Способ ультразвукового контроля однородности образцов

Номер патента: 1555657

Опубликовано: 07.04.1990

Авторы: Бурнаев, Орехов, Хакимов

МПК: G01N 29/00

Метки: затухания, колебаний, коэффициента, нитеподобных, образцах, ультразвуковых

...одного участка полнительно измененияСпособ осуществляют следующим образом,Для исключения влияния различийусловий излучения и приема на каждойпаре излучатель - приемник производят5предварительную настройку. С этой целью приемный преобразователь размещают точно по середине образца, т.е.на одинаковых расстояниях от точекизлучения Х и У . Из точек У., и Х 2поочередно излучают ультразвуковыеколебания, приемным преобразователемпринимают их и изменением напряжениявозбуждающих сигналов, регулировкойкоэффициента усиления приемного тракта добиваются равенства амплитуд принимаемых сигналов от обоих излучающих преобразователей. Затем приемный преобразователь размещают в точке Х которая расположена на расстояниях Ь,и Ь от точек излучения У и...

Номер патента: 1728658

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Гончаров, Евсюков, Мойса, Резниченко

МПК: G01B 17/02

Метки: образца, плоскопараллельного, толщины, ультразвукового

...я колебаний на пответствующим углу скоростью Сср, под возбуждают ультра- Б контролируемом обазца вычисляют с да ультразвуковых волнаь ат - расстояния от точки ввода до точки приема соответственно продольных и сдвиговых волн.Недостатком этих способов является большая трудоемкость и невысокая точ ность измерений в образцах крупнозернистых материалов.Цель изобретения - повышение точности измерений в образцах из крупнозернистых материалов и упрощение способа. 10Цель достигается тем, что предварительно рассчитывают среднюю скорость ультразвуковых колебаний Св материале образца, выбирают угол падения ультразвуковых колебаний на поверхности образца 15 соответствующим углу ввода 45 в образец со скоростью ультразвуковых колебаний Ср, под тем...

Номер патента: 1226150

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Бутько, Волчуга, Глазунов, Пятосин

МПК: G01N 3/56

Метки: деталью, деформированием, инструмента, контакта, обрабатываемой, параметров, пластическим, поверхностным, процессе, пятна

...изолирующей пленкой. Осуществляют процесс поверхностного пластического деформирования путем обкатывания ролика 2 относительно детали 1, В зону пятна контакта подается электрический ток, Для регулирования силы тока в цепи 4 используется добавочное сопротивление 5. Падение напряжения (электрический сигнал) измеряется на сопротивлении шунта 6 и фиксируется с помощью самописца 7, Питание схемы осуществляется источником 8 питания,Часть пятна контакта аь совпадающая с узкой полоской, проводит электрический ток. Причем в зависимости от ширины контакта ролика 2 с неизолированной полоской изменяется и активное сопротивление участка. Рабочая подача Ь инструмента во время обработки параллельна оси детали 1 и обеспечивает постепенное...

Номер патента: 588495

Опубликовано: 15.01.1978

Авторы: Дубовик, Мацевич, Шевьев

МПК: G01N 29/04

Метки: затухания, звука, образцах, ультразвуковой

...звукокз1 - 31+ хх 1 + ркзф, фхх и кз - коэффициенты отражения безнагрузки, при плотном прижатии акустическижесткой нагрузки и при расстоянии однойчетверти волны соответственно.На чертеже представлено устройство, реализующее описываемый способ,В измерительной трубе 1 расположен гндрофон 2 и испытываемый образец 3. Массивный сигнальный цилиндр 4 используется длясоздания акустически жесткой нагрузки,Согласно данному способу, с помощью гидрофона 2 измеряют амплитуду волны, отраженной от испытываемого образца 3, по величине которой определяют коэффициент отражения. Определение коэффициентов отражения звуковой волны производится в трех режимах нагрузки испытываемого образца:- режим свободного звукового поля,588495 где Ф ор мула...

Номер патента: 1057784

Опубликовано: 30.11.1983

Авторы: Зеленчук, Смешков

МПК: G01H 1/00

Метки: внутриреакторных, деформаций, длине, образца, поперечного, сечения, условиях

...сечений образца 9 придеформации его в процессе попэучести вовнутриреакторных усповияхеУстройство работает следующим образом,При измерении исследуемый образец 9сканируют относи тельно акустическогодатчика, Звуковая энергия от излучателя 553 по.воановоду 1, кольцевой проточке 8и вопноводу 2 проходит к приемнику 4,Прн поперечной деформации образца 9 в сечении, распопоженном в плоскости даччика, на нескопько микрометров меняетсявеличина звуковой энергии, рассеиваемойво внешнюю среду через зазор между поверхностями исследуемого образца 9 икалиброванного отверстия 7 акустического датчика, а следовательно, и уровеньзвуковой энергии на приемнике 4, Сканирование иссспедуемого образца 9 относительно акустического датчика не влияетна рассеивание...