Патенты с меткой «преломления»

Номер патента: 790970

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Науменко, Олейник, Хайруллина

МПК: G01N 21/41

Метки: веществ, действительной, диспергированных, относительного, показателя, преломления, части

...частиц.На фиг. 1 представлен градуировочный график; на фиг. 2 - зависимостьвеличины (и) от угла рассеяния,при котором элемент матрицы рассеяния Г изменяет знак на обратный.Способ осуществляется следующимобразом,Предварительно сферулированныеэритроциты, представляющие собой полидисперсную среду с наиболее вероятным радиусом частиц, равным го2,4-:3,4 мкм, относительной полушириной функции распределения по размеРам Ь 1 1 го= 0,65-:0,85 и мнимой частью комплексного показателя преломления М.= 10 в ; 10, освещаютсветом, полчриэованным под углом 45 Ок плоскости падения, и длиной волныизлучения Ао = 0,546 мкм. Для угловрассеяния 80 О, 100 и 120 на поляризационном нефелометре измеряюттрети параметр Стокса 54 о = 34, -4 о-46 х3 , где 1-...

Номер патента: 868494

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Веселовская, Туманова

МПК: G01N 21/41

Метки: жидких, показателя, преломления, сред

...Аббе,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью увеличения чувствительности,измеряемую жидкую среду после нане 30сения ее на рабочую поверхность призмы рефрактометра опоясывают водяным,кольцом.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Иоффе Б.В. Рефрактометрическиеметоды химии. Л., "Химия", 1977,с. 133-142.2. То же, с. 179 (прототип). Цель изобретения - увеличение чувствительности.Поставленная цель достигается тем,что в способе определения показателяпреломления жидких сред, несмешивающихся с водой, с помощью рефрактометров Аббе, исследуемую жидкую средупосле нанесения ее на рабочую поверхность призмы дополнительно опоясывают водяным кольцом по периметру сопри Окосновения вещества и призмы,Дополнительно вводимая между...

Номер патента: 868498

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Аспандияров, Зверев, Королев, Рагузин, Фрез

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, показателя, преломления

...иметь размер порядка несколькихмикрон, обладать повышенной хрупкостью или твердостью, изготовлениепластинок из них практически невозможно,Этот способ не может быть применен для измерения показателей прелоления в отраженном свете, представляющего большой интерес для пленок,нанесенных на непрозрачную подложкуКроме того, в экстремальных условиях, например при определении показателя преломления вещества, раздавленного в тонкую пленку. между алмазными призмами, находящимися под высоким давлением, поворот пленки невозможен. Следовательно, в подобныхэкстремальных случаях показатель преломления н, может быть измерен.Цель изобретения - ускорение процесса измерений и обеспечение измерений в экстремальных условиях,Поставленная цель достигается...

Номер патента: 868818

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Перкальскис, Сотириади

МПК: G09B 23/06

Метки: волн, демонстрации, законов, звуковых, преломления, прибор

...поглощения.Цель изобретения - повьааение де"рационных возможностей.аэанная цель достигается тем,лементы выполнены в виде закрыодного конца трубок, соединенжду собой, и расположенных вько рядов, арн этом торцы трузмещены в одной плоскости,уя равнобедренный треугольник,/расного Знамени фиэикоКуэнецова при Томскса ниверситетеА - константа, характеризующаясредуКачественный график фиг. 2 показывает зависимость показателя прелом ления от частоты звуковой волны.Поскольку угол отклонения падающей на призму волны от ее первоначального направления приближенно равен8 (-), (2) где М - угол отклонения9 - угол преломления призмы;и " показатель преломления.Звуковая волна будет отклоняться призмой при 10 4 ю к основанию, и будет отклоняться к...

