Способ контроля качества изделий алмаза и алмазоподобных материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик) Заявлено присоедине ) Приорит 90874 (21) 2047407/263/2071827/26-25 м зая оеударсгвеииый СССР по лелвм ивобре и открытий.79,Бю летень 5 ковано 050 Дата о бликования описания 10.02,7 Авторы ЗОбрЕтЕНИя А,А, Семерчан й Ж.Г. Маликов оких давлений АН С 1) Заявител нститут физик(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ ИЗ АЛМАЗА И АЛМАЗОПОДОБНЫХ МАТЕРИАЛОВКонтроль осуществляют путем установки корреляции между какими-либо свойствами иэделия, например стойкостью к истиранию, и указанными характеристиками кристаллитов, по уширению дифракционных линий на рентгенограммах образцов и эталонов.Осуществляют эффективное разделение вкладов и уширение дифракционной линии от микроналряжений и дисперсности блоков путем использования эталона, полученного выделением кристаллитов алмаза или алмазоподобных материалов из изделий, например, с помощью химического удаления связующего вещества.Используют дополнительный эталон, полученный путем обработки исходного порошка алмаза или алмазоподобного материала при тех же температурах и давлениях, которые применяют при изготовлении изделиИ, но без связующего вещества.Способ осуществляют следующим об 10 н 2 25 разом,Одно из которое выб механически рушают и пр образцы алм а Изобретение относится к способам контроля качества инструментов и аппаратов высокого давления, изготовленных из синтетических алмазов и алмазоподобных материалов типа карбонада, балласа, кубического нитрида бора, алмазных композиций и др,Известен способ нераэрушающего контроля образцов из синтетическбго алмаза, основанный на визуальном определении количества включений, оказывающих отрицательное влияние на прочность образцов.Однако при таком способе субъективна оценка количества включений, его невозможно применять для образцов из материала, непрозрачного для видимого света, а кроме того, он ха рактеризуется продолжительностью ко троля.Цель изобретения заключается в том, чтобы разработать экспрессный и надежный способ контроля изделий из алмаза и алмазоподобных материалов.Предлагаемый способ контроля осно ван на зависимости качества изделия от характеристик кристаллитов алмаз или алмазоподобных материалов в изделии, таких как величина микронапря жений кристаллитов и их размеры. онтролируемых иэделий, рают в качестве эталона,или химическим путем развращают в порошок. Так, зно-металлических компо
СмотретьЗаявка
2047407, 09.08.1974
ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ВЫСОКИХ ДАВЛЕНИЙ АН СССР
СЕМЕРЧАН А. А, МАЛИКОВА Ж. Г
МПК / Метки
МПК: G01N 23/20
Метки: алмаза, алмазоподобных, качества
Опубликовано: 05.02.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-498889-sposob-kontrolya-kachestva-izdelijj-almaza-i-almazopodobnykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества изделий алмаза и алмазоподобных материалов</a>
Предыдущий патент: Электролизер с насыпным электродом
Следующий патент: Устройство для эпитаксиального наращивания полупроводниковых материалов
Случайный патент: Траверса