Способ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях

СОЮЗ СОВЕТСКИХпппппаппппппРЕСПУБЛИК А Н) о я гз/го ЫЙ КОМИТЕТ СССР ЗОБРЕТЕНИЙ ИОТКРЫТИЙ(7) Запороаский индустриальный институт и Особое конструкторское бюрокабельной промьаленности(56) Авторское свидетельство СССРВ 647521, кл. С 01 В 15/00, 1975,Авторское свидетельство СССРВ 859810, кл. С О В 15/00, 1979,Миркин Л.И. Рентгеноструктурныйанализ. Справочное. руководство. М.;Наука, 1976, с, 715.,(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ, КАЧЕСТВА ПОКРЫТИЯ НА ДЛИННОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЯХ(57) Изобретение относится к области .физического материаловедения, в частности к средствам контроля качествадлинномерных изделий, например проволоки и ленты. Цель изобретения - повыщение производительности непрерывного контроля в ходе технологическогопроцесса. Сущность спобоба состоит в Мищенко, евский ОПИСАНИЕ К АВТОРСКОМУ С том, что известный способ рентгенографического контроля структурного состояния материала через размеры блоков и микроискакения дополнен измерением разности термоЭДС изделия в ходе технологического процесса и этанола. Для осуществления способа вначале устанавливают на серии эталонов из изделий, удовлетворяющих требованиям качества, взаимосвязь термоЭДС с размерами блоков и микроискакениями в материале. Затем, используя наиболее представительный эталон, находят разность термоЭДС этого эталона и контрольного образца, взятого из иэделия до начала его технологической обработки. Последующий контроль за техпроцессом и его корректировку осуществляют по изменению разности тер- моЭДС контрольного образца и изделия с учетом ранее найденной зависимости мелщу термоЭДС и размером блоков и микроискакениями. В качестве примера осуществления способа производили контроль за термической обработкой никелированной мерной проволоки.нл., 1 табл.РазностьтермоЭДС,мВ Температура отжига, К Размер блоков 10 , смб 293 3,5 473 5,5 2,0 573 3,6 7,3 623 5,6 9,1 673 6,5 10;О 723 7,6 10,8 773 10,0 13,0 Изобретение относится к фиэическому материаловедению, в частности, ;к средствам контроля качества длинно- мерных изделий, например, проволоки и ленты.Цель изобретения - повышение производительности непрерывного контроля в ходе технологического процесса.На чертеже представлено изменение О термоЭДС в зависимости от размера блоков в материале покрытия.Способ осуществляется следующим обраэсе.Иэ изделий, удовлетворяющих тре бованиям качества, изготавливают серию эталонов, которые подвергают рентгенографированию на предмет определения размеров блоков и микро- искажений. Затем на этих же эталонах 20измеряют термоЭДС, устанавливая ее взаимосвязь с размером блоков и микроискажений в материале покрытия (см. чертеж) из иэделия до его использования в технологическом процессе изготавливают контрольный образец и измеряют разность термоЭДС его покрытия и покрытия одного из эталонных образцов. После этого производят непрерывное измерение разности термоЭДС 30 между покрытием иэделия в ходе технологического процесса и покрытием кон-" трольного образца и/или эталона. Установленные взаимосвязи размеров блоков и микроискажений на эталонных образцах с термоЭДС позволяет контролировать динамику изменения этих параметров, определяющих качество покры" тия в допустимых пределах.Измерение разности термоЭДС этало на и контрольного образца устанавливает начальное состояние покрытия изделия, а последующее изменение разности термоЭДС покрытия изделия и контрольного образца показывает ход 45 технологического процесса и необходимость его корректировки.Пример осуществления способа.Предлагаемый способ контроля качества покрытия реализуется при конт роле медной никелированной проволоки ,диаметром 0,26 мм. Никелевое покрытие толщиной 6 мкм наносят в сульфатном электролите Уоттса по промышленной технологии. Образцы проволоки длиной 55 10 м отжигают в вакууме 10 Па при перемещении их через печь с темпераотурой от 473 до 773 К. Время отжига - О с. Съемку рентгеновских дифракционных линий проводят на дифрактометре типа ДРОПУМ в излучении медного анода. Размер блоков и микронапряжений определяют ио методу Уоррена-Авербаха, анализируя распределение интенсивностей в интерференционных линиях (111) (222) никеля. В качестве эталона применяют отожженыйникель с беспорядочной ориентировкойкристаллов без эффекта экстинкции.Установлено, что микронапряжения вникелевом покрытии снимаются в процессе отжига при температуре 473 К ивыше; Разупрочнение никеля при температурах выше 473 К проходит за счетроста блоков. Затем измеряют разностьтермоЭДС между образцом после отжигаи образцом без отжига. Измерения разности термоЭДС проводят с целью выделения составляющей термоЭДС, зависящей только от структуры материала. Температура отжига проволоки, размер блоков в покрытии и соответствующие структуре никелевого покрытия значения разности термоЭДС, приведены в таблице, а зависимость разности термоЭДС от размера блоков в никеле после отжига - на чертеже. Из таблицы и чертежа видно, что разность тер- моЭДС растет линейно с ростом блоков в никелевом покрытии. Для контроля качества покрытия намедной никелированной проволоке изме-,ряют разность ее термоЭДС с эталономили контрольным образцом и сравнивают ее со значениями разности термоЭДС, полУченными на эталонных образцах,140.1904 Размер блока 8, 10 оставитель Е. Сндохинехред Л.Олийнык Корректор М. Пож дактор асард Заказ 3470/3 раж 84 писное ВНИИПИ Государствен по делам изобрет113035, Москва, Ж,ого комитета ССС ний и открытийаушская наб, д,4 5 Проектная, 4 роиэводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул Формула изобретенияСпособ контроля качества покрытия на длинномерных изделиях, включающий изготовление эталонных образцов из материала изделия, удовлетворяющего требованиям качества, облучение ихрентгеновским излучением, регистрацию дифракционной картины и определение размеров блоков и микроискажений н 10 материале покрытия, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности непрерывного контроля в ходе технологического процесса, дополнительно на эталонных образцах измеряют термоЭДС, устанавли 10 п"г вают зависимость термоЭДС от размераблоков и величины микроискажений,найденных рентгенографически, измеря-,ют разность термоЭДС между эталоннымобразцом, удовлетворяющим требованиямкачества по размерам блоков и микроискажений, и контрольным образцом изизделия, не подвергавшегося технологической обработке, затем измеряютразность термоЭДС иэделия в ходе тех-,нологического процесса и контрольногообразца, устанавливая качество обработки по соответствию измеренногозначения термоЭДС и найденного дляпары контрольный образец - эталон,