337661

ОПИСАНИЕ 33766 Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства3 а явлено 08.Х 11.1970 (Лв 1600879/26-25)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 05.7.1972. Бюллетень М 15Дата опубликования описания 29 Л".1972 М, Кл. С 01 3/28 Комитет по деизм изобретений и открытий при Совете Министров СССРБИБЙИ"-ф Авторизобретения Заявитель В. И. Скоморовский Сибирский институт земного магнетизма, ионосферы и распространения радиоволн Сибирского отделения АН СССРУСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СДВИГА СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙИзвестны модуляторы, содержащие поляризаторы, электрооптичеокий кристалл, четверть- волновую пластину, устанавливаемые перед входной щелью спектрографа и прииеняемые, например для измерения допплеровского сдвига спектральных линий объектов, движущимся на Солнце, Сдвиг спектральных линий при этом измеряют по разности яркостей крыльев линии, которые поочередно пролускают модулятором,в приемные щели фотоэлектрическаго устройства,Однако из-за смещения линии, вызванного, например вибрацией спектрографа или,преломлением лучей на тепловых неоднородностях воздуха, внутри спектрографа появляется ложный сигнал сдвига слектральной линии,Предлагаемое устройство обеспечивает независимость измерения от ложных сдвигов спектральной линии и повышение точности измерений за счет установки кристаллических элементов, создающих в фокальной плоскости опектроорафа канавчатый спектр, сканируемый вдоль дисперсии относительно измеряемой линии. Устройство устанавливают перед входной щелью или вблизи фокальной плоскости спектрографа,На чертеже,приведена схема предлагаемого устройства птри его взаимодействии со спектрографом и фотоэлектрическим регистратором,Устройство состоит из входного поляризатора 1, четвертьволновой пластины 2, пластины одноосного кристалла 3, вырезанной параллельно оптической оси, электрооптическо 5 го кристалла 4, вырезанного перпендикулярно оптичеокой оси, и выходного,поляризатора 5,На чертеже нижние индексы показываютвзаимное положение поляризаторов 1, 5 и10 кристаллических элементов 2, 3, 4. Для электросхптического,кристалла указаны положенияплоскостей, содержащих индуцирсхванные оптические оси,в,присутствии переменного электрического поля.15 Плоскость, содержащая индуцированныеоси электрооптического кристалла 4, параллельна или перпендикулярна главной плоскости кристалла 3 в зависимости от значка приложенного напряжения. Главная плоскость20 кристалла 3 ориентирована под углом 45 кплоскости пропускания выходного поляризатора 5,Свет от исследуемого источника, напримерСолнца, проходит через устройство и попа 25 дает на входную щель б спектрографа 7.В фекальной плоскости спектрографа установлена щель 8 в которую апроваливаетсяучасток апектра, содержащий измеряемуюлинию. Свет, пропущенный щелью 8, попадаетв фотоэлектрический приемничек 9. Сигнал сприемника подается на регистратор 10,25 30 35 40 Составите В. Зв урилк Корректор Т, Китаева Тех едактор А. Баты Изд.626 Тираж 4делам изобретений и открытий при СМосква, Ж, Раушскаи наб., д, 4 у 59 8 Подиисно вете Министров ССС аказ 1417,121 НИИПИ Комитета погрэфи 51, 11 р. Са 11 уно Благодаря кристаллу Л в фокальнои плоскости апектрографа создается канавчатый спектр, наложенный на спектр исследуемото источника света. Толщина кристалла 3 такова, что ширина полос 1 канавчато 1 го с 1 пектрд сравнима или;в несколько раз больше ширины измеряемой линии,Полоса канавчатого опектра может быть под 1 ведена, ня 1 пример минимумом или средней: частью к измеряемой спектральной ли.;ии поворотом входного поляризатора 1, который совместно с четвертьволновой пластинкой 2 образует фазовый регулятор сдвига полос.Пол дейст 1 вием переменного электрического поля в кристалле 4 созс 1 ается раззность хода +л/4. В результате этого 1 полосы канавчатого с 1 пектра совершают колебательные движения,вдоль диоперсии на .величину, равную половине ширины полосы, пересекая при колебаниях измеряемую спектральную линию.Если:колебание 1 полосы совершается от минимума до мя 1 ксимчмя пропускяния и Оорятпо относительно несмещенной спектральРгой линии, то на выходе фотоэлектрического 1 приемника 1 появляется переменный сигнал с одной гармоникой. Прн смещении линии на 1 выходе фотоэле 1 ктрическото приемпикд,появляется вторая гармоника.Сдвиг спектральной линии, вызванный внутри опектрографа какими-либо причинами, пе при 1 водит к поя 1 влению ложных С 11 гналов, так ка 1 к полосы канавчатого спектра н измеряемая линия сдвинутся вместе без относительного перемещения.При измерении сдвига спектральных линий поглощения, когда имеется фон не 1 прерывного спектра, для избежания модуляции с 1 вета на;выходной щели спектрографа ширина последней делается равной ширине одной полось 1 Рканавчатого Опектра. Измерение сдвига опектральных линий, например при исследовании скоростей движения объе 1 ктов на Солнце по эффекту ДО 1 пплера, 1 проводится следующим образом,В выходную щель 8 вводят измеряемую линию; раофокусируют изображение Солнца для того, чтобы устранить сдвиг линии, вызванный д 1 вижением локальных объектов на Солнце, подают переменное напряжение на электроо 1 птичес 1 кий кристалл и, поворачивая входной поляризатор, ,под 1 водят колеблющие я полосы канавчатого спектра к измеряемой линии та 1 к, чтобы 1 в,сигнале отсутство 1 вала вторая гармоника. Затем фокусируют изображение и калибруют измерения,по сдвигу опектральной линии па восточной и западном краях Солнца, скорости вращения которых известны; приступают к измерениям скоростей движения иР 1 гересуемых объектов на Сол 1 нце,Предлагаемый модулятор может быть применен для измерения зеемановского расщепления линий,при исследовании магнитных полей,Предмет изобретг 1 ни яУстройст 1 во для измерения сдвига опектральных линий, содержащее поляризаторы, эле 1 ктрооптический 1 кристалл, четвертыволновую пластину, 1 приемни 1 к излучения и вторичные приборы, отличаюРиееся тем, что, с целью повышения точности измерений, устройст 1 во содержит вырезанну 1 О параллельно оптической оси кристаллнчеокую пластинку, установленную меж 1 ду четвертьволkовой пластинкой и электроо 1 птичес 1 ким кристаллом,под углом 45 к плоскости 1 про 1 пускания,выходного поляризатора, а плоскости индуцированных о" ей электрооптического кристалла ориентированы 1 параллельно осям кристалличес 1 кой пластины.