Патенты с меткой «луча»

Номер патента: 1764183

Опубликовано: 23.09.1992

Автор: Кривенко

МПК: H04N 5/228

Метки: луча, передающей, стабилизации, телевизионной, трубки

...подаваемой на него синхросмеси, при этом прерывается ток катода и анода. Наличие усилителя приводит к появлению источника. питания, а введение стабилитрона приводит к необходимости обеспечения минимального тока стабилизации стабилитрона, определя 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 ющего потребляемую схемой значительную мощность, что и является недостатком устройства,Цель изобретения - снижение потребляемой мощности.Указанная цель достигается тем, что в устройство стабилизации тока луча передающей телевизионной (ТВ) трубки, содержащее формирователь сигнала гашения, выход которого подключен к катоду передающей ТВ трубки, преобразователь ток анода-напряжение, соединенный с анодом передающей ТВ трубки, введен умножитель...

Номер патента: 1772609

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Иванов, Летенко, Торчинский, Федорцов

МПК: G01B 9/10

Метки: изменения, луча, образец, падения, угла

...находится на оси нижнего шарнира пантографа. Устройство обеспечивает проведение измерений за время, больше 10 с.Существенным недостатком устройства, являющегося прототипом. является недостаточно высокая скорость измерений, на что указывают сами авторы устройства. Вчастности, с помощью устройства, выбранного о качестве прототипа, невозможно измерять толщину жидких пленок в процессе5 их растекания. Кроме того, использованиепантографа в качестве устройства. изменяющего угол падения луча на образец, и риводит к большим погрешностям измерения впроцессе эксплуатации, так как при измере 10 нии происходит механическое перемещение элементов пантографа, а также лазераи фотоприемника,Целью изобретения является повышение скорости и точности...

Номер патента: 1773641

Опубликовано: 07.11.1992

Авторы: Казаков, Румянцев

МПК: B23K 15/02

Метки: автоматической, луча, сварочного, фокусировки, электронного

...Фокусировка и совмещение луча со стыком осуществляются по максимуму амплитуды сигнала с двойной частотой сканирования, Максимум амплитуды сигнала с двойной частотой сканирования достигается за счет регулировки величины выходного тока усилителя 9, управляющего напряжением с первого выхода блока 12 фокусировки и изменением величины посто- линой составляющей второго выхода блока12, выходной сигнал датчика 1 поступает навход формирователя 2 сигнала, где из спектра вторично-эмиссионного сигнала выделяется сигнал с двойной частотойсканирования, Индикация положения фокуса и взаимного положения луча относительно стыка осуществляется с помощьюиндикатора, входящего в состав формирователя 2. По окончании процесса предварительной фокусировки и...

Номер патента: 1797041

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Болтачев, Клячин

МПК: G01N 29/04

Метки: ввода, изменения, луча, материал, угла, ультразвукового

...также изменения ввода при регулировании скорости звука в одной из сред; на фиг.4- увеличение сектора сканированияЛаг при приближении угла ввода а 2 ккритическому.Способ реализуется следующим образом.Через 2 среды исследуемого материалапод углом к границе раздела двух сред пропускают ультразвуковой луч. В качестве одной 35из сред используют магнитострикционныйматериал, В этой среде изменяют скорость.звука путем изменения намагничивания материала,Определяют величину, при которой уголввода равен критическому для данного типа. ультразвуковых колебаний Нс и величинуН, при которой наступает насыщение поля,а интервал изменения выбирают от Н до-Нс или от -Н до Нс45Большинство магнитострикционныхматериалов обладает симметричной петлей1...

Номер патента: 1800434

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Ильченко, Москалев, Обозненко, Погорелова, Смирнов

МПК: G02F 1/33

Метки: акустооптическое, двухкоординатного, луча, оптического, отклонения

...в плоскости чертежа - по поверхности отражательного зеркала 4. При этом одновременно за счет анизотропности акустооптического взаимодействия происходит поворот плоскости поляризации светового пучка на 90 ц, Отражающее зеркало 4 возвращает горизонтально отклоненный пучок в направлении телескопической системы 3 в пределах ее поля зрения, который проходит АОЯ 2 без взаимодействия с ней из-за невыполнения брэгговских условий (отличие поляризации и угла падения), Телескопическая система 3 трансформирует сечение светового пучка, 55 может быть выполнено на основе так называемого "косого" среза парателлурита. Анизотропия парателлурита приводит к тому, что угол дифракции равен 0, Таким образом, если отклоненный АОЯ свет направить обратно в...

