Магнитотелевизионный дефектоскоп

СОЮЗ СОВЕТСНИХссцмвотюснижРЕСПУБЛИК 93 (И) 1093 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИН АВТОБУСНОМУ СВИДЕТЕПЫТВУ 4 ИИЙО ыЫч свидетельство СССР01 К 27/90 1979 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОЧЙРЫТИЙ(71) Уфимский нефтяной институт и Научно-исследовательский институт интроскопии(54)(57) МАГНИТОТЕЛЕВИЗИОВНцй ДЕФЕКТОСКОП, содержащий последовательно соединенные магниточувствительный узел, выполненный в виде матрицы магниточувствительных элементов, амплитудный селектор, видеоконтрольный блок и блок развертки, выходы которого присоединены ко входам магниточувствительного узла и видеоконтрольного блока, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения глубины залегания и размера дефектов, он снабжен сумматором, включенным между выходом амппитудного селектора и входом видеоконтрольного блока, последовательно соединенными блоком селекции части растра, логарифмическим усилителем, умножителем, вычислителем и дефектоотметчиком, подключенными ко второму выходу амплитудного селектора, измерителем ширины ноля дефекта, включенным между выходом блока селекции части растра и вторым входом умножителя, блоком формирования ограничивающей рамки,,включенным между выходом блока селек, ции части растра и вторым, входом сумматора, индикатором и блоком выбора строки, подключенными соответственно к выходам вычислителя и сумматора, причем выход блока селекции части растра соединен с вторым входом вы,числителя, а выход умножителя - стретьим входом сумматора.1 1111Изобретение относится к средствамконтрольно-измерительной техники иможет быть использовано при автоматическом контроле сварных соединенийи структурных свойств ферромагнитныхматериалов,Известен магнитотелевизионный дефектоскоп ИТД-ЗЛП, содержащий ленто-,протяжный механизм с магнитньк преобразователем, усилитель записи, 1 Омасштабно-временной преобразователь,блок строчной развертки записи, блоккадровой развертки, предваритеЛьньтйусилитель считывания, промежуточныйусилитель считывания, видеоконтрольное устройство, синхрогенератор, блокстрочной и кадровой развертки считывания, блок выбора строки, блок питания 11 т 1Недостатки дефектоскопа МТД-ЗЛП -наличие механической системы сканирования и громоздкость конструкциимасштабно-временного преобразователя,что снижает точность контроля дефектов.25Наиболее близким по техническойсущности к изобретению является магнитотелевизионный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенныемагниточувствительный узел, выполненный в виде матрицы магниточувствительных элементов, амплитудный селектор, видеоконтрольный .блок и блокразвертки, выходы которого присоединены ко входам магниточувствительногоузла и видеоконтрольного блока 21,Основной недостаток этого дефектоскопа заключается в невозможностиопределения размеров поля от дефектовразличной глубины.Цель изобретения - повышение точности определения глубины залеганияи размера дефектов.Указанная цель достигается тем,что магнитотелевизионный дефектоскоп,содержащий последовательно соединенные магниточувствительный узел, выполненный в виде матрицы магниточувствительных элементов, амплитудный селектор, видеоконтртольный блоки блок развертки, выходы которогоприсоединены ко входам магниточувствительного узла и видеоконтрольногоблока, снабжен сумматором, включенныммежду выходом амплитудного селектораи входом видеоконтрольного блока,последовательно соединенными блокомселекции части растра, логарифмическим усилителем, умножителем, вычисли 093 2телем и дефектоотметчиком, подключенными ко второму выходу амплитудного селектора, измерителем ширины поля дефекта, включенным между выходом блока селекции части растра и вторым входом умножнтеля, блоком формирования ограничивающей рамки, включенным между выходом блока селекции части растра и вторым входом сумматора, индикатором н блоком выбора строки, подключенными соответственно,к выходам вычислителя и сумматора, причем выход блока селекции части растра соединен с вторым входом вычислителя, а выход умножителя - с третьим входом сумматора. На чертеже представлена блок-схема магнитотелевизионного дефектоскопа,Дефектоскоп содержит устанавливаемый на объект 1 контроля магниточувствительный узел 2, выполненный в виде матрицы магниточувствительных элементов (датчиков Холла, магнитодиодов, магниторезисторов, магнитотриодов, микроферритовых колец или др. ), блок 3 развертки, выход которого соединен с управляющими входами магниточувствительного узла 2 и видеоконтрольного