Бесконтактный способ измерения электрофизических параметров полупроводниковых двухслойных структур

Номер патента: 1272205

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Зарембо, Карпачев

МПК: G01N 27/82

Метки: величины, внутреннего, кристаллов, магнитного, магнитоупорядоченных, неоднородности, поля, структуры

...точностью до ЛН. Изменение амплитуды прошедшего импульса А - А(НЦ. аН ь 2, где А, амплитуда вдали от резонанса, А(Н) амплитуда при данном значении поля. Если Р(2) - функция распределения внутреннего поля в направлении распространенна звука, то у(Н) 1 1 А, -А1 с 1 = 2(Н). Обратная функция 2 (Н) дает одномерное распределение внутреннего поля в направлении распространения звука. Таким образом, способ заключается в определении с помощью акустической волны и линейно меняющегося магнитного поля спектра магнитоакустического резонатора (зависимости амплитуды прошедшего импульса от внешнего поля А(Н), интегрировании этого спектра и определении обратной функции, представляющей собой распределение внутреннего поля на половине длины кристалла....

Номер патента: 1370537

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Зарембо, Карпачев

МПК: G01N 27/82

Метки: величины, внутреннего, кристаллов, магнитного, магнитоупорядоченных, неоднородности, поля, структуры

...для электронов,35 50 спины начинают прецессировать резонансным образом. Это резонансное условие соответствует условию отклонения вектора внутреннего магнитного поля относительно вектора внешнего поля на угол ., величина которогоудовлетворяет условию я 1 п- НрЭта величина, особенно в условиях низкочастотного магнитоакустического резонанса, мала, и векторы Й, и О, с хорошей степенью точности можно считать коллинеарными, а с точностью. до малого резонансного поля "/ - равными по величине. Резонансная прецессия спинов вызывает увеличение поглощения звука в этой области и, следовательно, уменьшение амплитуды звука, прошедшего через образец. Размер резонансной области В 2 определяется постоянством полного поля в этой области с точностью до...

Номер патента: 1101088

Опубликовано: 28.02.1985

Авторы: Гусев, Лысенко, Турчаников

МПК: H01L 21/66

Метки: глубоких, параметров, поверхностно-барьерных, структурах, уровней

...выполненный на базе дифференциального интегратора и устройства выборки и хранения, устройство дополнительно содержит цифроаналоговый преобразователь, соединенный с двухкоординатным самописцем и стробоскопическим интегратором, который дополнительно содержит блок управления, а блок регулировки температуры и источник импульсного смещения соединены со стробоскопическим интегратором. Блок управления стробоскопического инте. - гратора дополнительно содержит схему И, вычитающий и суммирующий счетчики,жение выбранного пика разностного релаксационного .сигнала на оси времени, определяют энергетическое поло. жение глубоких уровней по наклону прямой зависимости и 1Т от при построении которой необходимо знать координаты как минимум двух...

Номер патента: 742793

Опубликовано: 25.06.1980

Авторы: Непеин, Самарин, Симонов, Шафиков

МПК: G01N 33/34

Метки: величины, волокнистого, неоднородности, распределения, структуры, удельной, энергии

...зависимости "электросопротивлениедйформация" по точкам электросопротивления, соответствующим необратимой деформации, равной четвертой .части средней длины волокон, определяют электросопротивление образца после деформирования гк , гк 2 а по началу отсчета - гн 1 , Гн 2, 60 По кривым определяют усилие разряда, а усилие разрыва при нулевом расстоянии между зажимами определяют известными способами. Таким образом, по полученным величинам г, 65 ГК 2 ГН гнг, Тр, 2 р раССЧИтЫВаЮтотносительную связанную поверхностьволокон на нижней и верхней сторонах листа бумаги,По достаточному числу параллельных опытов, используя известные статистические зависимости, рассчитываюткоэффициенты вариации относительнойсвязанной поверхности с обеих сторон образца, по...

Номер патента: 798556

Опубликовано: 23.01.1981

Авторы: Лагусева, Мальцева, Мирлас

МПК: G01N 15/08

Метки: структуры, целлюлоз-ного

...и 1 - интенсивность падающегои отраженного света, соответственно. 25 Как показали исследования, оптическая плотность отливки (О) является мерой количества сорбированного красителя и характеризует доступность З) .пористость и внутренюю поверхность .целлюлозы. Данный способ предназначен преимущественно для беленых целлюлозных материалов, поскольку бурыми цвет небеленой целлюлозы искажает рЪ- зультат анализа и в этом случае требуется вводить специальные поправки.П р и м е р. Навеску 1,40 г+0,01 г воздушно-сухой беленой целлюлозы(белизна 90-91 влажность 5) распускаЦеллюлоза, облагороженная8 раствором МАОН при30 Целлюлоза,облагороженна10 раствором МаОН при30 ют в воде при перемешивании. Полученную суспензию сгущают на воронке Бюхнера до...