Способ измерения температуры

Номер патента: 1779933

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Гурвич, Соколовский

МПК: G01C 21/24

Метки: волн, двух, длинах, планетной, разности, рефракции, углов

...ахроматические оптические системы высокого разрешения.Известен способ автономной космической навигации путем измерений разности углов планетной рефракции на двух длинах волн,Однако недостатком существующего способа измерения разности углов планетной рефракции на двух длинах волн является тот факт, что для его реализации требуется ахроматическая оптическая система высокого разрешения, Например, при высоте перигея луча визирования источника 30 км разность углов рефракции для длин волн 0,4 и 0,8 мкм составляет 2" и, следова1179933 Составитель С.СокольскийРедактор И,Савина Техред М.Моргентал Корректор Н.Слободян Заказ 4429 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж,...

Номер патента: 391386

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Брызжев, Мирошниченко, Химченко

МПК: G01B 9/02

Метки: волн, длин, сравнения

...Д, Брызжев, О. Н. Мирошниченко и В, П Изобретение относится к области точных измерений длины волны светового излучения и может быть использовано для изучения стабильности излучения монохроматических источников света, метрологического сравнения длин волн монохроматических излучений.Известные устройства измерения длины волны света с помощью перемещающегося зеркала интерферометра, которое установлено на движущуюся каретку, обладают недостаточной точностью ввиду косвенного сравнения измеряемой длины, волны с эталонной через промежуточную шкалу.Цель изобретения - повышение точности измерения.Это достигается применением предлагаемого устройспва, особенностью которого является непосредственное автоматическое компарирование измеряемой...

Номер патента: 556688

Опубликовано: 15.05.1979

Автор: Белова

МПК: H01S 3/10

Метки: внутренней, излучения, интенсивности, лазер, модуляцией, ультразвуковой

...система электродов 9, обРазующая совместно с пьезоэлектрической подложкой 8 преобразователь.,:.Упругих поверхностных волн. Система электродов 9 соединена с высокочастотным генератором 10, Ла другом краеповерхности подложки за отражающимпокрытием 3 находится поглотитель 11,обеспечивающий режим бегущей волныпутем поглощения падающей на поглотитель 11 упругой поверхностной волныУстройствоработает следующим образом. Активный элемент 1 создает в оптическом резонаторе, образованном зер6688 6пульсе (пичке) с частотой упругойповерхностной волны,Известно несколько типов ультразвуковых преобразователей, с помощьюкоторых можно возбудить на свободнойповерхности подложки 8 с отражающимпокрытием ультразвуковую поверхностную волну. Выбор...

Номер патента: 824732

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Грановский, Погожев, Рукман, Шелемин

МПК: G01J 5/58

Метки: излучения, интенсивности, пространственного, распределения, регистрации

...4, оптическую формирующую систему 5, источник излучения(зондирующего) видимого диапазона 6, поляризатор 7, изображение 8 объекта, тонкую магнитную пленку 9 с цилиндрическими магнитными доменами, пермаллоевыеаппликации 10 и устройство для созданияполя смещения Н 11.Устройство для реализации данного способа работает следующим образом,В тонкой магнитной пленке 9 (магнитном диэлектрике типа ферритов либо гранатов) генерируются цилиндрические магнитные домены (ЦМД) с помощью генератора доменов 1,Затем с помощью псрмаллоевой аппликации 10 создается вращающееся магнитное поле и производится равномерное распределение (продвижение) ЦМД по поверхности пленки 9. Система считывания информации о положении ЦМД по поверхности пленки 9 состоит,...

Номер патента: 1441890

Опубликовано: 15.10.1993

Авторы: Голиков, Григорьев, Гурари

МПК: G01J 3/26

Метки: волны, длины, излучения, лазера, эталон

...теми же алгоритмами, чта и в прототипе, Однако погрешность в данном случае определяется шириной пика зависимости мощности генерации от длины волны,Существенным преимуществам предложенного эталона является большая точность определения длины волны лазера. Увеличение точности есть следс.вие тога факта, чта упомянутая спектральная ширина пика генерации есть величина, значительно меньшая, чем ширина пика аппаратной функции интерфераметра Фабри-Перо, Поэтому центр пика определяется в предложенном эталоне гораздо точнее, чем в прототипе, и расстояниеявляется целым кратным полудлинам волн/,/2 и Ь /2 с погрешностью, на 2 - 3 порядка меньшвй, чем в известном устройстве, Так как погрешность 1,1, как следует из приведенной формулы, определяется...