Способ аттестации и калибровки высокочувствительных дифференциальных рефрактометров

Номер патента: 1109598

Авторы: Молочников, Овчинникова

ZIP архив

Текст

ООЮЭ СС 18 ЕТС ГИХССЦИАЛИСТИЧ ЕСНРЕСПУБЛИН 598 А Б 21/41(56) 1. Методика в и Л.В вчицников верки промыппе томстровотацдлрв ны х лвт омлти веских типа ДРП МИ 62-75, тов, 967.2. Рефрлктометр жидкостцой РАЖ в 4 указ лция Г.51. 13. 05 химлвтомл: ", 1978 рак - во автомат:1 че ск 111Методические МУ 11 ИГГИ "НеФтерототит- где оклза нлрсн т 1 о ,г рсФР чн;лопти лн ь и вы 1 к 3 кюве клина тра ве знл 57) СГ 1 ОСОБ ЛТТЕСТ,ЯИИ И КА 1 ИБ ВЫСОКОЧУВСТВИТЕЛЬ 1 К ДНАМ,РЕ НЫХ РЕФРЛКТОМЕТРОВ с использо м образцового клина включаю ведение образцового клицл нл ескую ось, его разворот в мецлзьцой плоскости реФрлкто - и опредепецие эб 11 ективцого ция разности показателей пре - ния,отличаюнийся тем, что, с цепью повып ция точности и упрошеция аттестации, клин устацлвливлют в положени, пркоторомугол отклонения прохоцяпн.го черезнего пучка . меридиоцлпьной и оскости реФрактомегра равен цу ц 1, затемповорачивают вокруг оги икой осирефрактометрл нл дискретные угпыЯ;, измеряют эти углы и по весичи -нс дискретных ук:ов и углу откло -цсция клина ц его главном сечениирассчитываю; 44 ектвн: ц знлчс цияразности показлтелей нреломпения поФор."гул е ь пре.имения клия юлий у гол пи ФФс -ктомс грчс ской прохо:"о;ециЙ пучка пр ел 31 я Р 11 Й5 зс)бре ение 0", носитсл к кон 1 рос, -НО-ИБМЕРИтЕгПЬНОй ТЕХНИКЕ, а КОНКР - НО К ДИФ)СРЕНИСЗГ)гЦЫМ РЕфРаК-:ОМЕТРаМ, ПРЕДНаацасЕЦНЫМ Д:Л ИЗМЕРЕНИЯР а 3 Н О С Т И Г 1 О К а 3 аТ ге Л Е Й П Р ЕЛ О М)Е 1-И гсдвух сред,1 Рзвес ен способ аттестации и калибровки дисрфс)реСна;ьнгх рефрактс мет)0 з) ко-; орьЙ роиз 1)одитс 5помо 1 г) ОбРГЗЗЦОГзых сидкостей . 1 паснс) данному спосс)бу призмсз Ичс с - КУКс ДИффСРЕН ,ЗП Г,ЦУ ; СК)ВЕ "ГУ Раф З; К тометРа з Г)пс)ззл(с;ГЗУМЯ обРаз.с)Зы.МИ Х(ИДКО(1 Я МИ ) Р сЗ:Зцо(.Т Ь ПС)КЯ СЗТЕЗ(ПРС.31 ОМ. С)ГИ) Ь П КОТ 01)ЫХ )РЕДБс)РИ 1: очо и"змерс на на Дру: ок Иоибс)р( .И нос с) 3 а 3)35 г ЦОБЕ ) Я 0 МО ГО ЗСгфР БЕЗ 0) 1рг) СОПО(Т а 13 ЯУГ.Я С .1 р ЕДЕ)срит3 ГГ(и 313 ге цг)Й . и , б а" ДОЗых )кид)состеЙ. сгг сС,д 1 Лс гсП,.) сн 0:; 5 й)И Ъ 10 Л;)Иь-с)3 О Н .Ь1 011 0 .3 ) а К )) 1" . р И Ч с. С К г.; И К Кты; Е - цс: ИрОХ) КД:)БЙ;ГуЧКЧЕРС 3 КС)13 сУ,гРЗМС;)ЕЦ)сгЕ 1 ;)Сфз КГОМЕ.)1 Б . Ь 1 Г с)11,) Ст,) ЬСЯ гт СЯ С Ь ПИХ 6)1113 ) С ГИ,;г".ц;3 В 3 Т СЯ ПО Г 0 и) )си з м р е) Я .,) бр 3 3 гсг и иЯ с. т с Я 1 а -би". ьным и:;),)С 1 е с 511 30:Зла.1 с)3)те)Пер, узом меридиоцацьцой (она перпендикуляров ца преломляющему углу кнветы), поскольку это отклонение функционально связ дцо с ь и. Отклонеие пучка в саг иттальной плоскости несущест -веццо, тяк как оно не связано сд и. Поэтому для регистрации отклонения пучка используются однокоординатцые фотоэлектрические преобразователи, цапример дифференциальноефотосопротивление, разделительнаяпризма и т.д, Линия раздепа фотосопротивлений и ребро разделительной призмы ориентируются перпендикулярно меридиональной плоскости.Поэтому фотоэлектрический сигналпоявпяется только при отклонениипучка в меридиональной плоскости.Согласно предлагаемому способу сначала вводят на оптическую ось дифференциального рефрактометра от -клоцяющий клин и разворачивают его,ориентируя главное сечение клина перпендикулярно меридиональцойплоскости. В этом случае отклонецие пучка света происходит вдоль линии раздела фотоприемников, грани делительцой призмы и т,д т.