Способ определения диэлектрической проницаемости эллипсоидальных частиц

Номер патента: 255409

Автор: Шмигель

ZIP архив

Текст

СПИ ИЗОБ 54 О 9 Союз СоветскиаСоциалистически Республик АВТОР СКО Зависимое от авт. Заявлено 1 О1967 с присоединением ПриоритетОпубликовано 28,Х Кл. 21 е, 36/1 ПК 6 О Комитет по деламизобретений и открцтипри Совете МинистровСССР УДК 621,317,335(088.8 а опубликован Авторизобретения Н, Шмигел аявите СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОПРОНИЦАЕМОСТИ ЭЛЛИПСОИДАЛЪНЫХ ЧАСТ 1ся к Изобретение относит области электро- измерительной техники и предназначено для изучения диэлектрической проницаемости отдельных частиц эллипсоидальной формы, например минералов, зерна, текстильных частиц.Известный способ определения диэлектрической проницаемости частицы путем поворота ее под действием вращающего момента однородного электрического поля связан с большой сложностью измерений.Способ, согласно изобретению, отличается от известных тем, что исследуемую частицу помещают на нижний заземленный электрод горизонтальной системы плоских электродов, покрытый слоем диэлектрика с диэлектрической проницаемостью много большей единицы, и изменяют напряженность электрического поля до ориентации частицы перпендикулярно плоскостями электрода, а искомую величину определяют по известным расчетным формулам и графикам. В результате этого процесс измерений упрощается.На чертеже приведена схема, поясняющая описываемый способ.Испытуемую частицу 1, предварительно взвешенную и обмеренную, помещают в однородном электрическом поле, образованном плоскими горизонтальными электродами 2, 3 на плоский слой диэлектрика 4, который расположен на нижнем заземленном электроде 2. При этом большая ось частицы за счет ее неоднородного состава образует некоторый угол б с горизонтальной плоскостью, Слой диэлектрика 4, имеющий известное значение 5 диэлектрической проницаемости много большей единицы, усиливает поле в воздушном промежутке и исключает подзарядку частицы под воздействием поля за счет касания ее с металлическим электродом. К верхнему 10 электроду у подведено постоянное напряжение от источника питания.На частицу 1 со стороны электрического поля действует вращающий момент М стремящийся повернуть ее в направлении б.15 Ему противодействует момент М, силы тяжести 7 частицы 1. При повышении напряжения на электроде 3 вращающий момент увеличивается и при равенстве его моменту силы тяжести большая ось частиц (положение 8) 20 устанавливается перпендикулярно плоскостинижнего электродаДиэлектрическую проницаемость частицыопределяют из расчетных соотношений, получаемых из равенста М =М, и соответствую щих графических построений при известныхразмерах частицы.Предмет изобретенияСпособ определения диэлектрической про ницаемости эллипсоидальных частиц путемаказ 521(3ЦНИИПИ Комитета ПодписноеСовете Министров СССР5 ппография, пр. Сапунов поворота исследуемой частицы под действием вращающего момента однородного электрического поля, огличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерений, исследуемую частицу помещают на нижний заземленный электрод горизонтальной системы плоских электродов, покрытый слоем диэлектрика с диэлектрической проницаемостью много большей единицы, и изменяют напряженность электрического поля до ориентации частицы перпендикулярно плоскости электрода, а иско мую величину определяют по известным расчетным формулам и графикам.

Смотреть

Заявка

1125715

В. Н. Шмигель

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, проницаемости, частиц, эллипсоидальных

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-255409-sposob-opredeleniya-diehlektricheskojj-pronicaemosti-ehllipsoidalnykh-chastic.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диэлектрической проницаемости эллипсоидальных частиц</a>

Похожие патенты