Номер патента: 873053

Опубликовано: 15.10.1981

Автор: Чашечкин

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, коэффициента, преломления, прозрачных, сред

...в которой происходитотклонение света на угол ;- длина пути света в отклоняющей среде;Е - координата в направлении отклонения луча, а шаг решетки,выполненной по форме отклоненного пучка, выбирают изсоотношения 8 = 6 Г где г - фокусное расстояние приемного объектива системы.На фиг. 1-3 изображены блок-схемы устройства, в которых реализуется данный способ измерения градиента коэффициента преломления.Устройство состоит из источника 1 белого света с непрерывным (лампа накаливания) или лииейчатым (ртутная лампа) спектром, объектива 2, формирующего изображения источника, диафрагмы 3, коллиматорного объектива 4, диспергирующего элемента 5, оптической кювета с исследуемой средой б, приемного коллиматорного объ-., ектива 7, установленной...

Номер патента: 881571

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Попов, Чашечкин

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, коэффициента, преломления, прозрачных, сред

...лучей в призме 5 и вся системадиафрагма - призма - решетка выпол нены с возможностью синхронного враШения вокруг продольной оптическойоси устройства,Устройство работает следующим образом.Белый свет, излучаемый источником1, проходит через объектив 2, Формирующий иэображение источника, диафрагму с плоской щелью, расположеннуюв фокусе основного объектива 3, выходит в виде параллельного пучка лучей и поступает на диспергирующуюпризму, отклоняюШую свет на угол Явеличина которого зависит от длиныволны и не превышает= о с /Г, гдео"щах - максимальное отклонение лучав фокальной плоскости и приемногообъектива теневого прибора, при котором свет не виньетируется элементамиустройства; Г - фокусное расстояниеприемного объектива, для...

Номер патента: 881625

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Вайдялис, Кайрис

МПК: G01R 27/06

Метки: мод, планарного, показателя, преломления, световода

...планарного световода 3 следует, что если точки, в которых М = и и М =.Визирная линия окуляРра 15 совмещается с точкой, где М = пр, при этом фотодатчик 12 преобразователя 5 импульсы не генерирует. На реверсивный счетчик б с блока 7 подается число импульсов, соответствующее значению показателя преломления возбуждающей полусферической призмы 2, что соответствует началу шкалы измерений. После того как произведена калибровка, на входную поверхность возбуждающей полусфери 5 1 О 15 20 25 30 35 40 45 50 ческой призмы 2 направляется лучвозбуждения и с помощью поворотногостолика 1 устанавливается такойугол его падения, при котором в исследуемом планарном световоде 3 возбуждается .мода. Момент возбуждениямоды в волноводе устанавливается...

Номер патента: 790971

Опубликовано: 23.02.1982

Автор: Хайруллина

МПК: G01N 21/41

Метки: вещества, действительной, дисперсной, относительного, показателя, преломления, фазе, части

...см, облучают правоциркулярнополяризованным светом длиной волны Х = 0,3 мкм, при котором показатель поглощения 7 ( 10 - . Прп угле рассеяния 100 поляризационным нефелометром измеряют третий параметр Стокса 5= 1, - 1, (1", - измеряемая интенсивность, индекс О означает правое вращение, индексы внизу относятся к состоянию поляризации источника, сверху - приемника). Затем взвесь освещают левоциркулярнополяризованным светом и тактике измеряют третий параметр Стокса 5, = 1 - 1 , "при том же угле у, вычисляют элемент матрицы )34 = 1/2 Ро - о ) Если 134 (у = 100) ) О, то по этому значению и 134 (у = 90 ) строят прямую в координатах 134, у (см, фиг. 2). Как видно из фиг, 2, отличие теоретически рассчитанного угла, при котором 134 = О, от...

