиик, Моховая. 40 флюоресцирующего экрана до той же, что и в вышеуказанном случае, интенсивности Рь после чего отсчитываю силу тока г, в трубке и...
Стабилизатор характеристического излучения рентгеновской трубки
Номер патента: 104204
Опубликовано: 01.01.1956
Автор: Иоффе
МПК: H01J 43/30, H05G 1/10
Метки: излучения, рентгеновской, стабилизатор, трубки, характеристического
...1 (кяльцит, кварц, каменная соль), попадает иа фосфор Ф и вызывает его свечение, что возбуждает ток в фотоэлектронном умножителс ФЗУ. Этот ток, протекая через соиротивлеицс К, создает ия ием иекоторос иядсиис и;шряжения (порядка 100 в),Базовое напряжение на катоде лампы Л задается стабиловольтом Лг несколько выше, чем падеиис напряжения на сопротивлении, М 104204(примерно 1"-;, Таким образом, на лампе Ль имеется сеточное смещение (4 - 5 в), которое и создает равновесное состояние системы. Лнодный ток лампы Л 5 задает сеточное смещение на лампу Лс,Определенной интенсивности характеристического излучения, попадающего на фосфор, соответствует определенное сеточное смещение на лампе Л", а следовательно, и на лампе Лс. Через дроссель...
Источник монохроматического рентгеновского излучения
Номер патента: 864080
Опубликовано: 15.09.1981
Авторы: Александров, Галль, Шевченко
МПК: G01N 23/20
Метки: излучения, источник, монохроматического, рентгеновского
...излучения, которым является анод рентгеновской трубки, и моно- кристалл-монохроматор 2Кроме моно- кристалла-монохроматора "на отраже- . ние" 2, вводится один или несколько монокристаллов "на прострел" 3 и 4, толщиной О,1-0,7 мм, изогнутые так, что представляют собой часть сферы. Эти монокристаллы можно ставить следующими способами:1),между источником 1 и монокристаллом-монохроматором "на отражение" 2 - монокристалл 3;2) между монокрксталлом-монохроматором "на отражение" 2 и точкойфокуса рентгеновского источника 5монокристалл 4;3) и там и там (см.пп. 1 и 2).В первом случае центр кривизныкаждого монокристалла-монохроматора"на прострел" должен лежать в точкевыхода рентгеновского излучения споверхности анода, во втором - в...
Способ получения увеличенных рентгеновских рефлексограмм от изогнутых кристаллов
Номер патента: 202352
Опубликовано: 01.01.1967
Метки: изогнутых, кристаллов, рентгеновских, рефлексограмм, увеличенных
...спектрометрови опектрографов заключается в том, что исследуемый кристалл облучают пучком рентгеновских лучей, а излучение, отраженное откристалла, регистрируют пленкой в кассете.Однако при таком способе получают искаженное изображение поверхностей исследуемыхкристаллов,1Предлагаемый способ отличается от известных тем, что ренггеновскую пленку помещают в изогнутой по окружности кассете внефокального круга, на котором расположенисследуемый кристалл. Пучок рентгеновских 1лучей от источника пропускают через щель,расположенную на фокальной окружностикристалла, параллельно его образующей. Такое осуществление способа позволяет устрать искажения и добиться одинаковых увечений по высоте и ширине рефлексограммы. Гпосоо получения...
Предыдущий патент: Контрольный образец для капиллярной дефектоскопии
Следующий патент: Всрсоюзнаяд-; “-lt; lissrji i y. i; лшавторызаявителиинститут общей и неорганической химии им. н. с. курнаковаан ссср и институт электрохимии ан сссрbhbihottlka
Случайный патент: Устройство для измерения чувствительности приемника