Способ поиска геологических структур

Номер патента: 265176

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Заморозков, Малахов, Муравьев, Синицын, Юдзон

МПК: H01J 3/00

Метки: исследования, структуры, электронногопучка

...контрольного устройства. Такое совмещение позволяет оперативно менять параметры пучка, визуально подбирая форму пучка и распределение его плотности.Предлагаемый способ отличается тем, что оптическое изображение пучка подают на фотокатод передающей телевизионной трубки, преобразуют в электронно-оптическое изображение, создавая потенциальный рельеф на мишени передающей трубки, из которого сканированием получают на экране видеоконтрольного устройства изображение пучка, а на экране осциллографа, работающего в режимеЗаказ 1601/13 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква К, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 выбора строки, - строчную развертку распределения...

Номер патента: 85111

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Шрайбер

МПК: G01N 1/28, G01N 21/01

Метки: исследования, металлов, микроскопе, микроскопу, например, непрозрачных, оптическому, препаратов, способа, структуры, электронном, этого

...видимому колечку, добиваются совмещения координатных отпечатков с крестом нитей и тем самым совмещают исследуемую структурную составляющую с оптической осью микроскопа.На корпусе объектива микроскопа имеется втулка 7 из оргстекла с отверстием под фронтальной линзой объектива и с плоской торцовой поверхностью. Торец втулки смазывается клеем, и тубус микроскопа осторожно опускается до касания с полистироловой пластинкой, которая приклеивается к втулке и может быть поднята при обратном движении тубуса.Затем на предметное стекло (фиг. 3) кладут объектдиафрагму 8 с отверстием в виде правильного круга диаметром 0,2 - 0,25 мм и центрируют это отверстие по кресту нитей, рассматривая диафрагму через полистироловую пластинку. Края диафрагмы...

Номер патента: 642635

Опубликовано: 15.01.1979

Авторы: Миркин, Татарский, Толкачев

МПК: G01N 21/40

Метки: исследования, структуры, тел, шлифах

...зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементов струк- Ь туры, изменяют разность хода световых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего через указанные зоны, света. 30Способ реализуется следующим образом.Исследуемый шлиф пористого тела помещают на вращающийся предметный столик (типа Федоровского), который также)5 может менять угол наклона относительно оси поляризационного микроскопа (типа Полами) . Столик расположен между двумя четвертьволновыми пластинками, размещенными межцу анализатором и поляризатором, Пластинки20 ориентированы под углом в 90 относительно друг друга .и под углом в 45 О по отношению к поляризатору и анализатору. Просвечивают шлиф лучемп 8 поляризованного по кругу света, такой свет...

Номер патента: 779866

Опубликовано: 15.11.1980

Авторы: Голицын, Скупов

МПК: G01N 23/207

Метки: исследования, монокристаллов, структуры

...ось вращения 17 имеют такжела-монохроматара, эталонного кристалла рентгеновские трубки 2 и 1 1, Эта осьи кристалла-анализатора, прйчем источни О проходит через центры фокусов трубок.ки рентгеновского излучения и держатели Ось 17 является неподвижной, жесткокристаллов-анализаторов спектрометров, связанной с основаниями спектрометров,установленных с возможностью независи- а переход на другие порядки дифракциимьа поворотов вокруг общих осей, держа- осуществляется поворотом рентгеновскихтели кристалла-монохрохматора и исследу источников.емого кристалла первого спектрометра Гониометры кристаллов-анализаторови держатели кристалла-монохроматора и 5 и 14 также имеют общую ось враще-эталонного кристалла второго спектромет- ния 18, багодаря...

Номер патента: 1000868

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Ермолаев, Кваша, Манько, Назаренко, Огданский, Соловьев

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, полимеров, рентгенографического, структуры

...рассеяния (1), можно определить значения Рф, а в предположении и ( Ро)- также и относительные доли неоднородностей различного размера. При наличии упорядоченности в расположении одинаковых неоднородностеи имеет место интерференция волн, рассеяных различными неоднородностями. Интенсивность рассеяния для случаяплотноупакованной системы неоднородностей представляется соотношениемЭ=йп ф(5 Р)Я5 55 п(25 ) (,ф(25 Я) (2)Ч 2 258-4 где Я - объем всех частиц радцуса Й;Ч - объем системы;Фф)- дебаевская функция формы иразмера неоднородностей.Интенсивность рассеяния ( 2) имеет ряд максимумов Юдовича, наблюдающихся при )Р 1 равных 2,5; 5,8; ),1 и т.д, Определив значения 5, прц которых на кривой интенсивности наЯллдабтся максимумы, из...