Номер патента: 1808578

Опубликовано: 15.04.1993

Автор: Коваль

МПК: B23K 15/00

Метки: луча, позиционированием, пушек, сварочных, электронного

...тем, что в зоне стыка свариваемых модулей из потоке Вторичной эмиссии выделяются поляризованные сво. бодные. электроны, определяется асиммет-рия рассеяния вторичных поляризованных электронов вводится дополнительное корректирующее воздействие на положение электронного луча. Изобретение позволяет учитывать намагниченность йзделий в зоне . сварки, 1 ил. Ф одновременно: анализируютса поперечные ф компоненты, Когда же фильтр 3 Вина включен, две компоненты поляризации, перпендикулярные его . магнитному полю, поворачиваютея. на 90, так что продольная компонента становится поперечной и ее можно измерить. Детектор 5 принимает поляризованный вторичный электронный пучок, измеряет . число электронов, рассеянных на один и тот же угол влево Ке й...

Номер патента: 1815472

Опубликовано: 15.05.1993

Автор: Шитов

МПК: F21V 7/06

Метки: источник, луча, остронаправленного

...маломощным точечным источником излучения мощностью 10 - 15 вт. Плотность 35 светового и теплового излучения 0,5-0,8вт/мм позволит получить локальный нагрев материала с хорошими поглощающими свойствами свыше 800 С. (Ориентировочный расчет укаэанной температуры может 40 быть при необходимости представлен дополнительно). Имея луч такой энергетической мощности, можно проводить широкий спектр технологических операций (резка различных материалов, сварки их и т.п.) в 45 различных областях техники.Располагая по указанной на фиг,2 схеметочечный источник световой энергии мощностью 15 вт в фокусе основного зеркала с О = 120 мм и софокусного с ним внутреннего 50 зеркала с Ь - 60 мм, при выполнении соотношения их фокусных расстояний (Г 1 "25 мм и...

Номер патента: 1821313

Опубликовано: 15.06.1993

Авторы: Вечко, Гемба, Камсюк

МПК: B23K 26/00

Метки: лазерной, луча, обработке, отклонения, фокусирования

...направляющим 7 до момента соприкосновения копировального рычага 18 с поверхностью детали. Подпружинивание суппорта 8 относительно кронштейна 6, жестко связанного с корпусом 1, обеспечивает постоянство расстояний от фокусирующей линзы 17 до обрабатываемого участка поверхности, Контактирование копировального рычага 18 с поверхностью происходит следующим образом: суппорт 8 перемещают копировальный рычаг по направлению к упрочняемой детали, в момент возникновения контакта копировального рычага 18 с поверхностью детали в точке А суппорт останавливается,рычаг же под действием пружины 9 начинает поворачиваться вокруг точки контакта А; рычаг 18 поворачивается до момента возникновения контакта в точке В. Копировальный рычаг 18 за счет жесткой...

Номер патента: 2002331

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Бернд, Ханс-Гюнтер

МПК: H01J 25/00

Метки: гиротроне, луча, направления, электронного

...междуметаллическими стержнями 8,1, 8,2, , 8,5может быть меньше половины длины волны,Для крепления колец 9,1, 9.2 напротив этоминимальное расстояние не должно занижаться.В случае описанного узла для направления луча на первом участке обеспечиваетсяособенно хорошая развязка ТЕ-мод, а на2002331 верстия нежелательного микроволнового излучения, в него введена ахладаемае поглощающее устройство, охватываюгцее узел для напрзвления луча,втором участке -ТМ-мад, При необходимости несколько таких участков могут располагаться друг за другом в чередующейся последовательности.При высоких частотах (свыше 70 ГГц) не происходит избирательной развязки определенных мод. В этом случае узел для направления луча может состоять выборочно лишь из колец или...

