Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем

Номер патента: 777603

Авторы: Дубовис, Чернышев

ZIP архив

Текст

(11777603 Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 28,12.78 (21) 2704677/18-25 51) М. Кл зб 01 К 31/26 с присоединением заявкиГосударственный комите СССР ло Ленам изобретений и открытий(23) Приоритет 43) Опубликовано 07,11.80, Бюллетень4 45) Дата опубликования описания 07.11.80 УДК 621,382,3) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВЛИНЕЙНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЪХ МИКРОСХЕМ На чертеже дана предлагаемого устройУстройство для кон нейных интегральных генератор испытующе структурная схематва.роля параметров лимикросхем содержит о сигнала 1, опера Изобретение относится,к электронной технике и может быть использовано для контроля параметров усилителей в интегральном исполнении при их серийномпроизводстве и испытаниях.По основному авт. св,661439 известно устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем, содержащее первый и второй операционные усилители, генератор испытующего сигнала, два резисторных делителя напряжения, резистор, конденсатор, при этом один вход первого операционного усилителя подключен к генератору, другой через конденсатор - к входу испытуемой микросхемы, выход первого усилителя через резисторный делитель соединен с одним входом второго усилителя, другой вход которого через резистор - с генератором 1.Это устройство единовременно формирует тестовые измерительные схемы для измерения коэффициента усиления и входного сопротивления и повышает быстродействие при контроле параметров микросхем.Недостатком известного устройства является дополнительная погрешность измерения, определяемая температурой и временной нестабильностью величины выходного напряжения генератора испытующего сигнала,Цель изобретения - повышение точностиизмерения коэффициента усиления линейных интегральных микросхем.Поставленная цель достигается тем, чтов устройство введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируе мые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя через масштабный усилитель подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а выход через последовательно соединенные первый детек тор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока - к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей, вход второго регулируемого усилителя под ключен к выходу испытуемой линейной интегральной микросхемы, а выход - к входу второго детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напря жения.Формула изобретения Составитель 3. ЧелноковаРедактор М. Стрельникова Техред А. Камышникова Корректор А Галахова Заказ 2418/15 Изд.558 Тираж 1033 ПодписноеНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Типография пр. Сапунова, 2 м=К= СОП 81, тО Ки.мс.=КУвыхм 5опКд,Предлагаемое устройство повышает точность измерения коэффициента усиления линейных интегральных микросхем засчет исключения дополнительной погрешности, 10 определяемой временной и температурной нестабильностью величины выходного напряжения генератора синусоидальных сигналов и единовременно измеряют входное сопротивление микросхем, 15 Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем по авт. св. 20661439, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения коэффициента усиления, в него введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя через масштабный усилитель подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока - к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей, вход второго регулируемого усилителя подключен к выходу испытуемой линейной интегральной микросхемы, а выход - к входу второго детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1, Авторское свидетельство СССР661439, кл. Ст 01 К 31/26, 1977 (прототип).

Смотреть

Заявка

2704677, 28.12.1978

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-7501

ДУБОВИС ВЛАДИМИР МОИСЕЕВИЧ, ЧЕРНЫШЕВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, линейных, микросхем, параметров

Опубликовано: 07.11.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-777603-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-parametrov-linejjnykh-integralnykh-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем</a>

Похожие патенты