Устройство для обработки диагностических сигналов

,Ййййд 11 д У 1 д К АВТ 5 ил ГОСУДАРСТ 8 ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ КОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Научно-исследовательский электротехнический институт производствен ного объединения ХЗМЗ и Харьковский ордена Трудового Красного Знамени институт радиоэлектроники им,акад. М.К.Янгеля(56) Авторское свидетельство СССР У 892447, кл. С 06 Р 11/26, 1981.Авторское свидетельство СССР )Ф 546895, кл. С 06 Р 15/46, 1977.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБРАБОТКИ ДИАГНОСТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ(57) Изобретение относится к цифровым системам автоматики и вычислительной техники и может быть использовано для диагностирования неисправностей отдельных модулей этих систем.Цель изобретения - уменьшение объемаиспользуемой памяти и расширениефункциональных возможностей за счетодновременной обработки несколькихвыходных сигналов диагностируемойсистемы. Устройство содержит блокхранения тестов, блок выделенияпризнака неисправности, блок формирования адреса эталонных признаков,блок памяти эталонных признаков, блокпамяти активизируемых модулей, блоксчетчиков приближений, блок индикации, блок синхронизации, 1 з.п, ф-лы.Изобретение относится к цифровымсистемам автоматики и вычислительнойтехники и может быть использовано длядиагностирования неисправностей отцельных модулей этих систем. 5Цель изобретения - уменьшениеобъема используемой памяти и расширение функциональных возможностейэа счет одновременной обработки нескольких выходных сигналов диагнбсти,руемой системы.На фиг. 1 представлена функциональная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - функциональнаясхема блока выделения признака неисправности; на фиг. 3 - 5 - функциональные схемы блока синхронизации,блока формирования адреса эталонныхпризнаков, блока счетчиков приближений. 20Устройство (фиг. 1) содержитблок 1 памяти тестов, блок 2 выцеления признака неисправности, диагностируемую систему 3, блок 4 формирования адреса эталонных признаков,блок 5 памяти эталонных признаков,блок 6 памяти активизируемых модулей,блок 7 счетчиков приближений, блок 8индикации, блок 9 синхронизации.Блок выделения признака неисправ- З 0ности (фиг, 2) содержит и узлов 10выделения признака неисправности,кажцый узел 10 содержит элемент 11задержки, элемент 12 сложения помодулю два с инверсным выходом, эле" З 5мент И 13, блок выделения признаканеисправности также содержит элементИЛИ 14 и элемент И 15. Блок синхронизации (фиг. 3) содержит элементИЛИ 16, одновибратор 17, элемент 18 40задержки, удвоитель 19 частоты. Блокформирования адреса эталонных признаков (фиг. 4) содержит счетчик 20и дешифратор 21,Блок счетчиков приближений 45(фиг. 5) содержит и счетчиков 22 ии дешифраторов 23,В основу работы устройства положено использование тестов, построенных методом активизации путей, Этот метод заключается в том, что тестовые наборы генерируются парами. Каждая пара тестовых наборов имеет одинаковые значения на всех входах диагностируемой системы, кроме одного, на котором значения на наборах пары противоположны (переключение) Смысл активации путей состоит в том что значения на входах подбираются такими, чтобы обеспечить продвижениепереключения с входа диагностируемойсистемы на ее выход, При наличиинеисправности на таком активизированном пути переключения на соответствующем выходе не произойдетеБлок 1 памяти тестов содержитдвоичные тестовые наборы, подаваемыена входы диагностируемой системы 3,Блок 5 памяти эталонных признаковдля каждой пары тестовых наборовсодержит информацию, имеется ли .накаждом из выходов исправной диагностируемой системы 3 переключение 1-0или 0-1. При наличии такого переключения в разряде выходного слова,соответствующем одному иэ выходовдиагностируемой системы 3, находится 1, в противном случае О,Блок 6 памяти активизируемыхмодулей для каждой пары тестовыхнаборов содержит информацию о модулях диагностируемой системы, активизируемых данной парой наборов.Активизируемым счй 1 ается модуль,в котором на данной паре тестовыхнаборов хотя бы на одной линии(связи) происходит переключение 1-0или 0-1, проявляющееся на одном иэвыходов диагностируемой системы 3.