Способ непрерывной обработки пучка волокон

Номер патента: 545878

Опубликовано: 05.02.1977

Автор: Журавлев

МПК: G01J 3/50

Метки: жидкости, изменения, цвета

...1. Температура стенки камеры измеряется термометром 5 и поддерживается отличной от температуры жидкости. й спосо путем п рез кам света и определения цвеопускания исслеру, находящуюся ротоэлементом, и и контролируемоИзвестен и другота нефтепродуктовдуемого объекта чемежду источникомзамера оптическойго продукта 2.Недостатком этогрязнение линз оптства, реализующегопродуктом, что приприводит к искаженкости, Описанныйблизким к изобретености и достигаемом лотнос го способа является заической системы устрой- этот способ, измеряемым несвоевременной очистке ию показаний цвета жидспособ является наиболее нию по технической сущу результату. Разност камеры на температур жидкости. Е светлый пр ходе будет тем перодитсястеносли черодукт, тблизкои...

Номер патента: 1432861

Опубликовано: 27.02.1996

Авторы: Антипов, Бойко, Мильштейн, Чумак

МПК: B01D 17/02

Метки: двух, жидкостей, несмешивающихся, плотности, разделения, разной

1. СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ДВУХ НЕСМЕШИВАЮЩИХСЯ ЖИДКОСТЕЙ РАЗНОЙ ПЛОТНОСТИ, включающий подачу эмульсии в емкость, последующее выравнивание поля скоростей в поперечном сечении потока эмульсии и отстаивание эмульсии в тонком слое, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности и надежности разделения, перед выравниванием поля скоростей отделяют тяжелую жидкость от легкой до остаточной объемной концентрации тяжелой жидкости не более 0,02 м3/м3 и гидравлической крупности не более 0,1 см/с.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что тяжелую жидкость непрерывно отводят по мере отстаивания в тонком слое.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что в тонком слое осуществляют коалесценцию дисперсной фазы.

Номер патента: 955863

Опубликовано: 30.08.1982

Авторы: Карл-Гейнц, Манфред, Рихард

МПК: C08J 5/18

Метки: пленки

...облучения при следующих словиях:Ускоряющее напряжение,кэВ 500Сила тока Муча,мА 60Скорость транспорта пленки, м/минДоза на поверхности,мрад 16Расстояние между отверстиемСканирующего устройства 60Й поверхностью пленки 17Подвергнутая облучению пленка сшита с одной стороны до толщины 1,1 мм,а остальная толщина 100 мик осталасьнесшитой. Полученную таким образом 65пленку на ее несшитой стороне можно подвергать диффузионной сварке тетрахлорэтиленом; Она может быть использована в качестве уплотнительной пленки.П р и м е р 2, Аналогично примеру 1 из следующей не содержащей наполнителя смеси получают пленку толщиной 1,0 мм, вес.ч:Тройной сополимер этилена, пропилена и диена 100 с бутадиеновым каучукомОкись цинка 5 Стеариновая кислота...

Номер патента: 1575856

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Котелянский, Лузанов, Магомедов

МПК: H01L 39/12, H01L 39/24

Метки: оксидных, пленок, сверхпроводящих

...соотношений плотностей потоков этих компонент.П р и м е р 1. Пленку оксидного материала с высокотемпературной сверхпроводимостью У 1 Ва 2 СизОт-х с температурой Тф структурного фазового перехода в кристал лическую фазу, обладающую высокотемпературной сверхпроводимостью Тф= 1023 К, наносят на подложку из фианита. Для этого откачивают рабочий обаем вакуумной установки электронно-лучевого распыления до 45 предельного вакуума 2 10 Па, нагреваютподложку до температуры 1020 К Тф, включают источник потока ионов кислорода и устанавливают режим его работы, обеспечивающий получение плотности потока 1015 50 ионов см 2 с и энергией 50-150 эВ, направленного в зону осаждения, Включают электронно-лучевые источники распыления, с помощью которых получают...

Номер патента: 1583737

Опубликовано: 07.08.1990

Автор: Трунов

МПК: G01B 11/06

Метки: заданной, пленки, толщины

...модулированным потоком ВеществаОпределяют разность фаэ пучков излучения, отраженного от обоих участков контрольного образца Для этого пучок, отраженный от участка П 1, с помощью светоделителя 5 на" правляют на фотоприемник 10, туда же направляют и пучок, отраженный от. участка П 2, с помощью зеркала 8 через светоделитель 5. При нулевой разности фаз напылениепрекращают, по параметрам осуществленной модуляции определяют показатель преломления пленки и соответствующую этому показателю оптическую толщину пленки. По расчетным формулам определяют коэффициент модулирования принапылении на контрольный образец и подложку. Осуществляют напыление вещества на подложку и контрольный образец,имеющий два участка. С помощью светоделителей 2 и 3 и...