Номер патента: 1651455

Опубликовано: 15.02.1994

Авторы: Архипенко, Большаков, Никитин

МПК: B23K 26/00

Метки: лазера, луча, прерывания, технологической, установки

СПОСОБ ПРЕРЫВАНИЯ ЛУЧА ЛАЗЕРА ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ УСТАНОВКИ, при котором канал прохождения луча периодически перекрывают и открывают по команде с устройства управления двумя последовательно установленными в нем быстродействующими и медленнодействующим затворами, отличающийся тем, что, с целью повышения скорости прерывания луча путем уменьшения массы исполнительного элемента затвора за счет снижения тепловых нагрузок на него, команды на закрытие обоих затворов подают одновременно, а команду на открытие медленнодействующего затвора - с опережением команды на открытие быстродействующего затвора на величину не более времени срабатывания медленнодействующего затвора и не менее разности времени срабатывания затворов.

Номер патента: 942328

Опубликовано: 15.12.1994

Автор: Майоров

МПК: B23K 15/00

Метки: диаметра, луча, электронного

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА ЭЛЕКТРОННОГО ЛУЧА, выходящего из электронно-оптической системы электронной пушки, содержащее электроды-коллекторы, рабочие поверхности которых взаимно смещены, площадь рабочей поверхности одного из которых превышает площадь любого сечения электронного луча, а боковые поверхности которых перпендикулярны рабочей поверхности и разделены диэлектриком, отличающееся тем, что, с целью повышения точности путем снижения влияния вторичной эмиссии и зазора между электродами, рабочие и боковые поверхности электродов выполнены под острыми углами, рабочая поверхность одного из электродов наклонена под углом менее 90o к оси электронно-оптической системы и больше площади любого сечения электронного луча, причем...

Номер патента: 1837470

Опубликовано: 20.05.1995

Авторы: Казаков, Румянцев

МПК: B23K 15/02

Метки: луча, сварке, сварочного, совмещения, стыком

...конденсатора, образованного пластинами датчика 2, определяется как С=8,85 я .Я б 10 Ф) и при ,фиксированных значениях 5 и б Я - площадь каждой пластины, б - расстояние между пластинами) определяется только значением д.электрической проницаемости вещества, заполняющего пространство между пластинами. Величина емкости определяет значение частоты, генерируемой генератором 3; выходной сигнал генератора поступает на вход амплитудного ограничителя 4.Амплитудный ограничитель 4 устраняет вли яние амплитудных флуктуаций сигнала датчика 2, вызванных воздействием дестабилизирующих факторов, на точность совмещения, Частотный детектор 5 преобразует выходное напряжение генератора 3 в постоянное, которое поступает на схему 6 сравнения. Ключ 7...

Номер патента: 1825172

Опубликовано: 10.09.1995

Авторы: Мурашев, Пустовалов

МПК: G02B 7/18

Метки: луча, переотражения, светового

...винты 12, радиально установленни; в корпусе 1 . лэаимодеисгвующие свои;л; концами с ф ",1 6 сферического шарнира 3,Формула изобретения УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПЕРЕОТРАЖЕНИЯ СВЕТОВОГО ЛУЧА, содержащее корпус. сферический опорный шарнир с осевым отверстием и конической расточкой, установленной в корпусе, две эксцентриковые втулки, размещенные коаксиально с возможностью вращения друг относительно друга, регулировочные винты и пружину, отличающееся тем, что, с целью повышения точности юстировки, наружные боковые поверхности эксцентриковых втулок и внутренняя поверхность наружной эксцентриковой втулки выполнены коническими, а торец сферического шарнира со стороУстройс 1 во работает следующим образом.Сначала посредством разворота регулировочных...

Номер патента: 1669327

Опубликовано: 10.11.1995

Авторы: Асалханов, Домбровский, Иванов

МПК: H01J 29/51

Метки: вакууме, луча, места, падения, поверхности, полупроводника, регистрации, электронного

СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ МЕСТА ПАДЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ЛУЧА НА ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКА В ВАКУУМЕ, включающий очистку поверхности полупроводника и облучение ее электронным лучом, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона регистрации низкоэнергетического электронного луча при упрощении способа, одновременно с облучением поверхности полупроводника электронным лучом дополнительно осуществляют сканирование поверхности сфокусированным световым лучом, при этом регистрацию места падения электронного луча проводят по изменению величины тока электронного луча в момент совпадения места падения электронного и светового лучей.

