Способ измерения неоднородностей синусоидального магнитного поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1170387
Автор: Цыпылов
Текст
(5 Й РЕТЕНИ ТЕЛ ЬСТ 2 хническии др. Осно ия, 1976 ьство СССР 33/00, 197-0 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССС ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ ОПИСАНИЕ И К АВТОРСКОМУ СВИДЕ(54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ СИНУСОИДАЛЬНОГО МАГНИТНОГОПОЛЯ, основанный на сравнениимгновенных значений напряжений сконтрольного и измерительного датчиков поля, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что с целью повышения быстродействия, из напряжения измерительногодатчика вычитают напряжение контрольного датчика, фиксируют мгновенные значения разностного напряженияна фазах 0 с= 0 и К90 относительно перехода через нуль напряженияс измерительного датчика и по нимсудят соответственно о величинеи знаке фазовой и амплитудной неоднородностей.
СмотретьЗаявка
3297742, 03.06.1981
ЧИТИНСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ЦЫПЫЛОВ ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/00
Метки: магнитного, неоднородностей, поля, синусоидального
Опубликовано: 30.07.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1170387-sposob-izmereniya-neodnorodnostejj-sinusoidalnogo-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения неоднородностей синусоидального магнитного поля</a>
Предыдущий патент: Устройство допускового контроля
Следующий патент: Компонентный магнитометр
Случайный патент: Предохранительная муфта