Если модуль активизируется на данной паре тестовых наборов, то вразряде выходного слова, соответствующем данному модулю, находится 1,в противном случае О.Таким образом, блоки 1, 5 и 6могут быть реализованы на перепрограммируемых ПЗУ. Объем блока 1 памяти тестов равен (И х 2 Иа, гдеИь - число входов диагностируемойсистемы, Ия - число пар тестовыхнаборов. Объем блока 5 памяти эталонных признаков равен (Ив х Ия),где И ьц, - число выходов диагностируемой системы. ОбЬем блока 6 памятиактивизируемых модулей равен (И хх И), где И, - число модулей в диагностируемой системе.Если на активизируемом пути в некотором модуле имеется константная неисправность О или 1, то ожидаемого переключения на соответствующем выходе диагностируемой системы 3 не произойдет, т,епуть не будет активизирован. Это указывает на наличие неисправности в одном из модулей, находящихся на активизируемом пути,1270761 Наблюдая значение Функции состояния на блоке 8 индикации, оператор может установить неисправности какого модуля (модулей) эта функция соответствует,Устройство работает следующим образом.По сигналу блока 9 синхронизации из блока 1 памяти тестов в диагностируемую систему 3 выдается пара 5 тестовых наборов. Затем по другому сигналу блока 9 синхронизации на выходах блока 4 формирования адреса эталонных признаков Формируется адрес эталонной реакции на даннуо 1 О пару тестовых наборов, Из блока 5 памяти эталонных признаков по этому адресу извлекается эталонный двоичный вектор наличия переключений на выходах диагностируемой системы 3, 15 который поступает на входы блока 2 выделения признака неисправности, На другую группу входов этого блока с выходов диагностируемой системы 3 поступают реальные выходные сигналы, 20 В блоке выделения признака неисправности (Фиг. 2) элемент 11 задержки обеспечивает задержку, равную временному интервалу между двумя тестовыми наборами каждой пары .Поскольку вход каждого такого элемента подключен к одному из выходов диагностируемой системы, реакции этого выхода ца пару тестовых наборов од 30 новременно поступят на входы элемента 12 сложения по модулю 2,на инверсном выходе которого образуется логическая 1 при отсутствии переключения на выходе диагностируемой системы на данпой паре тестовых наборов. 5,35 и логический 0 - при наличии такого переключения, Если в исправной диагностцруемой системе на данном ее выходе при подаче пары тестовыхнаборов имеется переключение, то40 на вход элемента И 13 из блока 5 памяти эталонных признаков поступит логическая 1, что даст на выходе узла 10 вьделения признака неисправности логическую 1, свидетельствую щую о наличии неисправности на пути, активизируемом данной парой тестовых наборов. Этот признак неисправности, проходя через элемент ИЛИ 14, обеспечивающий мультиплексирование таких признаков по всем выходам диагностируемой системы, поступает на вход элемента И 15, Назначение этого элемента - обеспечить. выдачу признаков неисправности (непереключения выхода) в связи с каждой парой тестовых наборов, но не в связи с последовательными тестовыми наборами соседних пар. Лля этого на второй вход элемента И 15 поступает сигнал (логичен. кая 1) с блока 9 синхронизации, сви- . детельствующий об окончании обработки реакции диагцостируемо 1 системы на данную пару тестовых наборов,Если сигнал с выхода блока вьделеция признака неисправности (фиг. 1) содержит признак неисправности (ло" гическая 1), то по адресу, сформро" ванному в блоке 4 Формирования адреса эталонных признаков, в блоке .6 памяти активизируемых модулей выбирается двоичное слово, разрядность которого равна числу модулей в диагностируемой системе 3. Наличие, единицы в разряде этого слова свидетельствует о том, что соответствующий модуль находится ца пути, активизируемом данной парой тестовых наборов. Таким образом, ца выходы блока памяти активизируемых модулей 6 поступает слово, единичные разряды которого указывают ца модули, лежащие на пути, активизация которого це прозошла, т,е. подозреваемые в наличии неисправности. Блок 7 счетчиков приближений представляет собой поразрядньп сумматор, для каждого из модулей диагностируемой