Номер патента: 934427

Опубликовано: 07.06.1982

Авторы: Цвык, Шапиро

МПК: G01W 1/00

Метки: атмосферы, показателя, преломления, структурной, характеристики

...источника, в ширина значительно меньше размера изображения источника. При сканировании раскрывом щели светового пятна сформиро-. ванного на фотокатоде диссектора, на аноде формируется видеоимпульс Ос( ) (фиг. 2). В блоке 4 управления сканированием формируется напряжение кадровой развертки Ор(фиг, 2), кадровые синхроимпульсы и импульсы тактовой частоты, с помощью которых осуществляется привязка во времени всех блоков устройства. формируемый на выходе фотодетектора 3 при сканировании дифракционного изображения видеосигнал в виде импульсов положительной полярности с частотой кадров поступает на вход восьмиразрядного аналого-цифрового преобразователя 6, работающего по схеме поразрядного кодирования, В результате преобразования с выхода...

Номер патента: 434297

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Герштейн, Желудов, Журавлев, Иоффе, Михеева, Орешко

МПК: G01N 21/41

Метки: дисперсии, показателя, преломления

...по формулеА = К (10 Ь Рс - 0,1944 Ь пс), где К; коэФфициент, определяемый свойствами эталона и измеряемого ттродукта;Лрс - Разность сРедних ДиспеРсий эталойа и образца;Ьп - разность соответствующихСпоказателей преломления .На чертеже приведена оптическая схема установки, позволяющей реализовать предлагаемый способ.Установка содержит щель 1, объектив 2, дифференциальную кювету 3, выходной объектив 4, После прохождения через обтюратор 5 и проекционный объектив 6 световой поток делится на два канала интерференционным зеркалом 7 и через светофильтры 8, 9 идет на светоприемники 10, 11. 1. Способ измерения дисперсии и показателя преломления, например для434297 Корректор А. Ференц Редактор П. Горькова Техред О,Неце Тираж 887 Подписное...

Номер патента: 397067

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Байдаков, Глыбин

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления

...делам изобретений и открытий113035, Москва, 3-35, Раушская наб., д.4/ Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная, 4 лу меньше предельного - затемненнаязона. Поэтому при недостаточном смывании призмы автоматического рефрактометра исследуемым раствором илиосаждении на призме пузырьков газаосвещенность участков темной зоны врабочем диапазоне, соответствующаяизменению предельного угла полноговнутреннего отражения исследуемыйрастворов, увеличивается на величинуьЕ , а при осаждении твердых частицосвещенность светлой зоны уменьшается на величину ЬЕ. В этом случаепроисходит нарушение равенства световых потоков, падающих на рабочий и, компенсапионньй фотоприемники, т.е.ф,В зависимости от того, осаждаютсяна призме твердые частицы или...

Номер патента: 989403

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Молочников, Морозов

МПК: G01N 21/41

Метки: главных, кристаллов, одноосных, показателей, преломления

...на поверхность кристал-ла, выделяют два луча, идущих подразличными углами, после отраженияот кристалла лучи разводят по двумканалам, измеряют коэффициент отражения кристалла в каждом канале и поизмеренным коэффициентам отражениявычисляют искомые покаэател и преломления исследуемых кристаллов,после разведения по двум каналам отраженные лучи одновременно поляризуютв ортогональных направлениях.На фиг, 1 показана принципиальнаясхема устройства, реалиэуюцего данный способ; на фиг. 2 - зависимостьзначений коэффициентов отражения(К) от показателя преломления (и) дляразличных значений угла падения 8.Оптическая схема устройства содержит осветительную систему 1, диафрагму с двумя щелями 2, снабженнымимеханизмом изменения расстояния...

Номер патента: 1002919

Опубликовано: 07.03.1983

Авторы: Афанасенко, Бородова, Лейкин, Любинская, Мердежев, Молочников, Морозов, Пеньковский, Хамелин

МПК: G01N 21/43

Метки: поглощения, показателей, преломления, сред

...22 и цИфровымвольтметром 23. Фотоприемник 19 включен в цепь следящей системы с избирательным усилителем 24, настроеннымна частоту (Ю, и с реверсивным дви-.гателем 25.При отключенной магнитооптическом компенсаторе 17 и включенныхмагнитооптических модуляторах 12 и 16,Фотоприемник 19 воспринимает свет,изменяющийся по законуо 4,ГЭ1-с 05 И с 056+Ь (,ми И-чиьсовь 9)ввв 11, О)где 1 - интенсивность падающегоона поляризатор 10 света;Й - коэффициент отражения светапри угле паденияс .10029 При Ос. =(фиг. 1) абсолютные значения цспараметров Ф д удовлетворя(У ( с (ют условию 2 Ч("Ь, но рФ 0, ЬФ О, и величины 9 и 6 строго зависят от величины поглощения исследуемой срелы (фиг. 3).Затем при угле паденив света о на короткое время отключают двигатель...

