191382

Номер патента: 1516761

Опубликовано: 23.10.1989

Автор: Исламов

МПК: G01B 7/28

Метки: виде, вращения, объектов, отклонения, поверхности, тела, формы

...стремятся изменить угловое или линейное положение объекта 3 в отвержденной ферромагнитной жидкости, При этом измеряют величины силового воздействия, вызывающего смещение из начального углового или линейного положения объекта и эталонного образца соответственно. После прекращения воздействия магнитного поля на Ферромагнитную жидкость 2 происходит восстановление ее свойств, благодаря чему возможно извлечение из нее объекта 3 или эталонного образца.Об отклонении формы поверхности Объекта контроля от поверхности идеального тела вращения (эталонного образца) судят по разности величины силового воздействия, вызывающего смещение из начального линейного (или углового) положения этого объекта и эталонного образца, Например, об...

Номер патента: 1039700

Опубликовано: 07.09.1983

Авторы: Аксельруд, Мельник, Панов

МПК: B24B 33/00

Метки: вращения, доводки, поверхностей, станок

...в притир, гдеона центрируется притиром и удерживается магнитным полем электромагнита, что позволяет исключить забои на отсечных кромках прецизионных деталей, например при доводке деталей топливной аппаратуры и гидроаппаратуры.Деталь, являясь якорем электромагнита, катушка которого включается и конце цикла доводки и выклю" чается после зажима очередной де-, тали в плавающем приспособлении, намагничивается перед выводом: ее из притира и выносит на себей шлам, образовавшийся в процессе доводки, что повышает работоспособность абразивных зеренПлавающее приспособление снабжено упором с датчиком положения обрабатываемой детали, связанным с блоками управления катушкой электромагнита, Дополнение плавающего приспособления упором с датчиком...

Номер патента: 1311850

Опубликовано: 23.05.1987

Авторы: Бочков, Гришкевич, Жаровский, Кладов, Колесников, Назаренко, Яковлев

МПК: B23B 1/00

Метки: асферических, вращения, поверхностей

...уменьшает их суммарную погрешность по сравнению с одноплоскостными движениямиФормообразования, что позволяет повысить точность технологической системы,Формула изобретения Способ обработки асФерических поверхностей вращения, при котором обрабатываемому изделий сообщают вращательное движение резания, а инструменту - круговое движение подачи 1 1311 В 50 2Изобретение относится к станкостроению и может быть использованов станках для получения оптическихдеталей с асФерическими поверхностями, в том числе зеркал телескопов.Цель изобретения - повышение точности и качества обработки асферических поверхностей путем уменьшения влияния погрешностей Формообразующих движений и снижения высоты микронеровностей.При реализации известного...

Номер патента: 182365

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Духопел

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вращения, выпуклых, гиперболических, поверхностей, эллиптических

...иммерсионной жидкостью. лаполнение происходит автоматически, если дополнительная линза и кювета жестко связаны между собой. м ет изобрете птических вращения ичаюиий- езаберраптическую дкостью и ют в раТваймана,верхности и картине. Споси гипе любых ся тес ционно деталь дополь бочую провер осущес Данное изобретение относится к измери. тельной технике - контролю асферических поверхностей.Предложен способ контроля выпуклых эл. липтических и гиперболических поверхностей вращения любых относительных отверстий, который позволяет проверять асферически. поверхности без применения специального об ьектива.Проверяемую деталь с помощью иммерси. 10 онной жидкости и дополнтиельной линзы превращают в безаберрационную систему, кото. рую...

Номер патента: 321674

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Аксельрод, Груздева, Зсеоо, Лобачев, Сокольский

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...рядка, Это достиг установлен межд тролирусмой пове стоянии от нее.На чертеже пок ваемого интерферо Интерферометр выполнен по схеме Майкельсона. Его рабочая ветвь образована объективом 1, компенсатором 2 сферической аберрации и контролируемой деталью 3, при чем компенсатор установлен между параксиальным центром кривизны О и контролируемой поверхностью П-го порядка детали на расстоянии от нее, равномДев10 г, Р - радиус кривизны в вершине контро.лируемой поверхности 3;е - эксцентриситет поверхности 3;15 р - постоянный параметр компенсатора2, зависящий от увеличения, с которым он изображает центр кривизны О в точку О, совмещенную с фокусом объектива 1,20 Параллельный пучок света падает наобъектив, собирается в его фокусе О и,пройдя...