системы 3 указыва 1 ощй на число цеактивизированных путей, проходящих через данный модуль, Возможная структура блока 7 показана на фиг. 5, Образующаяся на выходе блока 7 совокупность десятичных значений представляет собой некоторую Функцию состояния диагностируемой системы, которая вьдается на блок 8 индикации после окончания проверки диагностируемой системы 3 по сигналу с блока 4 адреса эталонных признаков,Таким образом, переход к укрупнен-, ной модели неисправности (активиз- зируемый путь вместо отдельной неисправности) позволяет диагностировать неисправности произвольной кратности, а укрупнение разбиения диагностируемых систем на модули позволяет сократить объем запоминаемой информации и аппаратурные затраты.Формула из обретения 1270 1, Устройство для обработки диагностических сигналов, содержащее блок синхронизации, блок формирования адреса эталонных признаков, блок памяти эталонных признаков, блок памяти тестов, .блок счетчиков приближений, блок индикации, причем вход запуска блока синхронизации является 10 входом запуска устройства, первый выход блока синхронизации соединен с входом синхронизации блока формирования адреса эталонных признаков, группа информационных выходов которого соединена с адресными входами блока памяти эталонных признаков, второй выход блока синхронизации соединен с входом синхронизации блока памяти тестов информационные выходы 20 которого соединены с информационными входами диагностируемой системы, информационные выходы блока счетчиков приближений соединены с группой информационных входов блока индика ции, выход конца контроля блока формирования адреса эталонных признаков соединен с управляющим входом блока индикации, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью уменьшения объема используемой памяти и расширения функциональных возможноетей эа счет одновременной обработки нескольких выходных сигналов диагностируемой системы, устройство содержит блок памяти активизируемых модулей и блок вьщеления признака неисправности, причем третий выход блока синхронизации соединен с разрешающим входом блока вьделения признака неисправности, первая и вторая группы информационных входов блока вьщеления признака неисправности соединены с информационными выходами соответственно диагностируемой систеьпя и блока памяти эталонных признаков, вы 761 аход блока выделения признака неисправности соединен с информационнымвходом блока памяти активизируемыхмодулей, адресные входы которого со.единены с группой информационных выходов блока формирования адреса эталонных признаков, информационныевыходы блока памяти активизируемыхмодулей соединены с информационнымивходами блока счетчиков приближений. 2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что блок выделения признака неисправности содержит и узлов вьщеления признака неисправности, где и - число выходовдиагностируемой системы, элемент ИЛИи элемент И, каждый -й узел выделения признака неисправности (=1-п)содержит элемент задержки, элементсложения по модулю два с инверсией иэлемент И, причем вход -го элементазадержки подключен к з.-му входу первой группы информационных входовблока .вьщеления признака неисправности, выход .-го элемента задержкисоединен с первым входом .-го элемента сложения по модулю два, инверсный выход которого соединен с первымвходом х-го элемента И, второй входкоторого подключен к х-му входу второй группы информационных входов блока вьщеления признака неисправности,-й вход первой группы информационных входов блока выделения признаканеисправности подключен к второмувходу -го элемента сложения помодулю два вьходы с первого по и-йэлементов И соединены с входами элемента ИЛИ, выход которого соединенс первым входом элемента И, второйвход которого подключен к входуразрешения блока выделения признаканеисправности, выход элемента И является выходом блока выделения признака неисправности.,1270761 6 локЕ д Ьок Редактор Ю. Середа Л. Пилипенко Заказ 6244/5 Подпис ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открьггий113035, Москва Ж, Раушская наб., д, 4/ венно-полигваФическ рои Ыз сииу ции 8 Составитель Д,ВанюхинТехред Л. Сердюкова адприятие, г. Ужгород, ул. Проектная,