Номер патента: 1017978

Опубликовано: 15.05.1983

Автор: Молочников

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления, сред, твердых

...дополнительной аппаратуры для определения пНевысокая точность. известного способа объясняется трудностямиоточной идентификации данной. волны, а такжеограниченной длиной когерентносги используемого монохроматического.света. Последнее обстоятельство дает возможйость получения интерферограммы лишь для очень тонких образцов (1100 мкм), а следовательно, достигается низкая чувствительность.Целью изобретения. является упрощение процесса измерения и повышение точности.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения по. - казателя преломления твердых тел путем пропускания через образец исследуемой среды, выполненный в виде плоскопараллельной пластинки, монохро-. матического пучка света с получением интерферограммы, плавно....

Номер патента: 1017981

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Пришивалко, Шавель

МПК: G01N 21/45

Метки: веществ, дисперсном, комплексного, показателя, преломления, состоянии

...поток Р.С и поток Р ,рассеянный под углом(3.:250. Угол приема приемника составляет +0,4Сначала измерения отношения потоков Р /Р.производят для щающих иммерсйонных сред, получаемых , взаимным растворением веществ А и В, и строят зависимость этого отноше.ния потоков от .относительных концентраций СЯ и С В (СЯ+С :1)Поскольку .частицы обладают поглощением,а среда-. . непоглощающая, то полная оптическая однородность не достигается, но при. некотором конкретном значении псР близком пч , рассеяние становится 60 минимальнйм, Находим минимум отношения Р /Г. и соответствующие ему значения СфС и СС С. Для фталоцианиновосс)А Вго зеленого такой. минимум получают :для среды Р ,имеющей состав Сд в 65:0,227. Показатель преломления среды пс-...

Номер патента: 803640

Опубликовано: 30.05.1983

Авторы: Костюкевич, Минько

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...тем, что при использовании источников света невысокой монохроматичности необходимо урав 0 2нять оптические длины путей интерФерирующих пучков с точностью до длины волны, для чего опорное и предметное плечи устройства должны быть пространственно оаэнесены. Юстировкаустройства, заключающаяся в совмещении пучков, движущихся по разным направлениям и в выравнивании их оптических путей, сложна,Цель изобретения - упрощение конструкции и уменьшение габаритов устройства при сохранении техническиххарактеристик,Поставленная цель достигаетсятем, что в предлагаемом устройствеФормирователь параллельного светового пучка одновременно является коллиматором и расположен на одной оптической оси с клинообразными зеркалами. Первое зеркало является...

Номер патента: 1024703

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Сорока, Юрин

МПК: G01B 11/06

Метки: диэлектрической, пленки, подложке, показателя, преломления, толщины

...поляризованным.излучением под углом к поверхности, измеряют интенсивность отраженного излучения, определяют коэффициент отражения, по которому вычисляют значения угла Брюстера, и определяют толщину и показатель преломления пленки, помещают пленку виммерсионную .жидкость, освещение 15 производят излучением, поляризованным перпендикулярно к плоскости па, дения излучения, а затем компланарно плоскости падения излучения, угол Брюстера вычисляют для двух 20;случаев поляризации по минимальному значение коэффициента отражения, а толщину и показатель преломления пленки определяют по известным за- ВИСИМОСТЯМСпособ осуществляется следующим образом,При изменениях угла падения излучения от 0 до 90 е коэффициент отражения света от пленки с подлож...

