H01J 49/10 — источники ионов; ионные пушки

Номер патента: 711935

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Бакулина, Блашенков, Ионов, Лаврентьев, Шустров

МПК: H01J 49/10

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра, полевой

...напряжение(в данной точке ) фиксированы, изменение потенциала фокусирующего электрода можно рассматривать как одно временное изменение отношения потен-циалов в двух последовательно рас-положенных иммерсионных линзах, что,в некоторых случаях, может привестик недофокуснровке ионного изображе. - .ния.эмиттера на выходной щели источ,ника и, таким образом, уменьшитьчувствительность источника,Целью настоящего изобретения является повыпение чувствительностипрн максимальном ускоряющем напряжении н точности настройки источникаво всем диапазоне изменения ускоряющего напряжения.Поставленная,цель достигается тем,что в качестве фокусирующей системыиспользуется фипьтрующая линза сУстройство работает следующим образом, ионное иэображение эмиттера,...

Номер патента: 1444904

Опубликовано: 15.12.1988

Авторы: Богомолов, Третьяков

МПК: H01J 49/10

Метки: зарядам, ионов, пучка, селектированного

...двигаться по окружности большего радиуса. Если направление поля противоположно направлению движения иона, то ион тормозитсяв слоев и затем совершает следующийвитоК циклоиды, смещаясь в направлении эмиссионного отверстияТаким Образом, дрейф ионов с выбранным отно"шением Л/7:, в сторону эмиссионногоотверстия осуществляется в том слу"чае, если ионы попадают в слой привстречном направлении электрического 40поля, т.е, за время совершения ионом1/2 оборота в магнитном поле электрическое поле должно измениться на период. Это условие выполняется в томслучае, если ион совершает половинуоборота за время, равное периоду изменения электрического поля, т.е,1Т = -- ,Т2 1где Т, - период обращения иона в магнитном полес 1Т " период изменения...

Номер патента: 1396854

Опубликовано: 30.04.1994

Авторы: Аруев, Байдаков, Мамырин, Яколев

МПК: H01J 49/10

Метки: ионов, источник

ИСТОЧНИК ИОНОВ, содержащий узел ионизации и горизонтально фокусирующую систему, включающую последовательно установленные вдоль оптической оси вытягивающий, разрезной отклоняющий и выходной электроды, причем все указанные элементы установлены в межполюсном зазоре магнита, отличающийся тем, что, с целью повышения величины тока за счет фокусировки ионного пучка также и в вертикальной плоскости, вытягивающий электрод выполнен в виде составленного из двух гальванически изолированных частей клина, образующие поверхности которого параллельны противолежащим поверхностям соответственно узла ионизации и последующих электродов, угол между образующими поверхностями клина лежит в интервале 4o

Номер патента: 1045778

Опубликовано: 20.11.1999

Авторы: Гуров, Шеретов

МПК: H01J 27/00, H01J 49/10

Метки: ионов, источник, лазерно-плазменный

1. Лазерно-плазменный источник ионов, содержащий оптический квантовый генератор с модулированной добротностью, систему фокусировки лазерного излучения на поверхности мишени, систему формирования ионного потока из лазерной плазмы, ионно-оптическую систему, ось которой нормальна поверхности мишени, и электрод с селектирующей щелью, расположенной в плоскости фокусировки первого порядка по углу, отличающийся тем, что, с целью снижения дисперсии зарядового состава пучка и фонового излучения, система формирования ионного потока выполнена в виде двух соосных внутреннего и внешнего усеченных конусов, продолжения образующих которых пересекаются в одной точке, лежащей на поверхности мишени, боковые...