Способ определения поверхностной и объемной однородности материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 249725
Автор: Янышев
Текст
Союз Ссветских социалистических РеспубликКомитет по делам Приоритетизобретений и открытий при Совете МинистровСССР Дата опубликования описания 24.ХП.1969 Автор . изобретения П. К. Янышев ЗаявительСПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ И ОБЪЕМНОЙ ОДНОРОДНОСТИ МАТЕРИАЛОВНастоящее изобретение может быть использовано в металлургии, металлообрабатывающей промышленности и приборостроении при разработке технологии изготовления механических резонаторов, электромеханических фильтров, применяемых в радиотехнике, автоматитке и т. п.Известные способы определения однородности, заключающиеся в возбуждении образца и замере частот собственных колебаний в двух взаимно перпендикулярных направлениях, недостаточно точны.Цель изобретенияповышение разрешающей способности и точности определения однородности материалов.Для определения однородности материалов берут брусок, пластину, поковку или любой образец, предназначенный для испытания и имеющий материал н режимы обработки,одинаковые с деталью, возбуждают любым способом колебания в нем и замеряют частоту собственных колебаний. Затем уменьшаюттолщину образца, например, путем двусторонней сихптетричнотт шлифовки, и несколько раз повторяют описанные операции, после чего строят график зависимости частоты собственных колебаний от изменения толщины образца и по прямолинейности полученной характеристики судят об однородности материала.поверхностной и объемной однородности материалов после различных видов обработки, заключающийся в том, что возбуждают образец и замеряют частоту собственных колебаний, отличающийся тем, что, с ЦЕЛЬЮ повышения точности, возбужденъте колебаний и зав-тер частот собственных колебаний производят при последовательном уменьшении толщины образца,строяттрафик зависимости частоты собственных колебаний от изменения толщины образца и по прямолинейности полученной характеристики судят об однородности материала.
СмотретьЗаявка
1177958
П. К. Янышев
МПК / Метки
МПК: G01N 29/12
Метки: объемной, однородности, поверхностной
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-249725-sposob-opredeleniya-poverkhnostnojj-i-obemnojj-odnorodnosti-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения поверхностной и объемной однородности материалов</a>
Предыдущий патент: Способ автоматической минимизации влияния зазора между датчиком и изделием при электромагнитном контроле
Следующий патент: Техническая библиотека
Случайный патент: Устройство для раздвижки и фиксации стержневых элементов