Форма для отливки магниевых сплавов

Номер патента: 921865

Опубликовано: 23.04.1982

Авторы: Бочаров, Довгялло, Коляго

МПК: B29C 1/04

Метки: поверхностей, пресс-форм, формующих

...в качестве очищающего агента используют полиуретан, который запрессовывают в прессформу, полностью заполняя формующие полости, а выдержку пресс-формы осуществляют при температуре 160-200 С и давлении 11,9-19,6 МПа, после чего ее охлаждают до температуры 20-120 С,В используемых полиуретановых материалах или их отходах имеются термически неустойчивые химические связи (мочевинные, биуретовые, аллофа 5 о 15 го Д 5 зо 35 40 45 натные и др.), которые при температуре выше 160 С подвергаются обратимой термической диссоциации с образованием химических групп, обладающих высокой полярностью и реакционной способностью. Благодаря распаду связей полиуретан при повышенной температуре и давлении приобретает те" кучесть и плотно прилегает к...

Номер патента: 1065683

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Казак, Чебакова

МПК: G01B 11/25, G02B 27/60

Метки: отклонения, поверхности, сложной, формы

...контроля отклоне 30 ний формы целесообразно использовать в качестве стадии технологического процесса формообразованияасферической поверхности без съемадетали со шпинделя станка. Если же35 при вращении детали 18 луч 20 описывает в обратном ходе окружностивокруг самого себя в прямом ходе,то при помощи юстировочных подвижексистемы 2 можно совместить в прост 40 ранстве оба хода луча 20, напримерпри визуа.льном наблюдении этого совмещения на полупрозрачной поверхности 13. Далее вводится в ход луча,20оптическая система 2, и ось этойсистемы 2 устанавливается сооснооси симметрии детали 18, причем положение соосности контролируетсятакже на указанной полупрозрачнойповерхности 13 по постоянству к:ртины совмещения луча 20 в прямоми обратном ходе,...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...

Номер патента: 306404

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Давыдов

МПК: G01N 23/06

Метки: металле, поверхности, ферми, формы

...количество резонансно рас- ССИ 3 ЯС 1 К КБс 13 ТО 3 . О) 13 ЗЯБИСИМОСТИ О Г ула ниоротл (- угол межлу определенН 11: К)СЛ.ОГРс 1 ф 1 ССКИМ НЯРЛ 3 ЛСНСМ ООРЯЗП, ПСРПСЦИ(У 7 ЯРНЬМ ОСИ СГО ВРЯЦ - ИИЯ, И ПЛПРЯЗЛЕНИСМ ИСПУСК 1 И 51 ЯННИПЛЯЦ - 013 Н 1 К СЯ ИОВ) КРИСТЯ;1 Ля, ТО ПОСЛС 131 С;СИ( ПОП РЯБК И 1 ПОЛ 01 ЦСИИС К 13 с 1 НТОБ 13 ИСТОИИ КС ПОЛс 1 НТ КЛРИНМ Кс 1 С 01 СИНО ПОДООНУ 0 30- Р 1 ЖСИПОИ И;1 фн. 4. ВС 7 ИИН 1 И фОРМ 3 М;1 К- с 31 уз 013 ил э ОЙ кр и 30 Й ЛОГжн пол нОстьО С 00 ГВСС 0 с 1 Ь фоРС ПЫСТ ПОВ НЛ ПОВСР .НО- с 1 и Фс";)и. Пр 03313(,51 ИО,ООП 1(. изм(.р(.ни ПРИ 3 РсЦСПИ 51. КРИСТс 1 Г 1 ЛЛ 1301 СР Г П(СКОЛЬКИ р с 13,7 ИИ(Я. На п р 3 3 Г 1(ПИ й, 10 К НО ИОЛИ Г. прслс 773 ление о токлягни ИОсркиоси Фс - МИ,Г 15,ЛИНОО )С...

Номер патента: 345352

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Щукин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, переносной, поверхности, формы

...стекло в виде сетки в системе прямоугольных координат.Для повышения точности контроля в качестве источника света осветительнои системы применен источник холодного свечения,На контрольном стекле выполнена сетка всистеме прямоугольных координат заданной5 толщины (5 - 7 мк) на основе смол и нитролаков, которая играет роль контактной прокладки и предохраняет стекло от повреждения. На него можно укладывать детали партиями. Смола и нитролаки обеспечивают дли 10 тельную работу, а также при надобности ихможно легко смыть ацетоном или спиртом инанести новые.На фиг. 1 схематично изображен предлагаемый пнтерферометр, общий вид; на фиг. 2 -15 вид сбоку.Интсрферометр содержит корпус 1, диафрагму 2, полупрозрачное плоское зеркало 3,установленное...