Номер патента: 1826342

Опубликовано: 20.04.1996

Авторы: Волков, Глазов, Магнитов

МПК: B23K 15/00

Метки: луча, наклона, образца, оптимального, оси, поверхности, сварке, угла, электронно-лучевой

...импульсным включением движения пушки 3 по полярной координате при постоянной скорости перемещения пушки 3 по линейной координате. Траектория перемещения точки "О." проходит в этом случае по оси симметрии образца.Методика определения оптимального угла наклона оси луча к поверхности образца представлена на фиг.1, где ан - начальный угол наклона оси пушки (луча); а - конечный угол наклона оси пушки (луча);Ла =а -ан - диапазон изменения углов наклона луча; а ач.1 - угол наклона оси пушки (луча) в начале участка с качественным формированием шва; а ач.г - угол наклона оси пушки (Луча) в конце участка с качественным формированием шва;Лаач -- а.ч,г -акач,1 диапазон изменения углов наклона оси пушки (луча) на участке с качественным формированием...

Номер патента: 1087020

Опубликовано: 20.10.1996

Автор: Любчанский

МПК: H01Q 3/26

Метки: антенной, луча, решетки, сканирования, фазированной, электронного

Способ электронного сканирования луча фазированной антенной решетки, включающий последовательное перемещение луча в секторе сканирования путем изменения с помощью фазовращателей фазового распределения сигналов на излучателях фазированной антенной решетки в зависимости от времени, отличающийся тем, что, с целью повышения скорости обзора пространства и точности установки луча фазированной антенной решетки, фазы сигналов на каждом из излучателей фазированной антенной решетки изменяют дискретно с постоянной для каждого из них величиной приращения фазы, а интервалы времени между моментами изменения фазы сигналов выбирают в соответствии с заданным законом последовательного перемещения луча в секторе сканирования.

Номер патента: 1352787

Опубликовано: 20.04.1997

Авторы: Герасименко, Иосилович, Лысенков, Псарев, Савотин, Свечин

МПК: B23K 15/00

Метки: луча, наведения, свариваемых, стык, электронного

1 Способ наведения электронного луча на стык свариваемых деталей, при котором положение луча относительно стыка определяют по двум точкам, расположенным на расстоянии, соизмеримом с толщиной свариваемых деталей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности наведения электронного луча на стык при сварке соединений толщиной не менее 30 мм, стык выполняют и обрабатывают совместно с вводными планками и реперной ступенькой толщиной 0,03 0,08 толщины свариваемых деталей, которую выполняют от нижней кромки стыка, а точки для определения положения оси луча относительно стыка располагают на вводных планках с лицевой стороны стыка, причем одну из них совмещают с верхней кромкой вблизи торца деталей, а другую на реперной ступеньке.

Номер патента: 1624832

Опубликовано: 20.05.1997

Авторы: Барышев, Бородин, Лысенков, Морочко, Свечин

МПК: B23K 15/04

Метки: луча, плоскостью, совмещения, стыка, электронного

...я для обеспечения четкости сигнала от стыка на краях контрольного его отрезка при увеличивающемся рабочем расстоянии, требуется дополнительная корректировка тока фокусировки,Заключительный этап предусматривает совмещение луча с плоскостью стыка. Для этого, изменяя рабочее расстояние г между изделием и пушкой 6, выявляют смещение светящейся точки Б поперек (точка Г) или вдоль стыка, Это смещение устраняют угловым поворотом пушки и линейным ее перемещением, Если положение точки Б на стыке с изменением рабочего расстояния г не изменяется, то ось электронного луча 5 находится в плоскости стыка и перпендикулярна к касательной, проходящей через данную точку,Скорректировав положение свариваемого стыка и электронной пушки, можно производить...