Номер патента: 1032374

Опубликовано: 30.07.1983

Авторы: Бабкин, Багровский, Ли, Поваренкин, Токарев

МПК: G01N 21/43

Метки: показателя, преломления

...Пучок света направ 35ляют на поверхность:раздела сред рас"ходящимся или сходящимся со среднимуглом падения, равным критическому.При выполнении этих условий границасветотени в отраженном пучке стано"вится более контрастной, что обеспечивает более высокую точность измерений, и появляется возможность ис"следования мутных й окрашенных сред Р 1.,К недостаткам известного способа45,относится невысокая точность, поскольку положение светотени изменяется при случайных .изменениях угла паде."ния пучка света, вызываемых изменениями:ми положения источника излучения либо 50отражательного элемента,Цель изобретения - повцшение точ- ности измерений путем исключения по. грешности, вызванной случайными флук)55 туациями угла падения пучка.Указанная...

Номер патента: 1043530

Опубликовано: 23.09.1983

Автор: Байдаков

МПК: G01N 21/43

Метки: показателя, преломления

...границы светотени и влиянием це.линейного распределения интенсивности световых потоков на выходе из конденсатора, а так.же влияния на результаты измерения загрязнения призмы, приводящего к погрешности измерения.Целью изобретения является повышение точности измерений показателя преломления неокрашенных и поглощающих окрашенных жидкостей и уменьшению влияния на результаты изме.рений загрязнения призмы,Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения показателя преломле.,ция с испсльзовацием автоматических рефрактомстров предельного угла со следящей систе.мой, включающему регистрацию света на выходеиз призмы фотоприемниками, расположеннымив э равцоудаленных узловых точках, сравнениеинтенсивности света в зоне гранины...

Номер патента: 1054749

Опубликовано: 15.11.1983

Авторы: Бачериков, Зеленчук, Ивановский, Кубышкин

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред, флуктуаций

...среду, показатель ослабления которой можетизменяться одновременно с флуктуациями показателя преломления среды,чувствительно к обоим параметрам одновременно, и выделить шумовой сигнал от влияния флуктуаций показателяослабления среды не представляетсявозможным, а это, в свою очередь,приводит к дополнительным погрешностям. Целью изобретения является повьае- ние точности измерения.Поставленная цель достигается тем,45 что в устройство для .измерения показателя преломления прозрачных сред и его флуктуаций, содержащее размещенные в герметичном корпусе с иллюминаторами источник излучения и рас-,50 Положенные вдоль оптической оси устройства по ходу излучения коллиматор, фокусирующий объектив, диафрагму и фотоприемник, соединенный через блок...

Номер патента: 1054830

Опубликовано: 15.11.1983

Авторы: Блиох, Минаков

МПК: G09B 23/06

Метки: волн, моделирования, неоднородных, преломления, средах, сферически-слоистых, электромагнитных

...закона преломления электромагнитных волн и обеспечение устойчивости работы.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для моделирования преломления электромагнитных волн в неоднородных сферически-слоистых средах, содержащем источник излучения световых электромагнитных волн, рефрактор, моделирующий действие среды, и регистрирующее устройство, рефрактор выполнен в виде линзы, изготовленной из опгически однородного материала, толшина которой от центра к периферии изменяется по закону2(р) сопям 1(Р)С 1ф -г.о 5 1(Р)где 2(Р) - толщина линзы;ФЯ - заданный у гол отклонения лучей в сферически-слоистой среде;- прицельный параметр луча;ф - показатель преломления материала линзы.На фиг. 1 изображено устройство для демонстрации...