блока 4, амплитудный селектор 5, выход которого соединен с. входом блока 6 селекции части растра, а вход - с выходом магниточувствительного узла 2, блок 7 формирования ограничивающей рамки, подключенный к выходу блока 6 селекции части растра, логарифмический усилитель 8 и измеритель 9 ширины потея дефекта, своими входами подключенные к выходу блока 6 селекции части растра, а выходами - ко входам умножителя 10, вычислитель 11, входы которого подключены к выходу блока 6 селекции части растра и умножителя 10, а выходы соединены с индикатором 12 и дефектоотметчиком 13, сумматор 14, выходы которого соединены с входом блока 15 выбора строки и с вторым входом видеоконтрольного блока 4, а входы - соответственно с выходами амплитудного селектора 5, блока 7 формирования ограничивающей рамки и умножителя 10.Дефектоскоп работает следующим образом.Под действием поля объекта 1 контроля создается определенный магнитный рельеф, определяемый формой объекта и наличием в нем дефектов. Этот рельеф воздействует на магнито.Я Ч 1 о ВНИИПИ Заказ 6303/36 Тираж 822 Подписное филиал ШЮ ффПетектф, г.ужгород, ул.Проектная, 4 чувствительный узел 2 и изменяет соответствующим образом сопротивление магниторезнсторов илн ЭДС датчиков Холла, что приводит к образованию электропотенциального рельефа. Блок 5 3 развертки с помощью адресных шин последовательно .подключает соответствующие магниточувствительные злементы матрицы магниточувствительного узла 2 ко входу амплитудного селектора 5, сигнал с выхода которого поступает на вход блока 6 селекции части растра и на первый вход сумматора 14, с выхода сумматора 14 сигнал поступает на видеоконтрольный блок 4 и блок 15 выбора строки. Селектор 6 части растра позволяет выделить дефектный участок изображения магнитного рельефа объекта 1 контроля для дальнейшейобработки информации, содержащейсяв поле рассеяния дефекта, при помощи логарифмического усилителя 8 амплитуды сигнала и измерителя 9 ширины поля дефекта. Площадь селектируемой части растра меняется 25 оператором при помощи ручек управления. Блок 7 формирования ограничивающей рамки, управляемый блоком 6 селекции части растра, формирует видео- . импульсы, соответствующие границе се- ЗО лектируемой части растра, которые в сумматоре 14 смешиваются с видеосигналом, вследствие чего на экране видео- контрольного блока 4 наблюдается рамка, ограничивающая дефектный учас- З 5 ток изображения, Сигналы, поступающие с логарифмического усилителя 8 и из. мерителя ширины поля дефекта, перемножаются в умножителе 10. Сигнал, пропорциональный произведению лога рифма амплитуды на длительность, подается на вход вычислителя 11 и на третий вход сумматора 14. Вычислитель 11 осуществляет операции вычисления абсолютной величины, поля дефекта 45 и глубины залегания дефекта, Результаты вычислений выдаются на цифровой индикатор 12, при превьнпении допустимых значений включается исполнительный механизм - дефектоотметчик 13. 50По желанию оператора на экране видеоконтрольного блока 4 можно на-,блюдать изображение поля дефекта на поверхности объекта 1 или изображение, соответствующее действительной величине дефекта, независимо от глубины его залегания, последнее реализуется при модуляции светового пятна на экране видеоконтрольного блока сигналом, пропорциональным произведению логарифма амплитулы на длительностьБлок 15 выбора строки (может быть промышленным осциллографом) позволяет при необходимости. детально изчить отдельные участки контролируемого объекта и получить количественные характеристики изображения. Измерив логарифм амплитуды сигналаот поля рассеяния дефекта и ширинуполя. рассеяния Дефекта на поверхностиобъекта, можно однозначно определитьполе дефекта независимо от, глубиныего залегания, В то же время, знаявеличину оля дефекта независимо отглубины его залегания и зная, величинуполя дефекта на поверхности объекта,можно по формуле определить глубину залегания дефекта, где Й - поле дефекта независимо отглубины его залегания;Н - поле дефекта, измеренноена поверхности объекта контроля;1 - глубина залегания дефекта,при которой поле Й убываетв 2 раза.Операции вычисления поля дефекта независимо от глубинного залегания и глубины залегания дефекта осуществляет вычислитель 11, выполненный в частном случае на микропроцессоре. Использование магнитотелевизионного дефектоскопа реализует возможность определения глубины залегания дефекта и величины дефекта независимо от глубины его залегания, и тем самым повьппает точность и надежность магнитной дефектоскопии.