Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем

Номер патента: 777604

Авторы: Дубовис, Чернышев

ZIP архив

Текст

":.мафил ОП И САН.М ИЗОБРЕТЕНИЯ пц 777604 Союз Советских Социалистических Республик(23) Приоритет 51) М КлзСх 01 К 31/2 сударственный комите СССР о делам изобретений и открытий(45) Дата опубликования описания 07.11.8(72) Авторы изобретения Дубовис и Ю, Н, Черны явитель) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТР ЛИНЕЙНЫХ ИНТЕГРАЛЪНЪХ МИКРОСХЕМ де Увх вых 2=К выход Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для контроля параметров усилителей в интегральном исполнении при их серийном производстве и испытаниях,По основному авт. св,661439 известно устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем, содержащее первый и второй операционные усилители, генератор испытующего сигнала, два резисторных делителя напряжения, резистор, конденсатор, причем один вход первого операционного усилителя подключен к генератору, другой через конденсатор - к входу испытуемой микросхемы, выход первого усилителя через резисторный делитель соединен с одним входом второго усилителя, другой вход которого через резистор - с генератором 1,Это устройство единовременно формирует тестовые измерительные схемы для измерения коэффициента усиления и входного сопротивления и повышает быстродействие при контроле параметров микросхем.Величины входного сопротивления испытуемой микросхемы определяются по фор- муле г - напряжение генератора;- напряжение на выходе второго операционного усилителя;Л 5 - сопротивление резистора об ратной связи первого операционного усилителя.Недостатком известного устройства является дополнительная погрешность измерения, связанная с температурой и времен ной нестабильностью выходного напряжения генератора испытующего сигнала, неудобством вычисления величины входного сопротивления при величине входного сигнала, некратного 10.5 Цель изобретения - повышение точностиизмерения входного сопротивления линейных интегральных микросхем.Поставленная цель достигается тем, чтов устройство введены первый и второй де текторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя подключен к выходу второго операционного усилителя, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоян ного тока - к объединенным управляющим777604 подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а выход - к входу второго,.5 детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения.На чертеже дана структурная схема предлагаемого устройства. 10Устройство для контроля параметров ли 55 У =Увх 1+11,РХ / 60 65 Входам первого и второго регулируемых усилителей, вход второго регулируемого усилителя через масштабный усилитель нейных интегральных микросхем содержит генератор испытующего сигнала 1, операционные усилители 2 и 3, конденсатор 4, резисторы 5 - 9, первый регулируемый усилитель 10, первый детектор эффективного напряжения 11, схему сравнения 12, источник опорного напряжения 13, усилитель постоянного тока 14, второй регулируемый усилитель 15, масштабный усилитель 16 и второй детектор эффективного напряжения 17.Вход первого регулируемого усилителя 10 подключен к выходу второго операционного усилителя 3, а выход через первый детектор эффективного напряжения 11, схему сравнения 12 и усилитель постоянного тока 14 - к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей, Вход второго регулируемого усилителя 15 через масштабный усилитель 16 подключен к выходу генератора испытующего сигнала 1, а выход - к входу второго детектора эффективного напряжения 17, причем второй вход схемы сравнения 12 соединен с выходом источника опорного напряжения 13.Устройство раоотает следующим образом.При измерении параметров микросхем, например коэффициента усиления и входного сопротивления, выходной сигнал с генератора испытующего сигнала одновременно поступает на неинвертирующий вход операционного усилителя 2 и через резистор 8 на вход операционного усилителя 3. На инвертирующем входе операционного усилителя 2 действует напряжение, равное по величине напряжению генератора испытующего сигнала 1. При этом через конденсатор 4 протекает переменный ток, определяемый величиной входного сопротивления испытуемой микросхемы, и на выходе операционного усилителя 2 действует сигнал где Р 5 - величина сопротивления резистора 5;Рх - величина входного сопротивлениямикросхемы.С выхода операционного усилителя 2 выходной сигнал поступает на делитель на резисторах 6 и 7, подключенный к инвертирующему входу операционного усилителя 3. 15 20 25 30 35 40 45 50 Последний осуществляет алгебраическое сложение сигналов, т. с. выходное напря. жение равно У У 1 + Л 5У Лв 1 Х l 8где Увх - ВЕЛИЧИНа ВЫХОДНОГО Напряжения генератора; Л 5, Р 8 и Р 9 - сопротивление резисторов 5,8 и 9. Выбрав Я 8 -- Я 9, получим 15 Увыхз -вх хХВыходной сигнал с операционного усилителя 3 поступает на вход первого регулируемого усилителя 10 и равен,1ВХ 10 ф ВЫХЗВХЛ 5 фХ Далее выходной сигнал усилителя 10 детектируется первым детектором эффективного напряжения 11, сравнивается схемой сравнения 12 с величиной выходного напряжения источника опорного напряжения 13, полученный сигнал рассогласования усиливается усилителем постоянного тока 14 и подается на управляющий вход регулируемого усилителя 10. Величина выходного напряжения последнего равна величине напряжения источника опорного напряжения 13, Коэффициент усиления регулируемого усилителя равенЦ,ыи,ы, и,Квыхз выхз Цвх где 1.1 вп - выходное напряжение источникаопорного напряжения,Кд 1 - коэффициент передачи детектора эффективного напряжения 11.На вход второго регулируемого усилителя 15 с генератора 1 поступает выходнойсигнал, величина которого масштабируетсяусилителем 16 и равнаУВХ= ВХ К,где Кы - коэффициент передачи масштабного усилителя 16,Выходное напряжение усилителя 15 измеряется вторым детектором эффективного напряжения 17. Коэффициент усиления ре. гулируемого усилителя 15 следующий:и,ы, К16 - У К 3 где Кд - коэффициент передачи детектораэффективного напряжения 17.Так как регулируемые усилители 10 и 15 идентичны и согласованы по своим параметрам, то коэффициент К 10 и К,5 усиления усилителей равны при подаче на их входы управляющего напряжения одинако. вого уровня20 оставитель 3. Челнокова Техред А. Камышникова Корректор Л. Орлова актор М. Стрельникова Изд,558ствепного комитет 35, Москва, Жказ 2418/1 бНПО Поиск Госуд1 ипография пр, Сапунова К 10 -15)Уоп Кл, УвыхКл 2Увх Ьз;,Ьхк Увх КмЯУоК К,выхьл 1так какЛбУ К . К ==опз 1 то /к=К Увых10Предлагаемое устройство повышает точность измерения входного сопротивления интегральных микросхем за счет исключения дополнительной погрешности, определяемой временной и температурной песта бильностью величины выходного напряжения генератора испытующих сигналов и единовременно измеряет коэффициент усиления микросхем. Формула изобретения Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем по авт. св.661439, отличающееся тем, что, с 25 целью повышения точности измерения входного сопротивления линейных интегральных микросхем, в него введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя подключен к выходу второго операционного усилителя, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока - к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усплитей, вход второго регулируемого усилителя через масштабньш усилитель подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а его выход - к входу второго детектора эффективного напряжения, второи вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1, Лвторское свидетельство СССР661439, кл, 6 01 К 31/26, 1977 (прототип),Тирани 1033 ПодписноеССР по делам изобретений и открытий аушская наб., д, 4/5

Смотреть

Заявка

2704678, 28.12.1978

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-7501

ДУБОВИС ВЛАДИМИР МОИСЕЕВИЧ, ЧЕРНЫШЕВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, линейных, микросхем, параметров

Опубликовано: 07.11.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-777604-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-parametrov-linejjnykh-integralnykh-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем</a>

Похожие патенты