Номер патента: 1068782

Опубликовано: 23.01.1984

Авторы: Гришин, Мищенко

МПК: G01N 21/41

Метки: автоматическое, атмосферы, интерференционное, показателя, преломления, структурной, характеристики

...в виде прозрачной плоскопа"раллельной пластины.Схема двухлучевого йнтерферометра,1 может быть, в частности, представлена оптической схемой модифицированного интерферометра Жамена, состоящего из лазера, светоделительнойпластины 12 и оборотной призмы 13.Автоматическое интерференционноеустройство для измерения структурнойхарактеристики показателя преломленияатмосферы функционирует следующимобразом.1Луч лазера 11 падает на плоскопараллельное зеркало 12 интерферометра. Жамена, имеющее значительнуютолщину. Отражаясь от передней(полупрозрачной) и задней (посеребренной) поверхностей, он разделяетсяна два когерентных луча. Пройдя атмосферную трассу длиной ь, оба лучапопадают на оборотную призму 13, азатем возвращаются на зеркало 12..Здесь...

Номер патента: 1073568

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Смирнов

МПК: G01B 11/06

Метки: пленки, показателя, преломления, толщины

...8, фотоэлементы 9 и 10. На чертеже показаны также состояния поляризации световых пучков В, Еп, Ер - электрические векторы световой волны б. - нормаль к пленке 11, п - нормаль к прозрачной плоскопараллельной диэлектрической пластине 8,- угол падения света на пленку 11, - угол падения света иа прозрачную плоскопараллельную диэлектрическую пластину 3, равный углу Брюстера для этой пластипи при длине световой волны источника 1 параллельного, монохроматического и линейно поляризованного света, .- "угол между электрическим вектором Е падающей на пленку 11 световой волны и плоскостью падения, А-А - ось вращения предметного столика б и планки 7, О - точка пересечения оси светового пучка с осью вращения предметного столика 6 и планки...

Номер патента: 1073639

Опубликовано: 15.02.1984

Авторы: Гафуров, Солдаткин

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферы, показателя, постоянной, преломления, структурной

...сигнал;По - диаметр приемной апертуры,при которой начинается насыл,щение отношения сигнала кшуму,Недостатком известного способаявляется то, что за время проведения измерений изменяются параметрытурбулентности и прозрачности атмо-сферы, что вносит значительную ошибку в конечный результат измеречий.Гель изобретения - повышение точности измерений.Укаэанная цель достигается тем,что согласно способу измерения структурной постоянной показателя преломления атмосферы, включающему пропуска ние через атмосферу оптического излу.чения,регистрацию его и измерение отношение сигнал/шум на выходе гетеродинного приемника, дополнительноизмеряют мощностисигнала на .выходе 65 приемника прямого детектирования,а отношение сигнал/шум измеряют...

Номер патента: 1081483

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Немченок, Полонин, Шатохин

МПК: G01N 21/45

Метки: изменений, показателя, преломления, регистрации

...как во всемисследуемом объекте, так и в задан;ной локальной точке, которая используется как характерная точка приопределении изменений показателя преломления в исследуемом объекте.На чертеже приведена схема устройства для регистрации измененийпоказателя преломления оптическипрозрачных объектов.Устройство содержит источник 1когеоентного,излучения, первое 1 ивторое 3 полупрозрачное эеркал 1,первое поворотное зеркало 4, первыйрасширитель 5 излучения от полупроз-рачного зеркала 2 пучка излучений,третье полупрозрачное зеркало б,второе поворотное зеркало 7, второйрасширитель 8 излучения, рассеиватель 9, регистратор 10, оптическуюсистему 11, диафрагму 12 и фотоприемник 13,устройство работает следующим образом.Пучок излучения от источника...

Номер патента: 1087844

Опубликовано: 23.04.1984

Авторы: Кульша, Науменко, Яковенко

МПК: G01N 21/45

Метки: жидких, кристаллов, показателей, преломления

...по ле2 сИ;где М - округленный до бшжайшего це- лого значения порядок интерференцииед - толщина слоя жидкого кристалла.Для четырех интерференционных экстре. мумов выпсаняются следующие соотнсепения между оптической разностью хода и длиной водныЭгде д р о - толщина пленки жидкого кристалла и его показатель преломления на частоте 4К -порядок интерференции,Разложение дисперсионной формулы 5 Зельмейера дпя показателя преломления в ряд по частотам имеет видргВыражая п и о,через й, и пр и О через О с точностью до 9 р получаем10, (8)Вычитая (7) иэ (8), псаучаем формулу дпяДк дК 25 30 2 Н.где дКК.-"К,- К; йКр= К -КПоястааяяя ее в уравиейие (7 и решая полученное равенство относительно, после подстановки в формулу (4) по лучаем требуемое выражение...