е, фо - тоэлектрический сигнал рассогласования не возникает, 31)Пр и развороте клина и з этого полож ени я в о кру г о пти ч е ск ой о си н а уголугловое отклонение пучка и р ои схо - ди т в некоторой плоскости , к от орое може т быт ь р а зл ож ено и о двум взаимно перпендикулярным н апр агап е ниям: рабочему и перпендикулярно к нему ( в э т ом н апр а вл е нии отклонение н е суде ст в е нцо, так как не регистрируется рефрактометром) . 40Угловое отклонение а пучка света клином в рабочем направлении рефрактометра дается выражением Ь 1 Ъ = р соя Я = (и)с сов Я, (3) где 10 =(п - 1) 0 - Угол отклонениЯ клина в его меридионапьной плоскости (главном сечении); Я - угол между главным сечением клина и рабочим направлением рефрактометра; п - показатель преломления стекла клина; Ы - преломпяюший угол клина.При 1=90 (главное сечение клина перпендикулярно рабочему направлению рефрактометра) угловое отклонение клина д О =О, что соответствует йп ф =О, это положение принимается за нулевое,Воз ни кдюцг е при 1 яз вр ь. е кг ц ц,угловое отклоцсццг (1) со: ц гс; ву -)о ( 1 Ь.д и = --- сов= - , сс,"Я(ч) зфф К с 00 К гМ где К и а - аналогичны обозначе - ния м В форлгуле ( 1 )Согласно формуле (4) в предл анде мом способе в отличие от изцестцого Юп определяется це только фцк -зффсированным значением углоьо; о от - клонеция клина 80 =(п)г(, цо ц угг.; м разворота ( клина о )цосительно рабочего направления рефрак. смотра, 1 иф)е 1)е ц(р, в ч,г дч,с;/,) где гГ. и с"д - погрешстц соответРоственцо предваритсльцог определения угля отклонения ) 0 клцця и измерения угла ( его разворота из цулево -го положения.Из формулы (5) видно, что вс лагаемом способе при угле (=90 (нулевое положение) погрешность варительцой аттесташш, угловое клоцение клика вообше ця кияют- О ап так как сов Ц = сов 90 =0Вфлапри разворг-, с из этог цлгжени небольшие углы Лц=+(5- )О)с влияние погрешности сДО также мало так как сов 1 ( 0,10. таким обра в отличие от известногг способа где погрешность дп,ф в основном определяется погрешно:ть с/б и поэто --сне может быть высокой, так как ар обычно не менее 1 , в предлагае. мом погрешность дп ., мдло зависитзф-0В предлагаемом способе цд погрешность св и ф основное влияние оказывает погрешность сЯ измерения угла разворота клина из нулевого положения. Но, как следует из (5), эта погрешность может быть сделана достаточно малой путем ограничения величи.РсПроведем числеццую оце цку погрешности предлагаемого способа. Зададцмся практическими значениями Ь - 10, К 2, сс э, йЯ э(т еи зм няе г цЫ=б",5 Я=.3, "Ге" сна( 5максимальная и; р". о "травелианнан ис (3), ног;. ;.;-6 ОГаки обри м, г н,.с г.Гаемовс споеоба нв1,: .ска вьпде, чм у иввс-. ",: с тон может бить иепольвован нг;=: ссн; : скалибровки высокочугетвителв;нк-Ф1 О ) дифферс ния сьцык рефр ктСоглаено :реь.а:сигвпвможны ат "гс снс 1к в.).;ь Р е 1 а к г с е .1.гн; г:,3 а к аг 1 сс 1,

Смотреть

Заявка

3523122, 11.11.1982

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681

МОЛОЧНИКОВ БОРИС ИЗРАИЛЕВИЧ, ОВЧИННИКОВА ЛАРИСА ВАЛЕНТИНОВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 21/41

Метки: аттестации, высокочувствительных, дифференциальных, калибровки, рефрактометров

Опубликовано: 23.08.1984

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1109598-sposob-attestacii-i-kalibrovki-vysokochuvstvitelnykh-differencialnykh-refraktometrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ аттестации и калибровки высокочувствительных дифференциальных рефрактометров</a>

Похожие патенты