Способ определения намагниченности подрешеток эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки

(51)5 С 11 С 11/1 ГОСУДАРСТВЕННЫПО ИЗОБРЕТЕНИЯМПРИ ГКНТ СССР ОМИТЕТТНРЫТИЯМ БР ТЕНИ ЕЛЬСТВ 22 ИЧЕНЙ ДОычис с ислиспольформато тов.упро(21) 4440873/24-24(56) Неорганические материаль1986, Р 9, с. 1530-1533.ЖТФ, т, 54, вып. 7, 1984,1383,(.54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАМАГННОСТИ ПОДРЕШЕТОК ЭПИТАКСИАЛЬНОМЕНОСОДЕРЖАЩЕЙ ФЕРРОМАГНИТНОЙ(57) Изобретение относится клительной технике и может быт Изобретение относится к вытельной технике и может бытьзовано при выборе носителей иции для быстродействующих магтических управляемых транспарЦелью изобретения являетсящение способа.Согласно предлагаемому спо определение намагниченности подрешеток эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки определяют следующим образом: измеряют ширину полосовых доменов в отсутствии магнитного поля в центре и вблизи краев пленки и по измеренным значениям судят о намагниченности подрешеток эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки. Измерение ширины полосовых доменов осуществляют на расстоянии от 20-500 мкм от края пленки. 2пользовано при выборе носителей информации для быстродействующих магнитооптических управляемых транспарантов. Целью изобретения является упрощение способа. Для определения намагниченности подрешеток эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки измеряют ширину полосовых доменов в отсутствии магнитного поля в центре и вблизи краев пленки и по измеренным значениям судят о намагниченности подрешеток пленки, Измерение ширины полосовых доменов осуществляют на расстоянии 20-500 мкм от краев пленки. 1 з.п. ф-лы. Сущность предлагаемого способа состоит в следующем. Обычно в запоминающих устройствах (ЗУ) используются пленки, составы которых не обес печивают компенсацию намагниченности подрешеток, т.е. намагниченность тетраздрической подрешетки больше суммарной намагниченности октаэдрической и додекаэдрической подрешеток, В ЗУ на основе пленок феррит-гранатов с повышенным гидромагнитным отношением и, как следствие, повышенной скоростью доменных стенок наблюдается обратная ситуация, Экспериментально установлено, что на краю эпитаксиальной структуры (на расстоянии 20-500 мкм) имеет место заметное увеличение толщины пленки, что связано с повышенной скоростью эпитаксиального наращивания пленки на таком участке за счет б.пее интенсивного пере1550584 Формула изобретения Составитель В.РозентальРедактор Е.Копча Техред МеХоданич Корректор М е Максимишинец Заказ 277 Тираж 483 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,01 медивания раствора-расплава на. периферии подложки, которая при эпитакси приводится во вращение со скоростью 100-200 об/мин. Увепичение скорости роста пленки феррит-граната всегда сопровождается увеличением коэффициента распределенияРе т/(ГРе т + Са 3 т) ,КРе=р 10Ре ж 7(1 Ре ж + Са 1 ж) р где в квадратных скобках указаны концентрации компонетов Ре и Са в твердой (т) - феррит-гранат и жидкой (я) - раствор-расплав - фазах соотве 1 тственно.; Таким образом, концентрацйя Ре н периферии пленки всегда выше по с авнению с центральной областью. 0 нако в случае, когда намагничен" нссть тетра-подрешетки больше суммар нй намагниченности октаэдрической и додекаэдрической подрешеток, увелчеиие ре 1 т по периферии оаиачае и увеличение суммарной намагниченн сти феррит-граната, а следователь н , и уменьшение периода доменной с руктуры. В обратной ситуации увелич ние Ре" т на периферии приводит к уменьшению величины суммарной н магниченности и увеличению периода 30 доменной структуры.Таким образом, в случае, когдаетс октадор,екс р размер д мейов на периферии больше по сравн нию с размерами домено в центреп 6 енки и наоборот при МтеттаМокта + + Мдоу,ека р т.е. сравнение измеренных периодов позволяет судить о состоянии материала.П р и м е р. Период доменной структуры Рл (ширина полосового домена) измеряли, помещая пленку в поляризационный оптический микроскоп типа МИК. Измерения проводили на расстоянии 20-500 мкм от края пленки. Соответствие пленок условию М тетра ) М окта + МдоАтека проверяли по увеличению скорости движения доменных стенок на установке высокоскоростной фотографии. 1. Способ определения намагниченности подрешеток эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки, основанный на измерении магнитного параметра пленки, о т л и ч а ю" щ и й с я тем, что, с целью упрощения способа, измеряют ширину полосовых доменов в отсутствии магнитного поля в центре и вблизи краев эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки и по измеренным значениям судят о намагниченности подрешеток эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки2. Способ по п. 1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что измерение ширины полосовых доменов осуществляют на расстоянии 20 - 500 мкм,от края эпитаксиальной доменосодержащей ферромагнитной пленки.