Номер патента: 1097921

Опубликовано: 15.06.1984

Авторы: Коломийцев, Мейльман, Смагин

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления

...что согласно способу измерения показателя преломления пластин из оптически прозрачных материалов, включающему определение оптической плотности и толщины пластины, после измерения оптической плотности и 40 толщины пластины ее утоняют до толщины в пределах О, 1-0,9 от исходного значения, измеряют оптическую плотность и толщину утоненной пластины и определяют показатель преломления 45 по формулеь + )11 г Ьг 1гьг И (1)где и - показатель преломления пластины для света с длиной волны 3и Р - оптические плотности при2той же д исходной и утоненнои пластин толщиной 111 и Ъг 55соответственно. При прохождении света через пластину имеют место френелевские опти ческие потери на границе раздела пластины с окружающей средой. и селективное поглощение...

Номер патента: 1103120

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Барышников, Черепанов, Шапиро

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферы, показателя, преломления, профиля, структурной, характеристики

...краем вырезывающего отверстия видеосигнал,пропорциональный интенсивности светового пятна, поступает на второй входкомпаратора б.и в течение второй поло-.вины кадрасравнивается с половиной диаграммы сигналов; на выходе сканирующего фотодетектора 3 -15, пиковомдетекторе 4 - 1 б, счетчике 9 . - 17,и синхроимпульсы 18 и 19 в слУчаеиспользования генератора треугольнойцифровой разверткй. До момента равенства напряжений на входах компаратора 6 счетчик 9 считает число тактов с момента времени - . При равенТк220стве сигналов на входах компаратораб на его выходе Формируется логический перепад - команда запрета насчет, которая поступает на .первыйуправляющий вход счетчика 9, а такжена электронный ключ 14, которыйсчищает пиковый детектор...

Номер патента: 1104399

Опубликовано: 23.07.1984

Авторы: Закиров, Лейкин, Молочников

МПК: G01N 21/41

Метки: показателя, преломления, среды

...элемента в виде плоскопараллельной пластины, вырезанной подуглом к оптической оси кристалла.Нормально падающий на пластину широкий пучок линейно поляризованного света А - А разлагается в кристаллооптическом элементе на два когерентных пучка,поляризованных в ортогональных плоскостях и сдвинутых в поперечном направлении на величину д, зависящую от толщиныпластины, ее двупреломления и угла междуосью кристалла и нормалью к поверхности.Если диаметр исходного пучка Р превышает д, то прошедшие кристалл обыкновенный и необыкновенный пучки частичнопереналожены. В области переналоженияпучки интерферируют, результатом чего является эллиптически поляризованная световая волна с некоторой начальной разностьюфаз Фр (в некоторых более сложных...

Номер патента: 1107033

Опубликовано: 07.08.1984

Автор: Текучева

МПК: G01N 21/41

Метки: комплексного, пленочных, подложке, показателя, преломления, структур

...дисперсные кривые действительной и и мнимой пЖ частей комп лексного показателя преломленияв широком спектральном интерваледля пленок, полученных в процессетехнологического режима на подложках с неизвестными оптическими ха рактеристиками. Кроме того, известный способ не может быть применендля определения оптических характеристик отдельного слоя из многослой.ной структуры пленок, нанесенных на 25 неизвестную подложку.Целью изобретения является повышение точности измерений отдельныхслоев из многослойных (М-слойных)структур на неизвестной подложке 30 и расширение спектральной областиисследований.Цель достигается тем, что согласно способу, включающему измерениеинтенсивностей падающего Ло прошедшего 4(, отраженного со стороны пленочных...