Номер патента: 1228661

Опубликовано: 20.12.1999

Авторы: Воронин, Максимов

МПК: G01S 15/00

Метки: акустического, локатора, луча, параметрического, сканирования

Способ сканирования луча параметрического акустического локатора, заключающий в том, что излучают два акустических сигнала разных частот, изменяют ориентацию в пространстве оси диаграммы направленности излучения одного из акустических сигналов в пределах заданного сектора сканирования, отличающийся тем, что, с целью повышения стабильности положения сканирующего луча в пространстве, облучают другим акустическим сигналом одновременно всю область пространства, ограниченную заданным сектором сканирования, а угол раствора диаграммы направленности сканирующего луча устанавливают равным углу раствора диаграммы направленности локатора.

Номер патента: 1584520

Опубликовано: 10.03.2000

Авторы: Изосимов, Кузин

МПК: G01J 1/02, G01J 1/04

Метки: деления, лазерного, луча

Устройство деления лазерного луча, содержащее светоделительную пластину, отличающееся тем, что, с целью повышения стабильности коэффициента деления, в него введены управляемый ослабитель, дополнительная светоделительная пластина, система из двух механически жестко связанных непрозрачных зеркал, пьезоэлектрический модулятор, источник переменного напряжения, при этом один из входов и один из выходов светоделительной пластины являются соответственно входом и одним из выходов устройства, второй выход светоделительной пластины через управляемый ослабитель оптически связан с входом дополнительной светоделительной пластины, у которой один из выходов является вторым выходом устройства, а второй...

Номер патента: 1582480

Опубликовано: 10.02.2005

Авторы: Барышев, Иванов, Мусарыгин, Шныриков

МПК: B23K 15/00

Метки: луча, оси, плоскостью, свариваемых, совмещения, стыка, электронного

Способ совмещения оси электронного луча с плоскостью стыка свариваемых деталей, при котором производят совмещение плоскости стыка реперной ступеньки с плоскостью стыка свариваемых деталей, а положение оси электронного луча относительно плоскости стыка определяют по двум точкам, расположенным на расстоянии, соизмеримом с толщиной свариваемых деталей, причем одну точку выбирают с лицевой стороны вводимых планок на верхней кромке у края стыка, а другую - на реперной ступеньке, отличающийся тем, что, с целью повышения качества сварных соединений путем повышения точности совмещения оси электронного луча с плоскостью стыка свариваемых деталей и экономии материала, реперную ступеньку выполняют...

Номер патента: 1259589

Опубликовано: 10.07.2005

Авторы: Гребенников, Захаров, Ставров

МПК: B23K 26/00

Метки: лазерного, луча, фокусировки

1. Устройство для фокусировки лазерного луча, содержащее закрепленный на выходном фланце лазера тубус с установленной в нем с возможностью перемещения вдоль оптической оси лазера фокусирующей линзой, отличающееся тем, что, с целью расширения номенклатуры обрабатываемых изделий, механизм перемещения фокусирующей линзы выполнен в виде каретки, соединенной с приводами грубого и точного ее перемещения. 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что привод грубого перемещения каретки выполнен в виде винта с двухпозиционной гайкой, установленной в кронштейне на каретке, а привод точного перемещения - в виде микровинта, закрепленного на кронштейне червячной пары, и стопора.3....

Номер патента: 1598345

Опубликовано: 20.04.2008

Авторы: Баранов, Воробьёв, Гудков, Ларионов, Левченко, Морочко, Новиков, Онин, Токарев

МПК: B23K 15/00

Метки: луча, плоскостью, совмещения, стыка

Устройство для совмещения луча с плоскостью стыка свариваемых деталей при электронно-лучевой сварке, содержащее датчик с корпусом, в котором выполнено отверстие для улавливания излучения луча, приемник излучения и приборы измерения электрического сигнала, отличающееся тем, что, с целью повышения точности совмещения луча с плоскостью стыка, оно снабжено изолирующей пластиной, установленной в дне корпуса датчика и на которой расположен приемник излучения с четырьмя управляющими электродами, установленными парами одна над другой и изолированными друг от друга, при этом каждая пара электродов образует контрольное отверстие диаметром 1,5-2 диаметра луча в фокусе, расположенное соосно...