Устройство для измерения линейных перемещений при помощи двух дифракционных решеток
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
140588 Класс 42 Ь, 24 СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ одписная группа М 164 Г, Н. Рассудова, В. П. СУСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИ ПРИ ПОМОЩИ ДВУХ ДИ Герасимов ергеев ЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙИОННЫХ РЕШЕТОК Л аявлено 6 мая 1960 г. за Мв 665860/25 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРзобретений ЛЪ 16 за 1961 О вано в Бюллете я наблюденииьшие угловые направлении Известны устройства для измерения линейных перемещений при помощи двух дифракционных решеток. Однако частота следования импульсов в таких устройствах недостаточно велика.В описываемом устройстве для удвоения частоты следования импульсов и повышения контрастности муаровых полос одна из решеток выполнена прозрачной, а другая - отражательной. Благодаря этому контрастность полос не зависит от расстояния между решетками н от параллельности и монохроматичности используемого пучка лучей.На чертеке изображена схема устройства.Устройство для измерения линейных перемещений при помощи двух дифракционных решеток состоит из оптической системы для направления падающего пучка 1 лучей, прозрачной дифракционной решетки 2, связанной с перемещающимся предметом, и неподвижной отракательной решетки 3, Постоянные обеих решеток 2 и 3 одинаковы.При проведении измерений угол падения пучка 1 на прозрачную решетку 2 выбирается таким, чтобы углы между дифрагированными пучками 4 и 6 и соответствующими нормалями 6 и 7 к отражательной решетке 3 были равны, Сосредоточение большей части света, падающего на устройство, в двух пучках 4 и 6 производится путем рационального подбора решеток 2 и 3, концентрирующих свет в узком интервале углов дифракции, В результате интерференции указанных пучков получаются муаровые полосы, которые при относительном смещении решеток 2 и 3 перемещаются в поле зрения на величину, пропорциональную смещению. Период этих полос рассчитывается в зависимости от разности смещения фронтов пучков 4 и 6 и выражается через постоянную решеток 2 и 3.Описываемое устройство позволяет использовать дли измерений источник света, имеющий относительно болразмеры, непрерывно изменять цену муаровой полосы визмеряемого перемещения и повысить точность отсчета.Лоо 140588 Предмет изобретения Устройство для измерения линейных перемещений при помощи двух дифракционных решеток, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью удвоения частоты следования импульсов и получения муаровых полос высокой контрастности, не зависящей от расстояния между решетками, а также от параллельности и монохроматичности используемого пучка лучей, одна из решеток выполнена прозрачной, а вторая - отражктельной. Эксперт - составитель описания В. А. Бродский Редактор А. И, Дышельмаи Техред А. А Кудрявипкая Корректор М. И. КозловаФормат бум. 70(108/, Объем 0,18 изд. л,Тираж 850 Цена 4 копЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытийпри Совете Министров СССРМосква, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6. Подп, к печ 2.Х 1-61 г Зак, 10852 Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 14.
СмотретьЗаявка
665860, 06.05.1960
Герасимов Ф. М, Рассудова Г. Н, Сергеев В. П
МПК / Метки
МПК: G01B 11/00
Метки: двух, дифракционных, линейных, перемещений, помощи, решеток
Опубликовано: 01.01.1961
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-140588-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-linejjnykh-peremeshhenijj-pri-pomoshhi-dvukh-difrakcionnykh-reshetok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения линейных перемещений при помощи двух дифракционных решеток</a>
Предыдущий патент: Фотоэлектрическое устройство для непрерывного контроля размеров движущихся изделий
Следующий патент: Электронное устройство для обработки осциллограмм
Случайный патент: Подвижная опалубка