Способ структуроскопии ферромагнитных материалов

Номер патента: 533860

Авторы: Зацепин, Шапоров

ZIP архив

Текст

111) 53386 О ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Совет"кихСоциалистических РеспубликФф(23) Приоритет Государственный комитет Совета Министров СССР ло делам изобретенийи открытий(71) Заявитель Н. Н. Зацепин и Б. Д. ШапоровОтдел физики неразрушающего контр АН Белорусской ССРющему т быть ферро ферроиеся в сполага- электрообразца тавляюо поля териала ретению,поле. опии потериалов так как начению 1 шею рхнос Целью изо достоверпост ных и глубиДля этого янным маги и действител нической сос структуре сл 25 ю тосто нимую гармоудят о Изобретение относится к неразрушаконтролю материалов изделий и можеиспользовано для контроля структурымагнитных материалов,Известны способы структуроскопиимагнитных материалов, заключающтом, что контролируемый образец рают в магнитном поле и в результатеиндуктивного взаимодействия этогос полем выделяют гармоническую сосщую сигнала возбуждения магнитпоги по ее значению судят о качестве ма11, 21.В способе 2, являющемся наиболеким по технической сущности к изобиспользуют вращающееся магнитноеОднако достоверность структуроскверхностных и глубинных слоев маизвестными способами недостаточна,о результатах контроля судят по замплитуды и фазы нечетных гармоник бретения является повь и структуроскопии иове ных слоев материалов. образец подмагничивают итным полем, вяделяют к ьную компоненты четной тавляющей, по которым с оев материала. Распределеннои в заданном объеме индуктивной системой, возбуждаемой переменными токами с соответствующими амплитудно-фазовыми соотношениями, создают вращающее ся магнитное поле. В это поле помещаютконтролируемый ферромагнитный образец.Реакцию электроиндуктивного взаимодействия образца с полем преобразовывают в электрический сигнал посредством магниточувст О вительных элементов, располагаемых в указанном поле, или электроэлементов, включенных в цепь индуктивной системы. Выделяют избирательно-фазочувстительным узлом мнимую и действительную компоненты четной, 15 например второй, гармонической составляющей этого сигнала и по показаниям соответствующих индикаторов судят раздельно о структуре поверхностных и глубинных слоев исследуемого образца материала. ор мул а изобретенияСпособ структуроскопии ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что конролируемый образец располагают во враща.щемся магнитном поле и в результате элекроиндуктивного взаимодействия этого образ ца с полем выделяют гармоническую состав ляющую сигнала возбуждения вращающегося магнитного поля и по ее значению судят о качестве материала, отличающийся те533860 Составитель А. ДуханинРедактор О. Юркова Техред В. Рыбакова Корректор Л, Денискина Заказ 2306/12 Изд. Мо 1733 Тираж 1029 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 что, с целью повышения достоверности структуроскопии поверхностных и глубинных слоев материалов, образец подмагничивают постоянным магнитным полем, выделяют мнимую и действительную компоненты четной гармонической составляющей, по которым судят о структуре слоев материала. Источники информации, принятые ви внимание при экспертизе;1, Лещенко И. Г, Контроль и измерения методом высших гармоник. Томск, 1970. 1 Том ский ЦНТИ),2. Авт. св. М 54 б 45, 6 01 К 27/8 б, 1938 1 прототип).

Смотреть

Заявка

1728377, 24.12.1971

ОТДЕЛ ФИЗИКИ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ АН БЕЛОРУССКОЙ ССР

ЗАЦЕПИН НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, ШАПОРОВ БОРИС ДМИТРИЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/86

Метки: структуроскопии, ферромагнитных

Опубликовано: 30.10.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-533860-sposob-strukturoskopii-ferromagnitnykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ структуроскопии ферромагнитных материалов</a>

Похожие патенты