Патенты с меткой «эмиссионного»

Номер патента: 1822947

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Головко, Малиголовка, Паздерский, Сапрыкин, Сушко

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...катода 2 анализируемое вещество.Снова откачивают камеру и затем заполняют ее гелием. Подают анодное напряжение,величину которого выбирают ниже порогазажигания самостоятельного разряда, Припомощи выключателя 9 подают электрический ток на катод-испаритель. За счет высокой температуры вокруг катода образуется облако атомных паров и термических электронов, эмитируемых катодом, Энергия термоэлектронов недостаточна для возбуждения атомов большинства анализируемых элементов, но в электрическом поле термоэлектроны могут приобретать определенную энергию, Если энергия ускоренных электронов превышает энергию возбуждения атомов определяемых элементов, но ниже энергии иониэации атомов инертного газа, заполняющего камеру, то излучение состоит...

Номер патента: 1822949

Опубликовано: 23.06.1993

Автор: Сафонова

МПК: G01N 21/73

Метки: анализа, спектрального, фотографического, эмиссионного

...начало и конец пробы от начала блока образцов. лезвия на расстоянии аналитического про межутка и подают напряжение от искрового генератора, Образующаяся искра рассредотачивается между блоком и противоэлектро дом 8 случае исследования, например, распределения элементов в зоне сварного или, паянного шва достаточно вместо блока установить анализируемый участок шва. Линейный световой разряд, образующийся в аналитическом промежутке, проектируют на щель спектрографа, перед которой вмес;о диафрагмы устанавливают сетку, которая делит полученный спектр на равные участки. Ц дальнейшем фотометрируют каждый участок аналитической линии, соответ;1822949 СоставительТехред М.Моргентал Редактор Т. Шагова Корректор С, Патрушева Заказ 2177 Тираж...

Номер патента: 2002329

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Гурков, Исаев, Пожидаев

МПК: H01J 3/20

Метки: иммерсионный, магнитный, микроскопа, объектив, электронного, эмиссионного

...1) О глг). 20Г 1 одфокусироока эмгссионного иэображения на пюминасцентном экране микроскопа осугцестоляатся за счет излганенгя величины маггтног идукции в перво 1 зазорепутем змеения его размароо зд 25 счет перемещения вдоль оп уической оси нижнего полюсного 1 дконечникд. При этом Возниде Г гара)дсГ 1 раде)11ниа вел ичиу маГ- нитной индукции о нема(1 итных зазорах. Так, с увелгьаниалг зазора О оепи Ннд лдг нитной индукции в 1 ам умеьшается, о то же время оо втором зазоре 5 еа значение практически ПР Его(11 е;- ся. 1 рг зГОм соотоа 1- ственно маняетсяокусное расстояниег первой линзы, о результате чего достигается на экране четкость эмиссионного изображения.Конструкция иммерсионного магнитного объектива показанд нд фиг.1; нд 1)иг.2 -...

Номер патента: 445361

Опубликовано: 20.01.2000

Авторы: Смирнов, Юринов

МПК: G01J 3/00

Метки: анализа, инфракрасного, количественного, примесей, эмиссионного

Способ эмиссионного инфракрасного количественного анализа примесей, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности определения концентрации сульфат- и карбонатионов за счет увеличения амплитуды их колебаний, испытуемое вещество переводят в расплав с последующим анализом известным способом.