Способ определения политипных модификаций монокристаллов

Номер патента: 595665

Авторы: Фомин, Шашков, Шумский, Щеголькова

ZIP архив

Текст

.Кл. 23,207 присоединеш,ем заявки Ло ГОСз(ДаРСТВЕННОй КОМИТЕ 1Совета Министров СССРоо делам изобретенийи открытий 23) Приоритс. Щеголькова осударственн тельскии и про(7 Ордена Октясрьской револвцитный институт редкометалличес научно-исследоваз промышленности ЕЯ 1 ЗИ ЕЛ 1(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛИТИПНЪХ МОДИМОНОКРИСЧ АЛ,ЛОВ тш:1 лц иной пол:тип:1 ой мол фика сал,1 а 1,:ложноезатратыЦель 1 ВЛЯО ГСЯ ба,зьип 1 с таткам:1 ь, трудо врем ци изобрет экспрес извест:ого м.толаемкость и ловольц чтооь ОНИ 1 СОСТОИТ В ТОМ, сность способа, пель достцгастся тсз швысить 11 остач злснна ение ( О гд Ре Г:1 ст 1 з ц Р 5 отр Изоозссвис Относитс 51 к Оол асти 1 зентГО- нсструктурного анализа и может быть использовано для раз 5 раковки кристаллов по политипным модификациям в проц ссс их выращивания.В настоягц с время прц производственном и лабораторном изготовлении монокристаллов, которым прису 1 цс явление полцтццизма, существенным является вопрос о получеши необходимой политипной модификации, так как современный уровень технологии нс обеспечивает полного соответствия необходимого и получаемого признака (политипно 11 молифцкацц:), Известен способ разораковки монокзнсталлов по полцтипным модиф;1 кациям, который основан на получении рентгенограмм вращения или качания при съемке на просвет с фоторегистрацией 11. 11 аиболсе олцзким к изобретению техничским решением является дифрактометрический метод определеш 1 я политипных модификаций, который основан на съемке кристалла в монохроматцческом излучении с длиной волны л и записи некоторого углового интервала между двумя (тремя) сильными структурными отражениями типа (ООО и регистрации слабых сврхструктурных отражений, подсчет количества которых дает однозначное решение вопроса о принадлежности монокриЛномер политцпной модцфцкациц, и измеряот интенсивность этого отраже 1 шя, на длине волны г. и интегральную интенсивность, 1;:апримср с помощью амплитудного д:1 фференциального дцскрцзгинатора, и по разлц- чц 1 О в измеренных иптенс:1 вцостях сулят о типе модификацци.Способ реализуют следующим образом.2 о При используемых напряжениях 30 - 40 кв,крохе отражении, вызваш 1 ых характеристическим .1 злучсцем с длиной волныпоявл 5 Отея также отражения. вызваннь 1 с Г Орой Га 1 змо и 1 ой белого излз 1 еци 51 с;1,инон вО(1 ны25;альных 1 Б) полцтцпов он налагаются и рефлексы, вызва;шые ха 1 зактер:1 стичсским и;- 30 лучеШсм, а Лля ромбоэЛрических (й) поли1 о ии(ис) ТИПО 3 - ЯЛТ ЛОПОЛ; ГС(1 ЫС ОТО 2)К(1:5,1,ристяллстяис 2 ГИВ 2 от 1 с 1",ГО Льфс БО,Г 2 :Л 51 отогиси к66 о ---- :.5 нс 11:юг и.сис.(В)ос: 0 1)сск1 и 5 л: 5,1:еи:5ИИ Л 3)." ИЛГС 5 СИ ПИКс СР 0,1" 1 с;1 Ит;ПО..", Иф 1)с кто.)1 стрс, 1,) )11 1,5,1 згусс:1;с - (:и сс )и)илромтлр 11 с)к.)П)1;)с 1 ллть Рс ГГГС;Оно ОЙ Г 1 Оки 3 и 5)синс 8 к, т(к) )3. Режи) р;1( ") (.ИСТС.1 Ь Р. СТ )31.1: Ия,)55 с ИСи( с сггис - 660 и, ОЗффиписи )сир); И 51 -- 1,)О 1( 0.) О, ( О, 2н с) и с;1 ЬсЫ Й и Л 1) Л Г,и С -ри)шяци: -- 0,4, шир ня окя10 13 иИ ИТСГР сЛИн 3) . ЩСЛИ Ия Г 01 П 10)СТ РС: 10,25 ).)1; 2 - - 0,6 ММ, 3 2,1)сУГОЛ уЛЬфя-Брзггя Ы.1 .1) с 3 л ь,1 1 ы и 3 ) и;) еи 15 и н т с 10 и Б:,) ст и и лКя Ы 13 с)10 Т, 1 Л Г 1 И ПОЛИТ.ИЛЙ )10;И(1)КЯЦн1) Г(; )с с с 51 р с:3 1. л сВ с л и ч с ни с и:т(.с: и 5 : л с т:

Смотреть

Заявка

2382953, 12.07.1976

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНЫЙ ИНСТИТУТ РЕДКОМЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ

ФОМИН ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ, ШУМСКИЙ МАРК ГРИГОРЬЕВИЧ, ШАШКОВ ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ, ЩЕГОЛЬКОВА ЛЮДВИГА АНДРЕВЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 23/207

Метки: модификаций, монокристаллов, политипных

Опубликовано: 28.02.1978

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-595665-sposob-opredeleniya-politipnykh-modifikacijj-monokristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения политипных модификаций монокристаллов</a>

Похожие патенты